【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电路组件测试，尤其涉及一种可配置的通用电路组件自动测试系统及测试方法。
技术介绍
1、大批量生产的电路组件必须做通电前测试和通电时测试，包含功能测试，设计者在每个电路组件上预留数十甚至数百个关键电子回路的测试点(tp)，电路组件测试时需要将上述所有tp接入测试系统，并分别以tp对应电子回路的特定功能实施目标测试，进而判别各个电子回路及其功能是否正常。
2、被测试的电路组件简称but，一般的but上有数百甚至数千个tp，然而人工测试的工具却仅有万用表、示波器、逻辑分析仪和通讯接口分析仪等几种，而且这些测试工具所用的信号接入点都较少。
3、为解决上述问题，实现自动测试系统代替人工接入tp到测试设备并判别电子回路是否正常，通常需要根据特定but的测试需求订制专用自动测试系统。然而订制的自动测试系统有许多局限性，如申请号cn202211293825.8公开了一种多通道电路的参数测试系统，存在当出现but本身迭代升级或某些电子回路功能变更等情况，该测试系统无法兼容but变更，无法完成测试。
4、在申请号cn201410583840.5公开了一种通用电路板测试系统，虽然其可兼容不同类型的but功能测试，但缺少测试系统电路自检功能，当测试系统自身电路出现问题时，无法完成正常测试。
技术实现思路
1、为解决上述问题，本专利技术提供一种可配置的通用电路组件自动测试系统及测试方法，当电路组件迭代升级后，只要所需功能在测试前端模块的功能测试单元的组合所覆
2、为实现上述目的，本专利技术提供了一种可配置的通用电路组件自动测试系统，包括测试前端模块、测试执行模块、测试过程控制模块以及测试配置模块，测试配置模块与测试过程控制模块相连，测试过程控制模块与测试执行模块相连，测试执行模块与测试前端模块相连，测试前端模块与待测电路组件相连；
3、其中，测试配置模块，用于根据待测电路组件生成、保存配置文件，并将配置文件传输至测试过程控制模块中；
4、测试过程控制模块，用于解析配置文件，并将解析的测试项指令发送至测试执行模块；
5、测试执行模块，用于根据接收的测试项指令控制测试前端模块的开闭，构建测试点与功能接入点之间的测试回路。
6、优选的，测试前端模块包括开关阵列和功能测试单元，开关阵列和功能测试单元均与测试执行模块相连。
7、优选的，功能测试单元经测试结果反馈通道与测试执行模块相连。
8、优选的，测试过程控制单元还与数据库相连，用于利用数据库保存测试结果。
9、优选的，测试配置模块包括识别与通信接口，用于通过识别接口获取待测电路组件的信息特征，信息特征包括测试类型、测试点数量、测试激励信号类型和量程、测试结果的判别条件以及测试方法。
10、一种可配置的通用电路组件自动测试系统的测试方法，包括以下步骤：
11、s1、搭建测试系统：
12、依次连接待测电路组件、测试前端模块、测试执行模块、测试过程控制模块以及测试配置模块，并将测试过程控制模块和数据库连接；
13、s2、配置文件：
14、利用测试配置模块根据待测电路组件生成配置文件，将配置文件保存在测试配置模块中，并将配置文件传输至测试过程控制模块；
15、s3、解析配置文件：利用测试过程控制模块逐行解析配置文件中的配置项，得到测试项指令，并将测试项指令放入任务栈，再将测试项指令传输至测试执行模块；
16、s4、测试执行：
17、测试执行模块根据接收的测试项指令，控制测试前端模块的开关阵列和功能测试单元闭合，根据第一项自检测试项指令，连接输入输出，进行测试系统电路自检，自检完成后，根据第二项功能测试项指令，连接测试回路，实现将对开关阵列测试点与功能测试单元的功能接入点的连通，进行功能测试；
18、s5、反馈并分析测试结果：
19、测试过程控制模块将每一次反馈的测试结果均存入数据库中，并根据配置文件中的判断条件对测试结果进行判断，如果测试结果错误则向测试执行模块发送故障测试项指令，使测试系统进入故障处理状态；否则测试执行模块执行s6步骤；
20、s6、清空测试过程控制模块中的任务栈，根据配置文件做出切换任务指令，切换至下一功能，重复步骤s3-s5，直至完成所有功能测试，发送测试项指令，测试系统进入停止状态，测试结束。
21、优选的，在步骤s3中，每次由任务栈弹出一项测试项指令传输至测试执行模块。
22、本专利技术具有以下有益效果：
23、1、具备可配置性：可根据待测电子组件（but)上测试点（tp）的特征，实现了当but所需功能测试被测试前端模块的功能测试单元的组合所覆盖时，通过测试配置模块将每一种待测试的电子回路定义成一个测试项，任一测试项配置均包括测试类型(即指定测试前端的功能测试单元和测试反馈通道)、一个或多个tp、测试激励信号类型和量程(有激励则指定)、测试结果的判别条件等，进而生成测试所需的配置文件，根据配置文件该测试系统可完成配置中的任意功能测试；
24、2、配置项可自主配置；例如，测试功能类型可在电源测试、通断测试、逻辑激励-反馈测试、模拟和接口激励-反馈测试等选项中选取配置；测试输入信号类型可在直流信号、交流信号、电压信号、逻辑激励信号等选项中选取配置等；
25、3、具备通用性：当but所需功能测试被测试前端模块的功能测试单元的组合所覆盖时，but迭代升级后只需要通过测试配置模块重新配置测试项，即可不用调整测试系统各模块就能直接进行测试，实现不同but共用同一套自动测试系统进行测试。
26、下面通过附图和实施例，对本专利技术的技术方案做进一步的详细描述。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种可配置的通用电路组件自动测试系统，其特征在于：包括测试前端模块、测试执行模块、测试过程控制模块以及测试配置模块，测试配置模块与测试过程控制模块相连，测试过程控制模块与测试执行模块相连，测试执行模块与测试前端模块相连，测试前端模块与待测电路组件相连；
2.根据权利要求1所述的一种可配置的通用电路组件自动测试系统，其特征在于：测试前端模块包括开关阵列和功能测试单元，开关阵列和功能测试单元均与测试执行模块相连。
3.根据权利要求2所述的一种可配置的通用电路组件自动测试系统，其特征在于：功能测试单元经测试结果反馈通道与测试执行模块相连。
4.根据权利要求1所述的一种可配置的通用电路组件自动测试系统，其特征在于：测试过程控制单元还与数据库相连，用于利用数据库保存测试结果。
5.根据权利要求1所述的一种可配置的通用电路组件自动测试系统，其特征在于：测试配置模块包括识别与通信接口，用于通过识别接口获取待测电路组件的信息特征，信息特征包括测试类型、测试点数量、测试激励信号类型和量程、测试结果的判别条件以及测试方法。
6.如上述权
7.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于：在步骤S3中，每次由任务栈弹出一项测试项指令传输至测试执行模块。
...【技术特征摘要】
1.一种可配置的通用电路组件自动测试系统，其特征在于：包括测试前端模块、测试执行模块、测试过程控制模块以及测试配置模块，测试配置模块与测试过程控制模块相连，测试过程控制模块与测试执行模块相连，测试执行模块与测试前端模块相连，测试前端模块与待测电路组件相连；
2.根据权利要求1所述的一种可配置的通用电路组件自动测试系统，其特征在于：测试前端模块包括开关阵列和功能测试单元，开关阵列和功能测试单元均与测试执行模块相连。
3.根据权利要求2所述的一种可配置的通用电路组件自动测试系统，其特征在于：功能测试单元经测试结果反馈通道与测试执行模块相连。
4.根据权利要求1所述的一种...
【专利技术属性】
技术研发人员：王睿，董玉君，陈元正，
申请(专利权)人：杭州君谋科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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