【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及图像处理，尤其涉及一种图像校正方法、装置、电子设备和可读存储介质。
技术介绍
1、在监控
中，为了避免监控卡口设备的补光强度过高而造成光污染的缺陷，需要控制监控卡口设备工作在较低的补光强度下，并提高监控卡口设备在补光强度下的成像质量，传统技术中一般采用在监控卡口设备中安装感光性、噪声等性能较好但成本较高的图像传感器，以提高监控卡口设备在补光强度下的成像质量。
2、现有技术中，一般采用有效的图像处理算法以及配合成本合理的图像传感器，以代替成本较高的图像传感器，从而达到降本增效的目的，然而，由于补光强度的限制，监控卡口设备在夜间场景下需要运行在高增益下，这就导致基于成本合理的图像传感器在高增益下输出的原始图像得到的最终编码图像的边缘出现暗阴影的问题。
3、因此，如何兼顾提高摄像机在光照强度不足的应用场景下的成像质量以及降低摄像机的成本，是相关领域技术人员亟待解决的技术问题。
技术实现思路
1、本专利技术提供一种图像校正方法、装置、电子设备和可读存储介质，用以解决现有技术中无法兼顾提高摄像机在光照强度不足的应用场景下的成像质量以及降低摄像机的成本的缺陷。
2、本专利技术提供一种图像校正方法，包括：
3、在确定摄像机所处环境的光照强度小于预设值的情况下，获取所述摄像机在快门时间为最小快门时间的情况下采集的第一原始图像数据；
4、基于预先获取到的暗阴影分布形态数据从所述第一原始图像数据中获取第一暗阴影像素数据，所
5、在确定所述各个第一像素点的亮度值中的第一最小亮度值不大于预设的第一标定亮度阈值的情况下，基于所述第一最小亮度值、所述暗阴影分布形态数据和所述第一原始图像数据生成暗阴影校正图像数据；
6、基于所述暗阴影校正图像数据对所述摄像机采集的图像进行暗阴影校正，得到暗阴影校正后的图像。
7、根据本专利技术提供的一种图像校正方法，所述基于所述第一最小亮度值、所述暗阴影分布形态数据和所述第一原始图像数据生成暗阴影校正图像数据，包括：
8、在基于所述暗阴影分布形态数据确定暗阴影在所述摄像机采集的原始图像数据中的第一方向上呈正相关分布形态的情况下，确定所述第一最小亮度值对应的像素区域为所述第一原始图像数据中的最大暗阴影像素区域；
9、基于所述暗阴影分布形态数据和所述第一最小亮度值，生成所述最大暗阴影像素区域对应的最大暗阴影像素数据；
10、基于所述最大暗阴影像素区域和所述第一方向，确定所述第一原始图像数据中的最小暗阴影像素区域；
11、基于所述暗阴影分布形态数据和所述最小暗阴影像素区域对应的像素数据，得到所述最小暗阴影像素区域对应的最小暗阴影像素数据；
12、基于所述最小暗阴影像素数据和所述最大暗阴影像素数据，生成所述第一原始图像数据中的其他像素区域对应的其他暗阴影像素数据；
13、基于所述最大暗阴影像素数据、所述最小暗阴影像素数据和所述其他暗阴影像素数据，确定所述暗阴影校正图像数据。
14、根据本专利技术提供的一种图像校正方法，获取所述暗阴影分布形态数据的步骤具体包括：
15、获取所述摄像机在遮光状态下采集的第二原始图像数据；
16、获取所述第二原始图像数据中各个像素点的亮度值的亮度变化分析结果；
17、基于所述亮度变化分析结果得到所述暗阴影分布形态数据。
18、根据本专利技术提供的一种图像校正方法，确定所述第一标定亮度阈值的步骤具体包括：
19、基于所述暗阴影分布形态数据，从所述摄像机在遮光状态下采集的第三原始图像数据中获取第三暗阴影像素数据；
20、基于所述暗阴影分布形态数据，对所述摄像机在快门时间为最小快门时间的情况下采集的第四原始图像数据中的第四暗阴影像素数据进行多次采样，得到多组第四暗阴影像素数据；
21、分别将各组所述第四暗阴影像素数据与所述第三暗阴影像素数据进行比对，得到比对结果；
22、基于所述比对结果从多组所述第四暗阴影像素数据中确定出满足预设误差条件的目标暗阴影像素数据，并基于所述目标暗阴影像素数据确定所述第一标定亮度阈值。
23、根据本专利技术提供的一种图像校正方法，所述基于所述暗阴影校正图像数据对所述摄像机采集的图像进行暗阴影校正，包括：
24、确定影响所述摄像机输出图像的暗阴影强度的目标影响因子的当前状态值为第一状态值；
25、确定所述暗阴影校正图像数据为所述第一状态值对应的第一暗阴影校正图像数据；
26、基于所述第一暗阴影校正图像数据，对所述摄像机在所述目标影响因子处于第一状态值的情况下采集的图像进行暗阴影校正。
27、根据本专利技术提供的一种图像校正方法，在所述基于所述暗阴影校正图像数据对所述摄像机采集的图像进行暗阴影校正之后，所述方法还包括：
28、在确定所述目标影响因子的当前状态值从所述第一状态值切换至第二状态值的情况下，获取所述第二状态值与所述第一状态值之间的状态差值；
29、在确定所述状态差值小于所述预设状态波动阈值的情况下，获取所述第一状态值对应的第一暗阴影校正系数；
30、基于所述第一暗阴影校正系数和所述第一暗阴影校正图像数据，获取所述第二状态值对应的第二暗阴影校正图像数据；
31、基于所述第二暗阴影校正图像数据，对所述摄像机在所述目标影响因子切换至所述第二状态值的情况下采集的图像进行暗阴影校正。
32、根据本专利技术提供的一种图像校正方法，确定所述预设状态波动阈值的步骤具体包括：
33、确定所述摄像机输出图像的暗阴影强度的目标影响因子，并获取所述目标影响因子与所述暗阴影强度对应的映射关系；
34、分别获取所述摄像机在所述目标影响因子为第一状态值和第二状态值的情况下采集的第一遮光图像数据和第二遮光图像数据；
35、在确定所述第一遮光图像数据和所述第二遮光图像数据均满足所述映射关系的情况下，确定所述第一状态值与所述第二状态值之间的第一状态差值为预设状态波动阈值。
36、根据本专利技术提供的一种图像校正方法，所述获取所述目标影响因子与所述暗阴影强度对应的映射关系，包括：
37、获取暗阴影强度对应的多个影响因子，并获取各个所述影响因子与所述暗阴影强度之间的相关程度，所述影响因子包括所述摄像机的曝光参数和环境参数；
38、在所述影响因子与所述暗阴影强度之间的相关程度大于预设阈值的情况下，将所述影响因子确定为目标影响因子；
39、确定所述暗阴影强度与所述目标影响因子、所述影响因子对应的暗阴影校正系数之间的映射关系。
40、本专利技术还提供一种图像校正装置，包括：
41、原始数据获取模块，用于在确定摄像机所处环境的光照强度小于预设值的情况下，获取所述摄本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种图像校正方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的图像校正方法，其特征在于，所述基于所述第一最小亮度值、所述暗阴影分布形态数据和所述第一原始图像数据生成暗阴影校正图像数据，包括：
3.根据权利要求1所述的图像校正方法，其特征在于，获取所述暗阴影分布形态数据的步骤具体包括：
4.根据权利要求1所述的图像校正方法，其特征在于，确定所述第一标定亮度阈值的步骤具体包括：
5.根据权利要求1-4任一项所述的图像校正方法，其特征在于，所述基于所述暗阴影校正图像数据对所述摄像机采集的图像进行暗阴影校正，包括：
6.根据权利要求5所述的图像校正方法，其特征在于，在所述基于所述暗阴影校正图像数据对所述摄像机采集的图像进行暗阴影校正之后，所述方法还包括：
7.根据权利要求6所述的图像校正方法，其特征在于，确定所述预设状态波动阈值的步骤具体包括：
8.根据权利要求7所述的图像校正方法，其特征在于，所述获取所述目标影响因子与所述暗阴影强度对应的映射关系，包括：
9.一种图像校正装置，其特征在于
10.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至8任一项所述的图像校正方法。
11.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至8任一项所述的图像校正方法。
...【技术特征摘要】
1.一种图像校正方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的图像校正方法，其特征在于，所述基于所述第一最小亮度值、所述暗阴影分布形态数据和所述第一原始图像数据生成暗阴影校正图像数据，包括：
3.根据权利要求1所述的图像校正方法，其特征在于，获取所述暗阴影分布形态数据的步骤具体包括：
4.根据权利要求1所述的图像校正方法，其特征在于，确定所述第一标定亮度阈值的步骤具体包括：
5.根据权利要求1-4任一项所述的图像校正方法，其特征在于，所述基于所述暗阴影校正图像数据对所述摄像机采集的图像进行暗阴影校正，包括：
6.根据权利要求5所述的图像校正方法，其特征在于，在所述基于所述暗阴影校正图像数据对所述摄像机采集...
【专利技术属性】
技术研发人员：许勇，赵笛，徐斌，
申请(专利权)人：浙江宇视科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。