一种增加光耦制作效率的装置制造方法及图纸

技术编号:41174590 阅读:131 留言:0更新日期:2024-04-30 18:39
本申请涉及一种增加光耦制作效率的装置,包括机柜,所述机柜的右侧下方设置出料区,且出料区的上方设置有切料区,所述出料区内设置有底板,且底板倾斜设置,所述底板向外延伸至机柜的外侧,且底板的底端抵接地面,所述底板的中部设置有导料板,且导料板向上延伸设置在切料区的底部,所述切料区内设置有分粒装置,且分粒装置的出料口下方连接设置有分料通道,所述分料通道与导料板上设置的入料轨道槽连接,且入料轨道槽的下方连接设置有拨料槽,所述入料轨道槽与拨料槽的连接处设置有高压测试区。本技术通过在单颗分粒机的出料结构中设置出料轨道以及高压测试区,能够对分粒后的光耦颗粒进行高压检测从而实现产品的测试和分粒。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及光耦加工设备的,尤其是涉及一种增加光耦制作效率的装置


技术介绍

1、光耦合器亦称光电隔离器,简称光耦。光耦合器以光为媒介传输电信号。它对输入、输出电信号有良好的隔离作用,所以,它在各种电路中得到广泛的应用。近些年来,它已成为种类最多、用途最广的光电器件之一。光耦合器一般由三部分组成:光的发射、光的接收及信号放大。输入的电信号驱动发光二极管(led),使之发出一定波长的光,被光探测器接收而产生光电流,再经过进一步放大后输出。

2、现有技术cn112775035a涉及一种光耦测试分选机高压测试装置,包括底板,底板上设有用以输送光耦的倾斜通道,通道的左右两侧对称设有测试爪组件,测试爪组件均经驱动机构驱动靠近或远离同侧的光耦引脚。该光耦测试分选机高压测试装置的结构简单,能够配合高压仪测试光耦耐压值,测试时测试爪组件均经驱动机构驱动靠近或远离同侧的光耦引脚,测试方便,效率高。

3、在现有的光耦在加工过程中需要先经过单颗切料,再依次进行高压检测,在实施过程中多为将切粒结构和高压检测机构属于两个工位至少需要两个操作员,增加了生产成本,本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种增加光耦制作效率的装置,包括机柜(1),其特征在于:所述机柜(1)上设置有显示屏(3),且显示屏(3)的下方设置控制按钮(4),所述机柜(1)的左侧下方设置有柜门(5),且柜门(5)上设置有显示窗(6),所述机柜(1)的右侧下方设置出料区(7),且出料区(7)的上方设置有切料区(8),所述出料区(7)内设置有底板(10),且底板(10)倾斜设置,所述底板(10)向外延伸至机柜(1)的外侧,且底板(10)的底端抵接地面,所述底板(10)的中部设置有导料板(17),且导料板(17)向上延伸设置在切料区(8)的底部,所述切料区(8)内设置有分粒装置,且分粒装置的出料口下方连接设置有分料...

【技术特征摘要】

1.一种增加光耦制作效率的装置,包括机柜(1),其特征在于:所述机柜(1)上设置有显示屏(3),且显示屏(3)的下方设置控制按钮(4),所述机柜(1)的左侧下方设置有柜门(5),且柜门(5)上设置有显示窗(6),所述机柜(1)的右侧下方设置出料区(7),且出料区(7)的上方设置有切料区(8),所述出料区(7)内设置有底板(10),且底板(10)倾斜设置,所述底板(10)向外延伸至机柜(1)的外侧,且底板(10)的底端抵接地面,所述底板(10)的中部设置有导料板(17),且导料板(17)向上延伸设置在切料区(8)的底部,所述切料区(8)内设置有分粒装置,且分粒装置的出料口下方连接设置有分料通道(9),所述分料通道(9)与导料板(17)上设置的入料轨道槽(12)连接,且入料轨道槽(12)的下方连接设置有拨料槽(14),所述入料轨道槽(12)与拨料槽(14)的连接处设置有高压测试区(22),所述拨料槽(14)的底部设置有下料组件(16),所述导料板(17)的一侧设置有废料收集箱(11),且导料板(17)的另外一侧设置有封管立槽(15),且封管立槽(15)内并排设置有多个封管(13)。

2.根据权利要求1所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员:谢伟杰王钧毅陈东水林庆海曾俊
申请(专利权)人:厦门久宏鑫光电有限公司
类型:新型
国别省市:

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