劣弧外圆直径测量装置及测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了劣弧外圆直径测量装置，包括基座，基座两侧分别装配有两个滚轮轴承装置，中部装配有数显螺旋测微器，数据处理模块与数显螺旋测微器通信连接。本发明专利技术还公开了劣弧外圆直径测量方法，具体按照以下步骤实施：测量前数显螺旋测微器归零；使用劣弧外圆直径测量装置测量待测外圆，通过数据处理模块计算得到待测外圆直径值，并显示在数据处理模块显示屏上，测量完成。本发明专利技术劣弧外圆直径测量装置，解决了现有技术中存在劣弧外圆直径测量困难、测量精度低的问题，同时也实现了对尺寸跨度大、批量大的其它外圆直径进行直接测量，简化了测量难度，提高了测量精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于测量设备，涉及劣弧外圆直径测量装置，本专利技术还涉及劣弧外圆直径测量方法。

技术介绍

1、在机械加工零件成品检测过程中，常会遇到劣弧外圆直径的测量问题。常规的外圆直径测量方法时两点式测量，两点式测量就是直接测量圆弧直径，而被测零件是劣弧，故两点式测量是行不通的。如果加工工厂此类零件多、外圆尺寸跨度大的话，用手工测量的办法，在圆弧上选定两点测弦长与弓高，通过几何计算的方法，其过程操作性差，测量精度难以保证，工作效率不高。

2、综上所述，现有技术中存在劣弧外圆直径测量困难、测量精度低的问题。

技术实现思路

1、本专利技术的目的是提供劣弧外圆直径直接测量装置，解决了现有技术中存在劣弧外圆直径测量困难、测量精度低的问题。

2、本专利技术的另一目的是提供劣弧外圆直径测量方法。

3、本专利技术所采用的技术方案是：劣弧外圆直径测量装置，包括基座，基座中部连接有数显螺旋测微器，基座两侧分别连接有两个滚轮轴承装置，数显螺旋测微器连接有数据处理模块；数据处理模块与数显螺旋测微器通本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.劣弧外圆直径测量装置，其特征在于，包括基座(1)，所述基座(1)中部连接有数显螺旋测微器(2)，所述基座(1)两侧分别连接有两个滚轮轴承装置(4)，所述数显螺旋测微器(2)连接有数据处理模块(3)；所述数据处理模块(3)与数显螺旋测微器(2)通信连接。

2.根据权利要求1所述的劣弧外圆直径测量装置，其特征在于，所述中心部位及两侧均开孔的基座(1)包括基座中心部位(101)和滚轮孔(102)；所述基座中心部位(101)与数显螺旋测微器(2)固定连接，所述滚轮孔(102)与滚轮轴承装置(4)连接。

3.根据权利要求2所述的劣弧外圆直径测量装置，其特征在于，所述结构...

【技术特征摘要】

1.劣弧外圆直径测量装置，其特征在于，包括基座(1)，所述基座(1)中部连接有数显螺旋测微器(2)，所述基座(1)两侧分别连接有两个滚轮轴承装置(4)，所述数显螺旋测微器(2)连接有数据处理模块(3)；所述数据处理模块(3)与数显螺旋测微器(2)通信连接。

2.根据权利要求1所述的劣弧外圆直径测量装置，其特征在于，所述中心部位及两侧均开孔的基座(1)包括基座中心部位(101)和滚轮孔(102)；所述基座中心部位(101)与数显螺旋测微器(2)固定连接，所述滚轮孔(102)与滚轮轴承装置(4)连接。

3.根据权利要求2所述的劣弧外圆直径测量装置，其特征在于，所述结构同一般数显千分尺的数显螺旋测微器(2)包括棘轮(201)、微分筒(202)、数显螺旋测微器显示屏(203)、归零按钮(204)、止动旋钮(205)、球头测杆(206)和螺纹轴套(207)。

【专利技术属性】
技术研发人员：鬲雪艾，王飞，
申请(专利权)人：中冶陕压重工设备有限公司，
类型：发明
国别省市：