【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及激光测距，尤其涉及一种基于非共轴收发式激光测距系统的光轴标校方法。
技术介绍
1、随着高精度激光测卫、激光测月等需求的增加，激光测距光学望远镜的制造要求也越来越高。目前，激光测距系统包括共轴收发式和非共轴收发式，共轴收发式激光测距系统为发射望远镜和接收望远镜共用一套激光光学系统，其优点是光轴一致性好，其缺点是在进行激光测距时共光路中的激光散射噪声会成为影响测距数据提取的重要因素，而非共轴收发式激光测距系统为发射望远镜和接收望远镜的功能分别在不同的光学系统中得以实现，在空间上即可实现噪声的隔离，但由于激光测距系统的作用距离一般为300km~300000km，因此，发射望远镜和接收望远镜的光轴平行标校精度是激光测距系统的重要指标。现有的激光测距系统的光轴平行标校一般以机械加工精度为基准，并配合激光光束的后向散射进行发射望远镜和接收望远镜的光轴平行标校，且在进行激光测距工作时，往往需要进行大量的偏差修正，如果不经过后期激光光束的调整，很难达到激光测距的指标要求。因此，目前的激光测距系统需要更高的装调精度来保证激光测距系统的收发同
【技术保护点】
1.一种基于非共轴收发式激光测距系统的光轴标校方法，所述非共轴收发式激光测距系统包括激光器、库德光路模块、发射望远镜和接收望远镜，所述激光器发射的脉冲激光依次经所述库德光路模块和所述发射望远镜入射至所述接收望远镜，其特征在于，所述光轴标校方法具体包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的基于非共轴收发式激光测距系统的光轴标校方法，其特征在于，所述步骤S4具体包括如下步骤：
3.根据权利要求2所述的基于非共轴收发式激光测距系统的光轴标校方法，其特征在于，所述步骤S42具体包括如下步骤：
4.根据权利要求1所述的基于非共轴收发式激光测距系...
【技术特征摘要】
1.一种基于非共轴收发式激光测距系统的光轴标校方法，所述非共轴收发式激光测距系统包括激光器、库德光路模块、发射望远镜和接收望远镜，所述激光器发射的脉冲激光依次经所述库德光路模块和所述发射望远镜入射至所述接收望远镜，其特征在于，所述光轴标校方法具体包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的基于非共轴收发式激光测距系统的光轴标校方法，其特征在于，所述步骤s4具体包括如下步骤：
3.根据权利要求2所述的基于非共轴收发式激光测距系统的光轴标校方法，其特征在于，所述步骤s42具体包括如下步骤：
4.根...
【专利技术属性】
技术研发人员：吕天宇，李洪文，赵勇志，姜晰文，周超，吴庆林，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：
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