电子数显千分尺测微器制造技术

本实用新型专利技术主要涉及一种长度计量器具，尤其涉及长度测量电子千分尺的测微器。一种电子数显千分尺测微器，包括有测微螺杆（２），尺架（４），固定套（３）设于尺架（４）左端、调节套（５）设于固定套（３）中，动栅座（６），动栅（８），定栅（９），定栅座（１０），螺纹轴套（１１），其主要特点是在调节套（５）与动栅座（６）之间设有球面垫圈（１４）。本实用新型专利技术的优点是测微螺杆移动灵活，零件加工难度低，装配方便，便于大批量生产。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术主要涉及一种长度计量器具，尤其涉及长度测量电子千分 尺的测微器。
技术介绍
电子千分尺是由电子数显装置和测微器(包括传感器和机械传动部分)组成。现有的电子千分尺的测微器如图1,容^1^传感器的动栅28和定栅29 分别固定在动栅座26和定栅座30上，定栅座30固定在螺紋轴套31上，螺 紋轴套31固定在尺架24右端的螺紋孔中，锥端螺钉27穿过动栅座26的螺 钉孔限制在测微螺杆22的V槽中，测微螺杆22转动时带动动栅座26转动， 调节套25可以轴向移动调整动栅座26的位置使动4册座26和定栅座30紧密 接触。这种结构的缺点是对零件的垂直度要求高，加工难度大，调节套25 和动栅座26的垂直度误差使测微螺杆22转动不灵活，动栅28和定栅29的 间隙随着转动变化，这都会产生测量误差；另一缺点是尺架24右端的内螺 紋孔不易加工，不易与左端的孔同轴。
技术实现思路
本技术的目的在于避免现有技术的不足之处而提供一种电子数显 千分尺测微器。以解决零件的垂直度要求高，加工难度大，测微螺杆2移动 不灵活的问题。本技术的目的可以通过采用以下技术方案来实现 一种电子数显千 分尺测微器，包括有测微螺杆(2 ),尺架(4 )，固定套(3 )设于尺架(4 ) 左端、调节套(5)设于固定套(3)中，动栅座(6)，动栅(8)，定栅(9)， 定栅座(10 )，螺紋轴套(11),其主要特点是在调节套(5 )与动栅座(6 )之间设有球面垫圈(14)。所述电子数显千分尺测微器，调节套(5)的端口设有锥形面，与球面 垫圈(14)的球形面接触；球面垫圈(14)的端面与动栅座(6)紧密接触。所述电子数显千分尺测微器，螺紋轴套(11)与尺架(4)右端的通孔 配合。本技术的有益效果是测微螺杆移动灵活，零件加工难度低，装配 方便，便于大批量生产。附图说明图1为现有^L术示意图2为本技术结构图3为本技术应用例主碎见图。具体实施方式以下结合实施例对本技术的原理和特征进行描述，所举实例只用于 解释本技术，并非用于限定本技术的范围。实施例l:见图2, —种电子数显千分尺测微器，包括有测微螺杆2，尺 架4，固定套3设于尺架4左端、调节套5设于固定套3中，动栅座6，动 栅8,定栅9，定栅座IO,螺紋轴套ll，在调节套5与动栅座6之间设有球 面垫圈14。所述调节套5的端口设有锥形面，与球面垫圈14的球形面接触；球面垫圈14的端面与动栅座6紧密接触。所述螺紋轴套11与尺架4右端的 通孔配合。使用胶粘结固定。装配时，容栅传感器的动栅8和定栅9分别固定在动栅座6和定栅座10 上，定栅座10固定在螺紋轴套11孔中，测微螺杆2上有一个轴向V型槽， 动栅座6套在测微螺杆2的外圓上，锥端螺钉7穿过动栅座6的螺钉孔安装 在测微螺杆2的V槽中，使动栅座6 、动栅8与测微螺杆2同步转动，固定 套3固定在尺架4左端的孔中，调节套5装在固定套3的螺紋孔中，旋转调 节套5可以使其轴向移动调整动栅座6的位置，球面垫圈14浮动安装在调 节套5的锥形孔中，其轴线可自动倾斜，以保证球面垫圈14的端面与动栅 座6紧密接触，当调节套5和动栅座6有垂直度误差时，球面垫圈14可自 动倾斜，保证动栅8和定栅9紧密接触，测微螺杆2转动灵活。螺紋轴套ll 固定在尺架4右端的通孔里，由于尺架4左右两端都是通孔，容易加工，容 易保证同轴度。应用例见图3, —种电子数显千分尺由电子数显装置和测微器(包括 传感器和机械传动部分)组成。测砧1固定在尺架4的左端，容栅传感器的 动栅8和定栅9分别固定在动栅座6和定栅座10上，定栅座10固定在螺紋 轴套11孔中，测微螺杆2上有一个轴向V型槽，动栅座6套在测微螺杆2的 外圆上，锥端螺钉7穿过动栅座6的螺钉孔安^测微螺杆2的V槽中，使 动栅座6、动栅8与测微螺杆2同步转动，固定套3固定在尺架4大孔的左 端，调节套5装在固定套3的螺紋孔中，旋转调节套5可以使其轴向移动调 整动栅座6的位置，球面垫圈14浮动安装在调节套5的锥形孔中，其轴线 可自动倾斜，以保证球面垫圈14的端面与动栅座6紧密接触，当调节套5 和动栅座6有垂直度误差时，球面垫圈14可自动倾斜，保证动栅8和定栅9紧密接触，测;徵螺杆2转动灵活。螺紋轴套ll固定在尺架4右端的通孔里， 刻度套管12安装在螺紋轴套11的外圓上，微分筒13的锥孔与测微螺杆2 的锥面外圓紧密配合，测量时，转动微分筒13，带动测微螺杆2、动栅座6、 动栅8旋转，动栅8和定栅9发生相对转动时，产生电信号，将此信号输入 到电子数显装置15显示出测微螺杆2的位移量。以上所述仅为本技术的较佳实施例，并不用以限制本技术，凡 在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。权利要求1.一种电子数显千分尺测微器，包括有测微螺杆(2)，尺架(4)，固定套(3)设于尺架(4)左端、调节套(5)设于固定套(3)中，动栅座(6)，动栅(8)，定栅(9)，定栅座(10)，螺纹轴套(11)，其特征是在调节套(5)与动栅座(6)之间设有球面垫圈(14)。2. 如权利要求1所述电子数显千分尺测微器，其特征在于调节套(5 )的端 口设有锥形面，与球面垫圈(14)的球形面接触；球面垫圈(14)的端面 与动栅座(6)紧密接触。3. 如权利要求1所述电子数显千分尺测微器，其特征在于螺紋轴套(11) 与尺架(4)右端的通孔配合。专利摘要本技术主要涉及一种长度计量器具，尤其涉及长度测量电子千分尺的测微器。一种电子数显千分尺测微器，包括有测微螺杆(2)，尺架(4)，固定套(3)设于尺架(4)左端、调节套(5)设于固定套(3)中，动栅座(6)，动栅(8)，定栅(9)，定栅座(10)，螺纹轴套(11)，其主要特点是在调节套(5)与动栅座(6)之间设有球面垫圈(14)。本技术的优点是测微螺杆移动灵活，零件加工难度低，装配方便，便于大批量生产。文档编号G01B3/18GK201429389SQ20092015906公开日2010年3月24日 申请日期2009年6月24日 优先权日2009年6月24日专利技术者黄晓宾 申请人:苏州麦克龙测量技术有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子数显千分尺测微器，包括有测微螺杆（２），尺架（４），固定套（３）设于尺架（４）左端、调节套（５）设于固定套（３）中，动栅座（６），动栅（８），定栅（９），定栅座（１０），螺纹轴套（１１），其特征是在调节套（５）与动栅座（６）之间设有球面垫圈（１４）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：黄晓宾，
申请(专利权)人：苏州麦克龙测量技术有限公司，
类型：实用新型
国别省市：32[中国|江苏]