一种基于线性渐变滤光片的快照式单点光谱仪制造技术

技术编号:41318576 阅读:21 留言:0更新日期:2024-05-13 14:59
本申请涉及光谱仪技术的领域,尤其涉及一种基于线性渐变滤光片的快照式单点光谱仪,其包括遮光壳体、漫透射匀光片、透镜组、线性渐变滤光片、线阵探测器和电路板,遮光壳体呈中空设置,遮光壳体的一端中心开设有安装孔,漫透射匀光片连接于安装孔内,线阵探测器和电路板安装于遮光壳体内远离漫透射匀光片的端部,线性渐变滤光片安装于线阵探测器表面,透镜组包括凸透镜和柱透镜,凸透镜和柱透镜沿漫透射匀光片至线性渐变滤光片的方向从左至右依次设置于遮光壳体内,凸透镜和柱透镜的侧壁均贴合于遮光壳体的内壁。本申请具有简便设备结构,提高其抗震能力,便于获得准确光谱,适用于动态目标的光谱测量的作用。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光谱仪技术的领域,尤其是涉及一种基于线性渐变滤光片的快照式单点光谱仪


技术介绍

1、传统光谱仪的分光方式大致可分为色散型、干涉型、滤光片型等三种。

2、色散型光谱仪采用棱镜或光栅进行分光,再经成像系统将按波长分开的光分别聚焦在探测器上进行探测。该方案需要长而复杂的分光光路和一系列高性能的光学元件(光栅、凹面反射镜等),因而体积大、结构复杂,成本高。

3、参照图1,干涉型光谱仪借助干涉仪来测量谱线元的干涉强度,并对干涉图进行傅里叶变换以得到目标光谱图。以常见的迈克尔逊型干涉光谱仪为例,此类光谱仪将迈克尔逊干涉仪两路干涉臂中的一路借助往复运动的动镜进行光程扫描,通过探测器记录其与静止臂干涉后物面像元辐射的时间序列干涉图,再对干涉图进行傅里叶变换便得到相应物面像元辐射的光谱图。此类光谱仪有以下缺点:(1)需要一套高精度的动镜驱动系统,在运动过程中要保持动镜运动的匀速性,并且对扰动和机械扫描精度都很敏感,这就使得光谱仪结构复杂、成本高;(2)由于物面像元的干涉图是时间调制的,所以不能测量光谱迅速发生变化的物面光谱,导致应用领本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于线性渐变滤光片的快照式单点光谱仪,其特征在于:包括遮光壳体(1)、漫透射匀光片(2)、透镜组(3)、线性渐变滤光片(4)、线阵探测器(5)和电路板(6),所述遮光壳体(1)呈中空设置,所述遮光壳体(1)的一端中心开设有安装孔,所述漫透射匀光片(2)连接于安装孔内,所述线阵探测器(5)和电路板(6)安装于遮光壳体(1)内远离漫透射匀光片(2)的端部,所述线性渐变滤光片(4)安装于线阵探测器(5)表面,所述透镜组(3)包括凸透镜(31)和柱透镜(32),所述凸透镜(31)和柱透镜(32)沿漫透射匀光片(2)至线性渐变滤光片(4)的方向从左至右依次设置于遮光壳体(1)内,所述凸透镜...

【技术特征摘要】

1.一种基于线性渐变滤光片的快照式单点光谱仪,其特征在于:包括遮光壳体(1)、漫透射匀光片(2)、透镜组(3)、线性渐变滤光片(4)、线阵探测器(5)和电路板(6),所述遮光壳体(1)呈中空设置,所述遮光壳体(1)的一端中心开设有安装孔,所述漫透射匀光片(2)连接于安装孔内,所述线阵探测器(5)和电路板(6)安装于遮光壳体(1)内远离漫透射匀光片(2)的端部,所述线性渐变滤光片(4)安装于线阵探测器(5)表面,所述透镜组(3)包括凸透镜(31)和柱透镜(32),所述凸透镜(31)和柱透镜(32)沿漫透射匀光片(2)至线性渐变滤光片(4)的方向从左至右依次设置于遮光壳体(1)内,所述凸透镜(31)和柱透镜(32)的侧壁均贴合于遮光壳体(1)的内壁。

2.根据权利要求1所述的一种基于线性渐变滤光片的快照式单点光谱仪,其特征在于:所述遮光壳体(1)内侧可覆盖吸光材料或设置吸光结构。

3.根据权利要求1所述的一种基于线性...

【专利技术属性】
技术研发人员:马宗伟张卓王超张宏宇陆豪季雨辰陈天恩周明好陈兴海
申请(专利权)人:无锡谱视界科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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