一种粒子探测器性能评估设备及方法技术

本发明专利技术属于设备测试技术领域，提供一种粒子探测器性能评估设备，其特征在于，包括：底座、测试箱、测试组件、收纳盒、控制组件以及安置组件；测试箱安装在底座表面，安置组件以及测试组件安装在测试箱中，测试组件对准安置组件，安置组件放置黑体辐射源，测试组件内安装有探测器以及主检测单元；收纳盒和控制组件分别安装在底座的两侧；控制组件与测试组件电性连接。本发明专利技术通过设置多组测试组件，从而可以同时对多个不同型号的探测器进行检测，提高了探测器性能比较的效率，而且由于测试组件与控制组件连接，控制组件可以与外界第三方检测装置进行连接，提高了设备的实用性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于设备测试，具体涉及一种粒子探测器性能评估设备及方法。

技术介绍

1、随着粒子物理学研究的深入，粒子探测器的性能评估已经成为粒子物理学领域的重要研究方向，粒子探测器性能评估的目标是了解探测器在不同实验条件下的性能表现，提高探测器的性能，以获得更准确的实验数据，为此提出一种粒子探测器性能评估设备及其使用方法，但是在实现本专利技术过程中，专利技术人发现现有技术中至少存在如下问题没有得到解决：1.不方便对多种不同种类粒子探测器进行性能比较，对粒子探测器的性能测试单一，从而降低了对粒子探测器性能比较的效率；2.不方便引入第三方检测，对粒子探测器性能检测结构单一，从而降低了对粒子探测器性能检测的准确性；3.不方便对粒子探测器进行位置调整和固定，使粒子探测器在测试使用中容易发生偏移情况，从而降低了粒子探测器测试的稳定性。为此，本专利技术设计了一种粒子探测器性能评估设备及其使用方法。

技术实现思路

1、为了克服现有技术中存在的问题，本专利技术的目的是提供一种粒子探测器性能评估设备及方法。p>

2、本专利本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种粒子探测器性能评估设备，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种粒子探测器性能评估设备，其特征在于，

3.根据权利要求1所述的一种粒子探测器性能评估设备，其特征在于，

4.根据权利要求1所述的一种粒子探测器性能评估设备，其特征在于，

5.根据权利要求4所述的一种粒子探测器性能评估设备，其特征在于，

6.根据权利要求4所述的一种粒子探测器性能评估设备，其特征在于，

7.根据权利要求1所述的一种粒子探测器性能评估设备，其特征在于，

8.根据权利要求1所述的一种粒子探测器性能评估设备，其特征在于...

【技术特征摘要】

1.一种粒子探测器性能评估设备，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种粒子探测器性能评估设备，其特征在于，

3.根据权利要求1所述的一种粒子探测器性能评估设备，其特征在于，

4.根据权利要求1所述的一种粒子探测器性能评估设备，其特征在于，

5.根据权利要求4所述的一种粒子探测器性能评估设备，其特征在于，

6.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：向文昌，
申请(专利权)人：广州航海学院，
类型：发明
国别省市：