【技术实现步骤摘要】
本申请涉及芯片测试领域，特别是涉及一种芯片测试的数据读取方法、测试机、测试系统及计算机可读存储介质。
技术介绍
1、随着信息时代的到来，ic芯片进入高速发展时期。ic芯片完整的产业建立和分工已经形成产业链，设计、生产加工、测试、封装已构成关键节点。如何提高测试质量，提高故障覆盖率及稳定性成为测试技术发展面临的主要课题。
2、现有技术中，测试机利用多个adc采集单元依次读取待测芯片的测试数据，来对待测芯片进行测试，adc采集单元在读取测试数据一次只能读取一个待测通道的测试数据，因此对于测试数据的读取效率较低。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种芯片测试的数据读取方法、测试机、测试系统及计算机可读存储介质。
2、第一方面，本专利技术实施例提出一种芯片测试的数据读取方法，所述测试机包括所述测试机包括多个测试板卡，各所述测试板卡包括多个前端单元，各所述前端单元与多个adc采集单元连接，各所述adc采集单元与多个引脚芯片连接，各所述引脚芯片包括至少一个设置完成的测试通道，所述测试通道用于获取待测芯片的测试数据，所述方法包括：
3、基于各所述测试板卡所对应的各所述引脚芯片的测试通道，生成各所述测试板卡所对应的通道读取列表；所述通道读取列表用于将各所述测试板卡所对应的各所述引脚芯片的测试通道分为多个测试通道组；
4、基于各所述通道读取列表，分别依次遍历各所述测试通道组对各所述测试通道进行配置，以确定各所述测试通道中的待测通道
5、基于各所述通道读取列表中的各所述待测通道，分别生成各所述adc采集单元的数据读取指令，以控制各所述adc采集单元依次并行读取同一测试通道组的待测通道的测试数据。
6、在一实施例中，所述基于各所述测试板卡所对应的各所述引脚芯片的测试通道，生成各所述测试板卡所对应的通道读取列表，包括：
7、将各所述测试板卡所对应的各所述引脚芯片的测试通道进行排序；
8、将同一序位的待测通道分为一测试通道组，生成各所述通道读取列表。
9、在一实施例中，所述依次遍历各所述测试通道组对各所述测试通道进行配置，以确定各所述测试通道中的待测通道，包括：
10、获取配置参数信息，所述配置参数信息包括多个配置参数；
11、基于各所述配置参数对各所述测试通道进行配置，以确定各所述测试通道中的待测通道，并对各所述待测通道所在的引脚芯片进行使能标记及对使能标记的引脚芯片所在的adc采集单元进行标记，直到各所述配置参数对各所述测试板卡所对应的各所述测试通道配置完成。
12、在一实施例中，所述依次遍历各所述测试通道组对各所述测试通道进行配置，以确定各所述测试通道中的待测通道，还包括：
13、遍历各所述测试板卡，判断各所述测试板卡是否有效，若无效，则不对该测试板卡所对应的各所述测试通道进行配置；若有效，则对该测试板卡所对应的各所述测试通道进行配置。
14、在一实施例中，所述对使能标记的引脚芯片所在的adc采集单元进行标记，包括：
15、判断使能标记的引脚芯片所在的adc采集单元是否已经被标记，若是，则不再对adc采集单元进行标记；若否，则对该adc采集单元进行标记。
16、在一实施例中，所述基于各所述通道读取列表中的各所述待测通道，分别生成各所述adc采集单元的数据读取指令，包括：
17、获取各所述通道读取列表中的各所述待测通道所在的引脚芯片及该引脚芯片所在的adc采集单元的标记结果；
18、基于各所述标记结果，分别生成各所述adc采集单元的数据读取指令。
19、在一实施例中，所述方法还包括：
20、判断各所述测试板卡所对应的各所述adc采集单元是否数据读取条件，若是，则控制各所述adc采集单元依次并行读取同一测试通道组的待测通道的测试数据。
21、第二方面，本专利技术实施例提出一种测试机，包括控制器及与所述控制器连接的多个测试板卡，各所述测试板卡包括多个前端单元，各所述前端单元与多个adc采集单元连接，各所述adc采集单元与多个引脚芯片连接，各所述引脚芯片包括至少一个设置完成的测试通道，所述测试通道用于获取待测芯片的测试数据，所述控制器用于执行如第一方面所述的方法。
22、第三方面，本专利技术实施例提出一种测试系统，包括如第二方面所述的测试机以及与所述测试机通信的上位机，所述上位机用于获取所述测试机所读取的测试数据，并生成所述待测芯片的测试结果。
23、第四方面，本专利技术实施例提出一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，实现第一方面所述的方法的步骤。
24、相比于现有技术，本专利技术具备以下专利技术效果：利用通道读取列表将测试通道分为多个测试通道组，根据通道读取列表对测试通道进行配置以确定各测试通道中的待测通道。adc采集单元在读取测试数据时，根据数据读取指令一次可以读取一个测试通道组中的所有待测通道的测试数据，相比于现有技术中adc采集单元一次只能读取一个待测通道的测试数据，大大提高了测试数据的读取效率。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种芯片测试的数据读取方法，应用于测试机，所述测试机包括所述测试机包括多个测试板卡，各所述测试板卡包括多个前端单元，各所述前端单元与多个ADC采集单元连接，各所述ADC采集单元与多个引脚芯片连接，各所述引脚芯片包括至少一个设置完成的测试通道，所述测试通道用于获取待测芯片的测试数据，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于各所述测试板卡所对应的各所述引脚芯片的测试通道，生成各所述测试板卡所对应的通道读取列表，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述依次遍历各所述测试通道组对各所述测试通道进行配置，以确定各所述测试通道中的待测通道，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述依次遍历各所述测试通道组对各所述测试通道进行配置，以确定各所述测试通道中的待测通道，还包括：
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述对使能标记的引脚芯片所在的ADC采集单元进行标记，包括：
6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于各所述通道读取列表中的各所述待测通道，分别
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
8.一种测试机，包括控制器及与所述控制器连接的多个测试板卡，各所述测试板卡包括多个前端单元，各所述前端单元与多个ADC采集单元连接，各所述ADC采集单元与多个引脚芯片连接，各所述引脚芯片包括至少一个设置完成的测试通道，所述测试通道用于获取待测芯片的测试数据，其特征在于，所述控制器用于执行如权利要求1至权利要求7任一项所述的方法。
9.一种测试系统，其特征在于，包括如权利要求8所述的测试机以及与所述测试机通信的上位机，所述上位机用于获取所述测试机所读取的测试数据，并生成所述待测芯片的测试结果。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时，实现权利要求1至权利要求7中任一项所述的方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种芯片测试的数据读取方法，应用于测试机，所述测试机包括所述测试机包括多个测试板卡，各所述测试板卡包括多个前端单元，各所述前端单元与多个adc采集单元连接，各所述adc采集单元与多个引脚芯片连接，各所述引脚芯片包括至少一个设置完成的测试通道，所述测试通道用于获取待测芯片的测试数据，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于各所述测试板卡所对应的各所述引脚芯片的测试通道，生成各所述测试板卡所对应的通道读取列表，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述依次遍历各所述测试通道组对各所述测试通道进行配置，以确定各所述测试通道中的待测通道，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述依次遍历各所述测试通道组对各所述测试通道进行配置，以确定各所述测试通道中的待测通道，还包括：
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述对使能标记的引脚芯片所在的adc采集单元进行标记，包括：
<...【专利技术属性】
技术研发人员：牛功喜，张强，李震，董超，刘圣林，
申请(专利权)人：杭州长川科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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