【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于测试测量，涉及光波元件分析仪中光电转换模块频响参数的校准方法。
技术介绍
1、光波元件分析仪广泛应用于光器件的频响参数测量，光电转换模块作为光波元件分析仪的关键模块，将调制光信号转换为射频信号，进而实现光器件频响参数测量。在整个测试链路中，光电转换模块是构成测试链路的一部分，因此在计算被测光器件的频响参数时需将光电转换模块的影响去掉。光电转换模块的影响可用其频率响应参数表征，为保证光波元件分析仪的最佳性能，需要对光电转换模块进行高精度校准。传统方法主要采用等距频点插值的校准方法，在整个频率范围内等间距的进行频率响应的插值校准，该方法存在如下三个方面的问题：第一，大带宽频率范围内，大数据量的频率响应数据处理导致光电转换模块的校准耗时较长，校准效率降低；第二，随着调制频率的逐渐提升，光电转换模块的损耗逐渐增大，其非线性特性逐步显现，采用等距频点插值的方法降低了光电转换模块的校准精度，进而影响仪器的测试精度；第三，高频段的随机噪声将会导致频率响应细节的丢失，降低了光电转换模块的校准精度，进而影响仪器的测试精度。上述三个问题的出现，无法满足光波元件分析仪快速、高精度的校准需求。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是为了解决现有技术存在的问题，提供一种基于非线性渐变频点拟合的频率响应校准方法，在低频段减少点数，在高频段增加点数，随着频率的升高，自适应的采用渐变频点的方法实现光电转换模块的频率响应校准，兼顾校准精度与校准速度，完成校准过程。
2、为实现上述目的，本专利
3、步骤1：设置校准频率点的起始频率fs、终止频率fe、频率点数n和频率步进step，并满足关系：采集特征校准频率点fn'对应的频率响应值r'n；每个特征校准频率点采集两次；
4、步骤2：对第m个特征校准频率点f′m对应的频率响应值r'm进行判断：当r'm,1-r'm,2>δ时，判定fm'为跳变点，公式中r'm,1为第一次采集到的频率响应数据，r'm,2为第二次采集到的频率响应数据，δ为频响跳变阈值；m＝1,2,...,n；
5、步骤3：对于跳变点，利用拟合频率响应值更新该特征频率点的频率响应值；
6、步骤4：对于非特征频率点进行非线性插值。
7、优选地，所述步骤1中，频率步进step为10mhz。
8、优选地，所述步骤3中，拟合多项式为其中r″n为拟合频率响应值，ak为拟合系数，f'为特征频率点，k为拟合的次数。
9、优选地，所述步骤3中，采用最小二乘法得到拟合系数ak。
10、优选地，所述步骤4中，针对非特征频率点fx，其所对应的频率响应求解公式为：
11、
12、其中，fi'、f′j为特征频率点，m为参与运算的特征频率点个数，2<m<n，i＝1,2,...,m；j＝1,2,...,m，r′i为第i个特征频率点的频率响应值。
13、本专利技术与现有技术相比，具有如下有益效果：本专利技术的方法采用基于非线性渐变频点拟合的频率响应校准方法，在低频段减少点数，在高频段增加点数，随着频率的升高，自适应的采用渐变频点的方法实现光电转换模块的频率响应校准，兼顾校准精度与校准速度，完成校准过程。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种基于非线性渐变频点拟合的频率响应校准方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的基于非线性渐变频点拟合的频率响应校准方法，其特征在于，所述步骤1中，频率步进Step为10MHz。
3.根据权利要求1所述的基于非线性渐变频点拟合的频率响应校准方法，其特征在于，基于非线性渐变频点拟合的频率响应校准方法，其特征在于，所述步骤3中，拟合多项式为其中R'n'为拟合频率响应值，ak为拟合系数，f'为特征频率点，k为拟合次数。
4.根据权利要求1所述的基于非线性渐变频点拟合的频率响应校准方法，其特征在于，所述步骤3中，采用最小二乘法得到拟合系数ak。
5.根据权利要求1所述的基于非线性渐变频点拟合的频率响应校准方法，其特征在于，所述步骤4中，针对非特征频率点fx，其所对应的频率响应求解公式为：
【技术特征摘要】
1.一种基于非线性渐变频点拟合的频率响应校准方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的基于非线性渐变频点拟合的频率响应校准方法，其特征在于，所述步骤1中，频率步进step为10mhz。
3.根据权利要求1所述的基于非线性渐变频点拟合的频率响应校准方法，其特征在于，基于非线性渐变频点拟合的频率响应校准方法，其特征在于，所述步骤3中，拟合多项式为...
【专利技术属性】
技术研发人员：鞠军委，刘志明，张爱国，金辉，陈振文，盛立文，乔山，黄琳，张世杰，
申请(专利权)人：中电科思仪科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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