System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种氧化镓基混合PIN-肖特基二极管及其制备方法技术_技高网

一种氧化镓基混合PIN-肖特基二极管及其制备方法技术

技术编号:41329275 阅读:6 留言:0更新日期:2024-05-13 15:07
本发明专利技术涉及一种氧化镓基混合PIN‑肖特基二极管及其制备方法,属于半导体器件技术领域。该二极管器件包括:作为该二极管器件衬底的N‑buffer区;形成于N‑buffer区下表面的金属阴极区;形成于N‑buffer上表面的N‑drift区;形成于N‑drift区上表面的P+接触区;形成于P+接触区中的第二阳极区,其中第二阳极区作为该二极管器件的肖特基接触阳极;以及形成于P+接触区和第二阳极区上表面的第一阳极区,其中第一阳极区作为该二极管器件的欧姆接触阳极。本发明专利技术采用氧化工艺制备P型NiO层,相比于现有技术,本发明专利技术能够避免造成器件导通电阻变大,并使器件具有低导通电阻、低泄漏电流以及高阻断电压的特性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于半导体器件,涉及一种氧化镓基混合pin-肖特基二极管及其制备方法。


技术介绍

1、ga2o3(氧化镓)具有优越的物理特性,如超宽禁带宽度(4.5~4.9ev)、高理论电场强度(8mv/cm)、数倍于gan材料的巴利伽优值(bfom)以及高热稳定性等,优于si、sic和gan材料,已经成为下一代高功率器件的研究热点。目前得益于大尺寸和高质量的ga2o3单晶衬底生长工艺的逐渐成熟,使得ga2o3材料成为研究新一代超宽禁带功率半导体器件的重要材料之一。

2、混合pin-肖特基二极管结合了肖特基接触的低导通压降和pin二极管的高阻断电压,解决了开关特性和反向恢复特性之间的矛盾。相比于肖特基结,具有双极特性的pn结可以充分发挥出ga2o3材料高临界击穿电场、宽禁带、大雪崩增益的特点,但是ga2o3混合pin-肖特基二极管的研制鲜有报道,因为ga2o3材料难以找到激活能小的受主杂质从而形成具有空穴导电的p型层。目前ga2o3材料在工艺制备上没有p型离子注入工艺,所以无法实现p型ga2o3材料的掺杂,只能够通过构建p-n异质结的方式实现双极性器件。通过研究表明,nio材料是目前替代p型ga2o3材料的最佳材料之选,所以制备高质量的nio/β-ga2o3 p-n异质结是提升ga2o3功率二极管性能的关键工作。随着技术的不断发展,市场对大功率、低功耗的功率二极管的需求不断增加,ga2o3因其优秀的材料特性获得了广泛关注。目前nio/β-ga2o3 p-n异质结二极管的制备是材料磁控溅射工艺制备所需要的p型nio层,其厚度在100nm以上,且为了提升击穿电压采用的双层p型层设计使得器件的导通电阻巨幅提升,最终导致器件的性能表现不佳,远没有达到理论上氧化镓半导体的状态,如低导通电阻ron,sp、低泄漏电流、高击穿电压vbr等。


技术实现思路

1、有鉴于此,本专利技术的目的在于提供一种氧化镓基混合pin-肖特基二极管及其制备方法,采用氧化工艺制备ga2o3混合pin-肖特基二极管中的p型nio层,结合肖特基二极管低导通压降和pin二极管高阻断电压的优点,以解决开关特性和反向恢复特性之间的矛盾。

2、为达到上述目的,本专利技术一方面提供一种氧化镓基混合pin-肖特基二极管,其包括:

3、作为该二极管器件衬底的n-buffer区;形成于n-buffer区下表面的金属阴极区;形成于n-buffer上表面的n-drift区;形成于n-drift区上表面的p+接触区;形成于p+接触区中的第二阳极区,其中第二阳极区作为该二极管器件的肖特基接触阳极;以及形成于p+接触区和第二阳极区上表面的第一阳极区,其中第一阳极区作为该二极管器件的欧姆接触阳极。

4、进一步的,p+接触区为采用氧化工艺形成的nio层,其氧化工艺为:在氧气环境以及400℃的高温条件下氧化20min。

5、本专利技术另一方面提供一种氧化镓基混合pin-肖特基二极管的制备方法,该方法包括以下步骤:

6、s1、在高温高纯氮气环境下,在衬底底部淀积金属电极作为该二极管器件的阴极,然后执行快速退火;

7、s2、利用化学气相沉积法在衬底表面生长外延层,并掺入n型杂质;

8、s3、在外延层表面淀积ni金属,然后氧化形成nio;

9、s4、去除nio的部分区域直至露出外延层,然后在nio被去除的区域中淀积金属合金,形成肖特基接触阳极;

10、s5、在nio和肖特基接触阳极表面淀积金属合金,形成欧姆接触阳极。

11、进一步的,步骤s1中,所述高温为400℃的温度。

12、进一步的,步骤s3中,所述氧化形成nio的条件为:在400℃的氧气环境中氧化ni金属20分钟。

13、本专利技术的有益效果在于:本专利技术采用氧化工艺制备ga2o3混合pin-肖特基二极管中的p型nio层,避免了采用磁控溅射工艺制备p型nio时导致器件导通电阻大幅提升得问题,同时结合了肖特基接触的低导通压降和pin二极管的高阻断电压,使得本专利技术提出的二极管器件具有低导通电阻、低泄漏电流以及高阻断电压,解决了开关特性和反向恢复特性之间的矛盾。

14、本专利技术的其他优点、目标和特征在某种程度上将在随后的说明书中进行阐述,并且在某种程度上,基于对下文的考察研究对本领域技术人员而言将是显而易见的,或者可以从本专利技术的实践中得到教导。本专利技术的目标和其他优点可以通过下面的说明书来实现和获得。

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【技术保护点】

1.一种氧化镓基混合PIN-肖特基二极管,其特征在于:其包括:

2.根据权利要求1所述的氧化镓基混合PIN-肖特基二极管,其特征在于:所述P+接触区(3)为采用氧化工艺形成的NiO层。

3.根据权利要求2所述的氧化镓基混合PIN-肖特基二极管,其特征在于:所述氧化工艺为:在氧气环境以及400℃的高温条件下氧化20min。

4.一种氧化镓基混合PIN-肖特基二极管的制备方法,其特征在于:该方法包括以下步骤:

5.根据权利要求4所述的制备方法,其特征在于:步骤S1中,所述高温为400℃的温度。

6.根据权利要求4所述的制备方法,其特征在于:步骤S3中,所述氧化形成NiO的条件为:在400℃的氧气环境中氧化Ni金属20分钟。

【技术特征摘要】

1.一种氧化镓基混合pin-肖特基二极管,其特征在于:其包括:

2.根据权利要求1所述的氧化镓基混合pin-肖特基二极管,其特征在于:所述p+接触区(3)为采用氧化工艺形成的nio层。

3.根据权利要求2所述的氧化镓基混合pin-肖特基二极管,其特征在于:所述氧化工艺为:在氧气环境以及400℃的高温条件下氧化20min...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄义彭祎凡王琦
申请(专利权)人:重庆邮电大学
类型:发明
国别省市:

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