由ADC口代替IO口的短接口检测电路及电能表制造技术

本技术涉及一种由ADC口代替IO口的短接口检测电路及电能表，短接口检测电路包括待检测外接电路和具有ADC采样端口的单片机，待检测外接电路的第一电阻第一端连接电压输入端，第一电阻第二端连接短接插口第一插口，短接插口第二插口分别连接第二电阻第一端和第三电阻第一端，第二电阻第二端连接接地端，第三电阻第二端连接电容第一极，电容第二极连接接地端，第三电阻第二端作为该待检测外接电路的模式检测端口，外接电路的模式检测端口连接单片机的ADC采样端口。不需要单片机具有充足的IO口资源，仅仅通过令单片机的ADC采样端口连接待检测外接电路的模式检测端口，就可以实现单片机对短接插口处电压的检测，降低了短接插口的检测成本。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电能表领域，尤其涉及一种由adc口代替io口的短接口检测电路及电能表。

技术介绍

1、在电能表的电平检测过程中，通常利用短接插口采样以判断电能表是否需要进入指定模式，并执行相关的操作。例如，通常将单片机的io口(即输入输出口)配置为输入模式，以检测该io口的电平情况，再基于检测到的电平情况判断短接插口是否存在短接。

2、随着电能表功能的日益增多，能够满足且能被应用到日益增多功能的电能表上的单片机资源越来越紧缺，即现有的单片机在满足电能表功能之外，几乎很少有额外多余的io口用于内部短接口的功能检测。

技术实现思路

1、本技术所要解决的第一个技术问题是针对上述现有技术提供一种由adc口代替io口的短接口检测电路。

2、本技术所要解决的第二个技术问题是提供一种应用有上述短接口检测电路的电能表。

3、本技术解决第一个技术问题所采用的技术方案为：由adc口代替io口的短接口检测电路，包括：

4、待检测外接电路，具有第一电阻、第二电阻、第三电阻、短接插口和电容，第一电阻的第一端连接电压输入端，该第一电阻的第二端连接短接插口的第一插口，短接插口的第二插口分别连接第二电阻的第一端和第三电阻的第一端，第二电阻的第二端连接接地端，第三电阻的第二端连接电容的第一极，该电容的第二极连接接地端；其中，第三电阻的第二端作为该待检测外接电路的模式检测端口；

5、单片机，具有adc采样端口；

6、其特征在于，外接电路的模式检测端口连接单片机的adc采样端口。

7、改进地，在所述由adc口代替io口的短接口检测电路中，所述第一电阻的电阻值为1mω，所述第二电阻的电阻值为1mω。

8、进一步地，在所述由adc口代替io口的短接口检测电路中，所述电容的容量为10nf，所述电容的额定工作电压为50v。

9、再改进，在所述由adc口代替io口的短接口检测电路中，所述电压输入端的电压值为5v。

10、改进地，在所述由adc口代替io口的短接口检测电路中，所述单片机的adc采样端口允许输入的最大电压小于或者等于3.3v。

11、进一步地，在所述由adc口代替io口的短接口检测电路中，所述模式检测端口在短接插口短接时所对应的输出电压为2.5v。

12、再进一步地，在所述由adc口代替io口的短接口检测电路中，所述单片机的adc采样端口内部存在有分压电阻时，所述模式检测端口在短接插口短接时所对应的输出电压基于该分压电阻计算得到。

13、再改进，在所述由adc口代替io口的短接口检测电路中，所述第三电阻的电阻值为1kω，所述电容的容量为10nf。

14、本技术解决第二个技术问题所采用的技术方案为：电能表，其特征在于，应用有任一项所述的由adc口代替io口的短接口检测电路。

15、与现有技术相比，本技术的优点在于：在该技术的短接口检测电路中，不需要单片机具有充足的io口资源，仅仅通过单片机的adc采样端口连接待检测外接电路的模式检测端口，就可以实现单片机对短接插口处电压的检测，进而确定短接插口是否被短接，这样降低了短接插口的检测成本。

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【技术保护点】

1.由ADC口代替IO口的短接口检测电路，包括：

2.根据权利要求1所述的由ADC口代替IO口的短接口检测电路，其特征在于，所述第一电阻的电阻值为1MΩ，所述第二电阻的电阻值为1MΩ。

3.根据权利要求2所述的由ADC口代替IO口的短接口检测电路，其特征在于，所述电容的容量为10nF，所述电容的额定工作电压为50V。

4.根据权利要求1～3任一项所述的由ADC口代替IO口的短接口检测电路，其特征在于，所述电压输入端的电压值为5V。

5.根据权利要求1～3任一项所述的由ADC口代替IO口的短接口检测电路，其特征在于，所述单片机的ADC采样端口允许输入的最大电压小于或者等于3.3V。

6.根据权利要求5所述的由ADC口代替IO口的短接口检测电路，其特征在于，所述模式检测端口在短接插口短接时所对应的输出电压范围为2.0～2.9V。

7.根据权利要求6所述的由ADC口代替IO口的短接口检测电路，其特征在于，所述模式检测端口在短接插口短接时所对应的输出电压为2.5V。

8.根据权利要求7所述的由ADC口代替IO口的短接口检测电路，其特征在于，所述单片机的ADC采样端口内部存在有分压电阻时，该模式检测端口在短接插口短接时所对应的输出电压基于该分压电阻计算得到。

9.根据权利要求1所述的由ADC口代替IO口的短接口检测电路，其特征在于，所述第三电阻的电阻值为1kΩ，所述电容的容量为10nF。

10.电能表，其特征在于，应用有权利要求1～9任一项所述的由ADC口代替IO口的短接口检测电路。

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【技术特征摘要】

1.由adc口代替io口的短接口检测电路，包括：

2.根据权利要求1所述的由adc口代替io口的短接口检测电路，其特征在于，所述第一电阻的电阻值为1mω，所述第二电阻的电阻值为1mω。

3.根据权利要求2所述的由adc口代替io口的短接口检测电路，其特征在于，所述电容的容量为10nf，所述电容的额定工作电压为50v。

4.根据权利要求1～3任一项所述的由adc口代替io口的短接口检测电路，其特征在于，所述电压输入端的电压值为5v。

5.根据权利要求1～3任一项所述的由adc口代替io口的短接口检测电路，其特征在于，所述单片机的adc采样端口允许输入的最大电压小于或者等于3.3v。

6.根据权利要求5所述的由adc口代替io口的短接口检...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁小燕，周杰，王子豪，刘志成，黄顺双，周炜，黄苏云，
申请(专利权)人：宁波三星医疗电气股份有限公司，
类型：新型
国别省市：