【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于金属材料测定，具体涉及一种基于x射线荧光光谱法测定yg硬质合金化棒材中钴含量的方法。
技术介绍
1、硬质合金(钨钢)一般具有硬度高、耐磨、强度和韧性较好、耐热、耐腐蚀等一系列优良性能，特别是它的高硬度和耐磨性，即使在500℃的温度下也能够保持性能不变，在1000℃时仍有很高的硬度，因此被广泛应用。yg硬质合金，它是钨钴类硬质合金，主要成分为碳化钨和钴，其牌号结构是“yg+数字”。“yg”是“硬”、“钴”两字的拼音字头，数字表示粘结剂“钴”的质量分数。如yg8，表示含钴8％，yg6表示含钴6％。一般yg硬质合金力学性能洛氏硬度hra不小于80.0、维氏硬度hv不小于1300、抗弯强度不小于1800。yg硬质合金中钴含量在3％～30％。
2、通常对yg硬质合金中钴含量的测定采用gb/t5124.3《硬质合金化学分析方法-钴含量的测定-电位滴定法》。该方法要求试样“必须在不改变样品成分的研钵中，将试样研碎成粉末，粉末应能过0.18mm筛孔”，但是由于yg硬质合金硬度高，需要通过热处理手段将yg硬质合金的硬度降低，然后通过机械加工或研磨方式将试样加工至能够通过0.18mm筛孔的规格。但是热处理过程对设备及技术要求高，一般技术条件下很难实现将yg硬质合金的硬度降低到可以使用机械加工的硬度。
3、gb/t26050《硬质合金x射线荧光测定金属元素含量—熔融法》提出了一种基于x射线荧光光谱法测定yg硬质合金金属元素含量的测定方法，该方法测定时需要先通过机械加工方式对试样进行预处理，然后进行熔融和酸式溶解处
4、因此，亟需提供一种新的可快速准确对yg硬质合金中的钴含量进行测定的方法。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于解决现有技术所存在的对设备及技术要求高、测试过程复杂且周期长的不足之处，而提供了一种基于x射线荧光光谱法测定yg硬质合金中钴含量的方法，该方法通过采用x射线荧光光谱法对待测试样切割断面及标准样件进行钴含量测试，获得以标准样件钴含量为标准的校准系数，通过校准系数计算待测试样中钴含量的精确值，无需将试样加工成粉末，测定效率高且测定结果准确。
2、为实现上述目的，本专利技术所提供的技术解决方案是：
3、基于x射线荧光光谱法测定yg硬质合金棒材中钴含量的方法，其特殊之处在于，包括以下步骤：
4、步骤1、制备yg硬质合金棒材待测试样，并对待测试样切割断面进行测定前预处理；
5、步骤2、采用x射线荧光光谱法对待测试样断面进行钴含量测定，获得待测试样钴含量测定值cco试；
6、步骤3、采用x射线荧光光谱法对yg硬质合金标准试样进行钴含量测定，获得标准试样的钴含量测定值cbco试；
7、步骤4、根据标准试样的钴含量标准值cbco和步骤3获得的钴含量测定值cbco试，计算钴含量校准系数k，k＝cbco/cbco试；
8、步骤5、根据公式cco＝k×cco试计算获得待测试样中钴含量标准值。
9、进一步地，所述步骤1中采用线切割方式切割yg硬质合金棒材获得待测试样。
10、进一步地，所述步骤1中对待测试样断面进行测定前预处理的过程为：对待测试样断面进行金相磨抛处理。
11、进一步地，所述步骤2中对待测试样断面进行多次钴含量测定，待测试样钴含量测定值cco试为多次测定结果的平均值。
12、进一步地，所述步骤3中对标准试样进行多次钴含量测定，标准试样钴含量测定值cbco试为多次测定结果的平均值。
13、本专利技术的优点是：
14、1、本专利技术方法通过对yg硬质合金标准试样采用x射线荧光光谱法测定钴含量，获得钴含量校准系数k，通过校准系数及测得的待测试样的中钴含量测定值，计算获得待测试样中钴标准含量，测定方法简单，钴含量测试分析的准确性和可靠性。
15、2、本专利技术中采用线切割方式对yg硬质合金棒材切割制备待测试样，采用常规金相法磨抛、清洗、干燥方式对试样断面进行处理，除常规设备外，无需其他昂贵测试设备，解决了由于yg硬质合金硬度高不易采用机械加工方式制备金属颗粒的难题。
16、3、传统湿法分析周期至少在1～2工作日内才能完成，而采用本专利技术方法整个测试过程不超过20分钟，测试周期短，测试效率大大提高。
17、4、本专利技术方法测试过程无酸碱溶解酸雾挥发、熔融过程中各种氧化物的逸出、酸碱测试过程中污水等环保问题，高效又节能环保。
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1.基于X射线荧光光谱法测定YG硬质合金棒材中钴含量的方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述方法，其特征在于，所述步骤1中采用线切割方式切割YG硬质合金棒材获得待测试样。
3.根据权利要求1或2所述方法，其特征在于，所述步骤1中对待测试样断面进行测定前预处理的过程为：对待测试样断面进行金相磨抛处理。
4.根据权利要求1所述方法，其特征在于，所述步骤2中对待测试样断面进行多次钴含量测定，待测试样钴含量测定值CCo试为多次测定结果的平均值。
5.根据权利要求4所述方法，其特征在于，所述步骤3中对标准试样进行多次钴含量测定，标准试样钴含量测定值CBCo试为多次测定结果的平均值。
【技术特征摘要】
1.基于x射线荧光光谱法测定yg硬质合金棒材中钴含量的方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述方法，其特征在于，所述步骤1中采用线切割方式切割yg硬质合金棒材获得待测试样。
3.根据权利要求1或2所述方法，其特征在于，所述步骤1中对待测试样断面进行测定前预处理的过程为：对待测试样断...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨起，缑庆，姜明，杨霆玉，白一荷，张洋，马朋朋，
申请(专利权)人：国营四达机械制造公司，
类型：发明
国别省市：
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