本发明专利技术提供了一种存储卡热插拔故障的检测方法，包括以下步骤：每隔预定时间连通或切断存储卡的电源以模拟热插拔；对每次模拟热插拔，判断是否发生热插拔故障；根据判断结果得到热插拔故障的检测结果。本发明专利技术还提供了一种存储卡热插拔故障的检测装置，包括：模拟模块；判断模块；检测模块。本发明专利技术克服了相关技术中存储卡热插拔故障的检测方法对存储卡热插拔故障的复现效率较低，检测精度较差的问题，进而降低了检测成本，有利于大批量检测的进行，从而提高了存储卡热插拔故障的复现效率和检测精度。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及数码存储卡领域，具体而言，涉及一种存储卡热插 拔古丈障的4全测方法及装置。
技术介绍
手机、数码相机等数码设备在人们生活中日益普及，为了实现 对存储空间进行扩充或移动的需要，数码设备越来越多地使用了外4妻存储卡，包括SD卡(Secure Digital Memory Card,安全数码卡)、 T卡、MMC卡(Multi Media Card,多々某体卡)等。很多数码设备都具有存储卡热插拔功能，存储卡热插拔若出现 故障，将会严重影响用户的正常使用。统计表明用户投诉的所有手 机故障中，存储卡的相应故障增长最快，具体包括存储卡插拔无反 应、存4诸卡插入初始化异常、热插拔导致手一几死一几、存储卡热插拔 损坏等。相关技术中提供了 一种存储卡热插拔故障的检测方法，该方法 利用人工插拔存储卡来检测热插拔故障，需要检测人员进行反复的 手动插拔操作。现有技术中存储卡热插拔故障的检测方法容易造成卡槽疲劳损 坏，且需配备大量才企测人员，由于检测成本4交高，故难以进4亍大批量检测，从而造成对存储卡热插拔故障的复现效率较低，检测精度 较差。
技术实现思路
本专利技术旨在提供一种存储卡热插拔故障的冲全测方法，能够解决 相关技术中存储卡热插拔故障的才企测方法容易造成卡槽疲劳损坏， 且需配备大量检测人员，由于检测成本较高，故难以进行大批量检测，从而造成对存储卡热插拔故障的复现效率4交低，4企测精度4交差 的问题。在本专利技术的实施例中，提供了一种存储卡热插拔故障的检测方 法，包4舌以下步骤每隔预定时间连通或切断存〗诸卡的电源以才莫拟 热插拔；对每次模拟热插拔，判断是否发生热插拔故障；根据判断 结果得到热插拔故障的4企测结果。优选地，在上述才企测方法中，4艮据判断结果得到热插拔故障的 检测结果具体包括若未发生热插拔故障，记录本次一莫拟热插拔所 产生的单次检测信息；比较模拟热插拔总次数与次数阈值的大小； 根据比较结果和单次检测信息得到热插拔故障的检测结果。优选地，在上述检测方法中，根据比较结果和单次检测信息得 到热插拔故障的检测结果具体包括若模拟热插拔总次数小于次数 阈值，根据本次模拟热插拔及之前多次模拟热插拔所产生的多个单 次检测信息得到检测结果；设置模拟热插拔总次数加一，重新开始 计时，等待下一次模拟热插拔。优选地，在上述检测方法中，根据比较结果和单次检测信息得 到热插拔故障的4企测结果具体包括若模拟热插拔总次数大于等于 次数阈值，根据本次模拟热插拔及之前多次才莫拟热插拔所产生的多 个单次检测信息得到检测结果；结束模拟热插拔操作。优选地，在上述检测方法中，根据判断结果得到热插拔故障的检测结果具体包括若发生热插拔故障，记录本次才莫拟热插拔所产 生的单次检测信息；根据本次模拟热插拔及之前多次才莫拟热插拔所 产生的多个单次检测信息得到检测结果；结束才莫拟热插拔操作。优选地，在上述4企测方法中，i己录本次才莫拟热插拔所产生的单 次检测信息具体包括将本次模拟热插拔所产生的单次检测信息保 存到非易失性存储器。优选地，在上述检测方法中，每隔预定时间连通或切断存储卡 的电源具体包括i殳置晶体管开关每隔预定时间开通或关断，电源 通过晶体管开关向存储卡供电。优选地，在上述检测方法中，每隔预定时间打开或关闭存储卡 的电源以模拟热插拔之前还包括启动热插拔故障4企测；设置次数 阈值与预定时间，将热插拔总次数清零，启动定时器开始计时在本专利技术的实施例中，还提供了 一种存4诸卡热插拔故障的4企测 装置，包括模拟模块，用于每隔预定时间连通或切断存储卡的电 源以模拟热插拔；判断才莫块，用于对每次模拟热插拔，判断是否发 生热插拔故障；；险测才莫块，用于才艮据判断结果得到热插拔故障的枱r 测结果。优选地，在上述4企测装置中，冲企测才莫块具体包括存4诸单元， 用于保存每次模拟热插拔所产生的单次检测信息；比较单元，用于比较模拟热插拔总次数与次数阈值的大小。优选地，在上述^^企测装置中，存储单元为非易失性存储器。优选地，在上述4企测装置中，还包括晶体管开关，用于控制存 储卡的电源每隔预定时间连通或切断，晶体管开关被i殳置为每隔预 定时间开通或关断，电源通过晶体管开关向存储卡供电。优选地，在上述4企测装置中，包括启动才莫块，用于启动热插 拔故障检测；设置才莫块，用于设置次数阈值与预定时间，将热插拔 总次^:清零，启动定时器开始计时。上述实施例通过连通或切断存j渚卡的电源来才莫拟存〗渚卡的热插 拔以完成热插拔故障检测，进而降低了检测成本，有利于大批量冲企 测的进行，从而提高了存储卡热插拔故障的复现效率和检测精度， 所以克服了相关技术中存储卡热插拔故障的检测方法容易造成卡槽 疲劳损坏，且需配备大量冲企测人员，由于才企测成本较高，故难以进 行大批量检测，从而造成对存储卡热插拔故障的复现效率较低，检 测精度较差的问题。附图说明此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本申 请的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并 不构成对本专利技术的不当限定。在附图中图1示出了才艮据本专利技术第一实施例的检测方法的流程图2示出了根据本专利技术第二实施例的存储卡供电示意图3示出了才艮据本专利技术第三实施例的才全测初始化的流程图4示出了才艮据本专利技术第四实施例的^r测方法的流程图5示出了根据本专利技术第五实施例的检测装置的结构图。具体实施例方式下面将参考附图并结合实施例，来详细i兌明本专利技术。图1示出了根据本专利技术第一实施例的检测方法的流程图，该方法包4舌以下步艰钇步骤SlOl，每隔预定时间连通或切断存储卡的电源以模拟热插拔；步骤S102，对每次一莫拟热插拔，判断是否发生热插拔故障；步驶艮S103， 4艮据判断结果得到热插拔古允障的才全测结果。本实施例首先每隔预定时间连通或切断存储卡的电源以模拟热 插拔，对每次模拟热插拔，判断是否发生热插拔故障，然后根据判 断结果得到热插拔故障的检测结果，其中，当连通存储卡电源时， 数据设备首先检测到存储卡插入，然后加载存储卡设备；当切断存 储卡电源时，数据设备首先检测到存储卡拔出，然后卸载存储卡设 备。由于本实施例通过连通或切断存储卡的电源来模拟存储卡的热 插拔以完成热插拔故障检测，进而降低了检测成本，有利于大批量 检测的进行，从而提高了存储卡热插拔故障的复现效率和检测精度， 所以克服了相关技术中存储卡热插拔故障的检测方法容易造成卡槽 疲劳损坏，且需配备大量检测人员，由于检测成本较高，故难以进 行大批量检测，从而造成对存储卡热插拔故障的复现效率较低，检 测精度较差的问题。优选地，在上述检测方法中，步骤S103具体包括若未发生 热插拔故障，记录本次模拟热插拔所产生的单次检测信息；比较模 拟热插拔总次数与次数阈值的大小；根据比较结果和单次检测信息 得到热插拔故障的4企测结果。本实施例的热插拔才莫拟中未发生热插拔故障，则i己录本次才莫拟 热插拔所产生的单次检测信息，然后比较模拟热插拔总次数与次数 阈值的大小，最后根据比较结果和单次检测信息得到热插拔故障的 检测结果。这样做，使得每次模拟热插拔的检测信息被保留下来， 为存储卡热插拔故障的检测与分析提供了依据。优选地，在上述4企测方法中，才艮据比4交结果和单次;险测信息得 到热插拔故障的检测结果具体包括若模拟热插拔总次本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种存储卡热插拔故障的检测方法，其特征在于，包括以下步骤： 每隔预定时间连通或切断所述存储卡的电源以模拟热插拔； 对每次模拟热插拔，判断是否发生热插拔故障； 根据判断结果得到所述热插拔故障的检测结果。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：黄伟，周永喜，张晓峰，戴晔，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]
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