【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种对高压源测试平台温度及损耗的测量方法，具体属于一种小容量高频电压源测试平台温度及损耗测量方法。
技术介绍
1、针对电压源测试平台的温度和损耗测量中，目前已经开发出了多种方法，不过，对于任意一种测量方式，其本质上都是接入测试电容，之后取得电容的高频特性，常用的方法包括电桥法(调整惠更斯电桥中的可变电容，使电路平衡，确定平衡条件确定待测样品大小)、恒压放电法(被测样品充电并达到设定电平后，被测样品放电，测量样品达到设定电平的时间计算被测样品参数)、恒流积分法(通过恒流源对被测电容充电，在规定时间内，测量电容两端的电压值，从而计算出被测样品的大小)、矢量电压-电流法(用已知信号源激励被测电容，通过测量与标准电阻串联的电容两端电压，从而推算出样品的大小)等，在确定了电容的高频特性之后，计算样品在高频电压下的工作损耗，其中，主要采用的计算方法包括经验公式法、有效电阻法、改进参数法和等值法，不过就现有技术而言，对于电容的高频特性测量中，存在的问题是，在小容量高频可调电压源情况下，难以满足高频、大容量电容的工作条件测试要求，另外在工作损耗测量中，也存在如下问题：1.被测样品结构相差较大时，基于经验公式的计算结果也会出现较大偏差；2.在试验电流较小时，谐波损耗系数的计算误差增大，且该方法中对应的测试设备和仪器复杂；3.改进参数法认为损耗大小和电流有关，且计算方法简单，但是不能反映电压和电流的相角变化，这和实测要求不符；4.等值法作为估算方法，其计算方法复杂，且在计算时忽略电源畸变，使得结果偏大，只有在保证畸变率小时，才能保证结
2、另外在电压源测试平台中，温度的变化也会对电压源测试平台的温度造成影响，在当前的电压源测试平台温度测试中，主要采用的方法是接触式测量和分布式光纤温度传感器测量，对于接触式测量，存在的问题为需要进行接触，使得操作过于繁琐，并且不能实时测量待测样品的温度。
技术实现思路
1、为解决现有技术中存在的电压源测试平台的温度测量操作繁琐、不能实时跟踪以及损耗测试中存在的计算结果偏差过大、测试设备和仪器复杂、不能反映电压和电流相角变化以及忽略电源畸变等问题，本专利技术公开了一种小容量高频电压源测试平台温度及损耗测量方法，具体如下：
2、一种小容量高频电压源测试平台温度及损耗测量方法，利用分布式光纤温度传感器测量待测样品的温度，获取所述待测样品上测温点位的温度数值，并建立所述待测样品的温度信息表；
3、利用并联谐振电流放大方法，获取所述小容量高频电压源谐振电流和所述小容量高频电压源的输出电压，计算小容量高频电压测试平台的损耗。
4、可选的，所述采用分布式光纤温度传感器测量待测样品的温度，包括：
5、在待测样品钻孔，在待测样品内穿入光纤，所述光纤经过所述待测样品上的所述测温点位，获取所述待测样品上的所述测温点位温度；
6、所述光纤连接二极管激光器，所述二极管激光器向所述光纤发射测温光信号，并产生后向散射光；
7、所述后向散射光被波长甄别模块接收，并经过光电转换后，由计算机确定所述待测样品上的所述测温点位的温度数值。
8、可选的，所述建立所述待测样品的温度信息表，包括：
9、设置所述分布式温度传感器编号信息，以所述待测样品的编号和位置设置，包括所述待测样品序号、所述待测样品上极板、所述待测样品下极板、所述待测样品外壳；
10、设置所述分布式温度传感器取样时间点，并获取所述取样时间点的所述分布式温度传感器采集的温度，直至所述分布式温度传感器采集的温度维持不变，标记为损耗温度；
11、建立所述分布式温度传感器编号信息、所述分布式温度传感器取样时间点和所述分布式温度传感器采集到温度的对应关系，得到所述温度信息表。
12、可选的，所述由计算机确定所述待测样品上的所述测温点位的温度数值，包括：
13、获取所述待测样品升温过程的温度数值；
14、将所述升温过程的温度数值纳入同一个温度梯度表中，并记录所述待测样品参数、待测样品的所述测温点位位置。
15、可选的，所述利用并联谐振电流放大方法，获取所述小容量高频电压源谐振电流和所述小容量高频电压源的输出电压，包括：
16、调整并联谐振电路中的可变电感数值，并测量所述待测样品的流过电流，直至所述待测样品的流过电流达到最大；
17、计算所述待测样品的电容容量；
18、计算所述小容量高频电压测试平台的损耗。
19、可选的，所述计算所述待测样品电容容量，按照如下方程计算：
20、
21、其中，c为所述待测样品的电容容量；ic为所述流经电流，数值为所述流经电流最大值；f为所述小容量高频电压源的频率；u为所述小容量高频电压源的输出电压。
22、可选的，所述计算所述小容量高频电压测试平台的损耗，按照如下方程计算：
23、
24、其中，i'为所述小容量高频电压源的输出电流；r为所述可调节电阻的阻值；p为所述待测样品的有功损耗。
25、可选的，还包括将所述损耗温度和所述小容量高频电压测试平台的损耗对应关系。
26、本专利技术所达到的有益效果：
27、1、对测量电流进行放大处理，以更好应对小容量高频可调电压源的实际应用情境，尤其是在小电流、高频和大容量电容这三个情境结合在同一个待测样品进行测量的情况下，可以将并联谐振电流放大处理，以适应所有的待测样品。
28、2、通过调整电感，实现能量在电容和电感之间流动，减小了网络无功功率的损耗，另外对于整个电压源测试平台的测试中，可以覆盖所有电流参数存在的自发性变化，且这些参数也都被纳入损耗值的计算公式中，提高了待测样品损耗值的计算精度。
29、3、基于对待测样品的测试结果，进行小容量高频可调电压源的损耗计算，将具体使用的算法和测试系统进行了结合，实现算法和测试方法的深度耦合，确保获得的结果具有更高的精度。
30、4、在温度测量中，采用分布式光纤温度传感器测量方案，实现对电容上下极板以及多个并联电容的同时测量，从而更好确定测量平台的温度变化，实现对温度数值的实时取得，进一步的，可以直观、简洁确定高频电压对待样品造成的损耗。另外，对于温度数值的确认，是直接进行测量取得的，而非基于公式计算得到，从而可以更加直观、简洁且高效反映高频电压带来的损耗问题，并实施检测待测样品各点的发热情况，得到温度梯度，避免仪器损坏。
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1.一种小容量高频电压源测试平台温度及损耗测量方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的小容量高频电压源测试平台温度及损耗测量方法，其特征在于，所述采用分布式光纤温度传感器测量待测样品的温度，包括：
3.根据权利要求1所述的小容量高频电压源测试平台温度及损耗测量方法，其特征在于，所述建立所述待测样品的温度信息表，包括：
4.根据权利要求2所述的小容量高频电压源测试平台温度及损耗测量方法，其特征在于：
5.根据权利要求1所述的小容量高频电压源测试平台温度及损耗测量方法，其特征在于：
6.根据权利要求4所述的小容量高频电压源测试平台温度及损耗测量方法，其特征在于：
7.根据权利要求4所述的小容量高频电压源测试平台温度及损耗测量方法，其特征在于：
8.根据权利要求1或3所述的小容量高频电压源测试平台温度及损耗测量方法，其特征在于：
【技术特征摘要】
1.一种小容量高频电压源测试平台温度及损耗测量方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的小容量高频电压源测试平台温度及损耗测量方法，其特征在于，所述采用分布式光纤温度传感器测量待测样品的温度，包括：
3.根据权利要求1所述的小容量高频电压源测试平台温度及损耗测量方法，其特征在于，所述建立所述待测样品的温度信息表，包括：
4.根据权利要求2所述的小容量高频电压源测试...
【专利技术属性】
技术研发人员：惠世贤，张颖，司成志，钱永亮，王国忠，曾瑞，杜建华，李章勇，梅杰，李德成，郑磊，施航，陆渊，汪昊铭，邱学飞，袁春，许旺，皮俊，韦学亮，杨立浩，张振，
申请(专利权)人：云南电网有限责任公司文山供电局，
类型：发明
国别省市：
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