转子转速、相位的成像测量方法及系统技术方案

本申请提出一种转子转速、相位的成像测量方法及系统，涉及转子成像测量领域，转子转速的成像测量方法包括：分别获取SPAD阵列在第一帧和第二帧对待测转子的成像数据，待测转子包括至少一个标记，第一帧和第二帧的时间差小于预设阈值；确定第一帧标记在SPAD阵列上的第一成像光斑的位置以及第二帧标记在SPAD阵列上的第二成像光斑的位置，并获取第一成像光斑和第二成像光斑的光斑间距；根据光斑间距、待测转子与SPAD阵列的位置关系以及第一帧与第二帧的时间差，确定待测转子的转速。本申请设置SPAD阵列作为感光成像元件对高速运转的待测转子进行光子计数成像，可以实现超高帧率测量和与之匹配的数据读取速度，准确获知待测转子的转速和相位。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及但不限于转子成像测量领域，尤其涉及一种转子转速、相位的成像测量方法及系统。

技术介绍

1、电机转子的转速控制通常可以通过改变电源电压或电流实现，但是由于电机自身结构限制以及电机所处的环境因素影响，电机转子的实际转速可能不同于预期的控制值。对于一些需要高精度控制转子转速的电机而言，如何确定电机转子的实际转速是一个十分重要的问题。

2、现阶段，一般通过设置工业相机对转子进行成像，通过前后两次成像的转子位置差异以及两次成像的时间差，来实时计算电机转子的转速。其中，帧率和数据处理速度是决定工业相机测量效果的关键，相机的帧率越高，采样成像的速度越快，对高速运动的物体的捕捉成像能力越强；但是，当帧率高到一定程度后，相机的数据读取速度将难以匹配，导致数据读取输出有延迟，也就无法实现良好的测量实时性。

3、因此，目前的工业相机的成像测量方法存在帧率与数据读取输出速度难以兼顾，导致无法实现良好的测量实时性的问题。

技术实现思路

1、有鉴于此，本公开实施例期望提供一种转子转速、相位的成像测量方法本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种转子转速的成像测量方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的转子转速的成像测量方法，其特征在于，所述确定第一帧所述标记在所述SPAD阵列上的第一成像光斑位置以及第二帧所述标记在所述SPAD阵列上的第二成像光斑位置，包括：

3.根据权利要求2所述的转子转速的成像测量方法，其特征在于，所述获取第一成像光斑和第二成像光斑的光斑间距，包括：

4.根据权利要求1所述的转子转速的成像测量方法，其特征在于，所述根据所述光斑间距、所述待测转子与SPAD阵列的位置关系以及所述第一帧与所述第二帧的时间差，确定所述待测转子的转速，包括：</p>

5.一种...

【技术特征摘要】

1.一种转子转速的成像测量方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的转子转速的成像测量方法，其特征在于，所述确定第一帧所述标记在所述spad阵列上的第一成像光斑位置以及第二帧所述标记在所述spad阵列上的第二成像光斑位置，包括：

3.根据权利要求2所述的转子转速的成像测量方法，其特征在于，所述获取第一成像光斑和第二成像光斑的光斑间距，包括：

4.根据权利要求1所述的转子转速的成像测量方法，其特征在于，所述根据所述光斑间距、所述待测转子与spad阵列的位置关系以及所述第一帧与所述第二帧的时间差，确定所述待测转子的转速，包括：

5.一种转子相位的成像测量方法，其特征在于，包括：

6.根据权利要求5所述的转子相位的成像测量方法，所述根据所述标记在所述spad阵列上的第一成像光斑的位置、所述标记在所述spad阵列上的第二成像光斑的位置以及所述待测转子与spad阵列的位置关系，确定所述待测转子的相位，包括：

【专利技术属性】
技术研发人员：张玺，谢正，谢文轩，柏帆，
申请(专利权)人：武汉北极芯微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：

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