【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及封装,尤其涉及一种封装结构及其形成方法。
技术介绍
1、一些封装结构,例如电源类模组封装结构,具有集成度高,占用面积小等优点而被广泛应用。所述封装结构包括相对设置的上基板与下基板,上基板表面贴装有球栅阵列(bga,ball grid array package)、栅格阵列(lga,land grid array)、芯片封装结构(csp,chip scale packaging)、被动元件(passive component)等,上基板与下基板之间通过排针进行互连。在该种封装结构中,排针的表面贴装(surface mounted technology,smt)较困难,且在执行表面贴装技术的回流工艺时容易产生偏移、脱落,造成焊接不良,并且排针与基板之间为刚性连接,焊点可靠性较低。
技术实现思路
1、本专利技术提供了一种封装结构,其包括:第一基板;第二基板,与所述第一基板相对设置;侧装基板,设置在所述第一基板与所述第二基板之间,所述侧装基板包括承载体及沿垂直所述第一基板的方向贯穿所
...【技术保护点】
1.一种封装结构,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的封装结构,其特征在于,所述导电柱的端部与所述承载体的端部平齐。
3.根据权利要求1所述的封装结构,其特征在于,所述承载体的材料与所述第一基板和/或所述第二基板的材料相同。
4.根据权利要求1所述的封装结构,其特征在于,所述承载体的硬度小于所述导电柱的硬度。
5.根据权利要求1所述的封装结构,其特征在于,所述承载体包括中间层、覆盖所述中间层侧表面的绝缘层,所述导电柱设置在所述中间层的侧表面,并被所述绝缘层覆盖,且所述绝缘层填充在相邻的所述导电柱之间。
【技术特征摘要】
1.一种封装结构,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的封装结构,其特征在于,所述导电柱的端部与所述承载体的端部平齐。
3.根据权利要求1所述的封装结构,其特征在于,所述承载体的材料与所述第一基板和/或所述第二基板的材料相同。
4.根据权利要求1所述的封装结构,其特征在于,所述承载体的硬度小于所述导电柱的硬度。
5.根据权利要求1所述的封装结构,其特征在于,所述承载体包括中间层、覆盖所述中间层侧表面的绝缘层,所述导电柱设置在所述中间层的侧表面,并被所述绝缘层覆盖,且所述绝缘层填充在相邻的所述导电柱之间。
6.根据权利要求5所述的封装结构,其特征在于,在所述中间层相对的两侧表面均设置有所述导电柱及所述绝缘层。
7.根据权利要求1所述的封装结构,其特征在于,还包括第三功能组件,所述第三功能组件设置在所述第一基板与所述第二基板之间,且与所述第一基板和/或所述第二基板电连接。
8.根据权利要求7所述的封装结构,其特征在于,包括多个所述侧装基板,多个所述侧装基板设置在所述第三功能组件的不同侧。
9.根据权利要求7所述的封装结构,其特征在于,所述第三功能组件包括电源组件,所述电源组件通过所...
【专利技术属性】
技术研发人员:王楠,顾炯炯,赵励强,吴永星,蒋悦虹,
申请(专利权)人:长电科技管理有限公司,
类型:发明
国别省市:
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