【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及辐射光测量，特别涉及一种电校准辐射计光功率测量方法。
技术介绍
1、对光功率进行测量时，一般是通过辐射计对光功率进行测量。如申请号为200510016667.1的专利《对电校准绝对辐射计进行温度补偿的光辐照度测量方法》公开的技术方案为，在电校准阶段，在接收器件的第一电加热丝和参考器件的第二电加热丝上分别加入电功率pe1，使接收器件、参考器件和热沉的温度始终相同并维持恒定；在观测阶段，当有光入射时，使第一电加热丝所加电功率由pe1减少到pe2，使温度传感器电路输出与电校准阶段相等；根据总功率pe1＝pe2+po，得入射光功率po，入射的光辐照度为e＝po/a。
2、但该现有专利需要热沉配合与接收器件、参考器件的温度达到相同并维持恒定，且在测量时，判断平衡的标准是靠温度传感器输出的数据，温度传感器测定温度与所加电功率或实际光功率有误差，比如所加电功率在50mw-80mw时，温度变化的范围可能就只有几度，因此精度不高，靠输出温度数据去判断电功率是否加得合适，并不准确，使得最终测量光功率的准确度低。
【技术保护点】
1.一种电校准辐射计光功率测量方法，其特征在于：包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种电校准辐射计光功率测量方法，其特征在于：所述步骤1具体包括以下步骤：所述电桥包括四个桥臂的电阻，分别为电阻R1、电阻R2、电阻Rx、测量电阻Rt，其中电阻Rx、测量电阻Rt为可变电阻；
3.根据权利要求2所述的一种电校准辐射计光功率测量方法，其特征在于：电桥平衡时，所述电桥的电流表输出电流Ic=0。
4.根据权利要求2所述的一种电校准辐射计光功率测量方法，其特征在于：所述步骤3具体包括以下步骤：需要测量辐射源的光功率时，移开辐射源，对测量腔体...
【技术特征摘要】
1.一种电校准辐射计光功率测量方法，其特征在于：包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种电校准辐射计光功率测量方法，其特征在于：所述步骤1具体包括以下步骤：所述电桥包括四个桥臂的电阻，分别为电阻r1、电阻r2、电阻rx、测量电阻rt，其中电阻rx、测量电阻rt为可变电阻；
3.根据权利要求2所述的一种电校准辐射计光功率测量方法，其特征在于：电桥平衡时，所述电桥的电流表输出电流ic=0。
4.根据权利要求2所述的一种电校准辐射计光功率测量方法，其特征在于：所述步骤3具体包括以下步骤：需要测量辐射源的光功率时，移开辐射源，对测量腔体内表面的康铜丝进行加热，测量腔体外表面的...
【专利技术属性】
技术研发人员：张宪亮，刘若凡，李世平，
申请(专利权)人：中国测试技术研究院，
类型：发明
国别省市：
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