大面积地坪平整度检测装置制造方法及图纸

技术编号:41160124 阅读:4 留言:0更新日期:2024-04-30 18:23
本技术公开了一种大面积地坪平整度检测装置,包括:激光发射器,用于发射激光形成标高光线;移动底盘,用于支撑于待测地坪上;检测组件,包括活动杆和设置于活动杆上的激光接收盘,所述活动杆以可上下滑动的方式安装于移动底盘上,且所述活动杆的底部与地面接触,所述激光接收盘的周向设有用于反射标高光线的环形反光带,所述环形反光带的宽度值与待测地坪要求的平整度公差范围值适配;可在推动移动底盘移动的过程中通过观察环形反光带对标高光线的反射情况判定该待测点的高度值是否在合格公差范围内,快速筛选出地坪上平整度不合格的点位、区域,可极大的提升地坪平整度检测的检测速度,尤其适用于大面积地坪的平整度检测。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于建筑施工,具体涉及一种大面积地坪平整度检测装置


技术介绍

1、地坪是指使用特定材料和工艺对原有地面进行施工处理并呈现出一定装饰性和功能性的地面。地坪平整度指的是地坪表面相对于理想平面的竖向偏差,是地坪制作完成后需要检测验收的重要指标。

2、目前,在进行地坪平整度检测时,基本都是利用水平测量尺配合塞规进行检测,当水平测量尺的两端与地面接触后,通过塞规对水平尺的中部与地面之间的间隙进行检测,检测较为繁琐;且基本都是现场抽取一定比例、一定数量的点位进行抽查测量,不能完整的测量到大部分点位。这种传统的地坪平整度检测方式,对于一些需要进行多点位平整度检测的大面积地坪不再适用。因此亟需设计一种用于大面积地坪平整度检测的检测装置,要求可以提高检测速度,可快速筛选出地坪上平整度不合格的区域。


技术实现思路

1、有鉴于此,本技术的目的在于提供一种大面积地坪平整度检测装置,具有较高的检测速度,采用该种检测装置可快速筛选出地坪上平整度不合格的区域。

2、为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种大面积地坪平整度检测装置,包括:激光发射器,用于发射激光形成标高光线;移动底盘,用于支撑于待测地坪上;检测组件,包括活动杆和设置于活动杆上的激光接收盘,所述活动杆以可上下滑动的方式安装于移动底盘上,且所述活动杆的底部与地面接触,所述激光接收盘的周向设有用于反射标高光线的环形反光带,所述环形反光带的宽度值与待测地坪要求的平整度的合格公差范围值相等。

3、进一步,所述激光接收盘包括固定于活动杆上部的盘主体和内置于盘主体内的反射盘,所述盘主体为透明盘,所述反射盘的外周面上贴设有环形反光膜,所述环形反光膜形成环形反光带。

4、进一步,所述环形反光膜具有由上而下依次设置且颜色各不相同的环状反光区域ⅰ、环状反光区域ⅱ和环状反光区域ⅲ。

5、进一步,所述盘主体的上端面设有上部开口的环形槽,所述反射盘与所述环形槽适形设置并可拆卸的卡接于环形槽内。

6、进一步,所述盘主体以可被驱动上下滑动的方式安装于活动杆上,且所述活动杆上标刻有用于标示盘主体位置的刻度。

7、进一步,所述移动底盘包括底板和固定于底板上的滑座,所述活动杆以单自由度上下滑动的方式安装于滑座内。

8、进一步,所述活动杆的底端活动连接有支撑于地面的滚动球。

9、进一步,所述移动底盘还包括三组万向脚轮,三组万向脚轮均布固定于底板的底面。

10、进一步,还包括伸缩推杆,所述伸缩推杆与移动底盘铰接连接。

11、进一步,所述活动杆为空心管。

12、本技术的有益效果如下:

13、本技术提供的大面积地坪平整度检测装置,可在推动移动底盘移动的过程中通过观察环形反光带对标高光线的反射情况判定该待测点的高度值是否在合格公差范围内,快速筛选出地坪上平整度不合格的点位、区域,可极大的提升地坪平整度检测的检测速度,操作简单,劳动强度低,尤其适用于大面积地坪的平整度检测,且整个推动路径上的点位都被检测,即可对地坪大部分区域进行检测,提高地坪工程质量评估的准确性。

14、本技术的其他优点、目标和特征在某种程度上将在随后的说明书中进行阐述,并且在某种程度上,基于对下文的考察研究对本领域技术人员而言将是显而易见的,或者可以从本技术的实践中得到教导。本技术的目标和其他优点可以通过下面的说明书来实现和获得。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种大面积地坪平整度检测装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的大面积地坪平整度检测装置,其特征在于:所述激光接收盘(3)包括固定于活动杆(2)上部的盘主体(301)和内置于盘主体(301)内的反射盘(302),所述盘主体(301)为透明盘,所述反射盘(302)的外周面上贴设有环形反光膜(302a),所述环形反光膜(302a)形成环形反光带(3a)。

3.根据权利要求2所述的大面积地坪平整度检测装置,其特征在于:所述环形反光膜(302a)具有由上而下依次设置且颜色各不相同的环状反光区域Ⅰ(302a1)、环状反光区域Ⅱ(302a2)和环状反光区域Ⅲ(302a2)。

4.根据权利要求2所述的大面积地坪平整度检测装置,其特征在于:所述盘主体(301)的上端面设有上部开口的环形槽(301a),所述反射盘(302)与所述环形槽(301a)适形设置并可拆卸的卡接于环形槽(301a)内。

5.根据权利要求2所述的大面积地坪平整度检测装置,其特征在于:所述盘主体(301)以可被驱动上下滑动的方式安装于活动杆(2)上,且所述活动杆(2)上标刻有用于标示盘主体(301)位置的刻度。

6.根据权利要求1所述的大面积地坪平整度检测装置,其特征在于:所述移动底盘(1)包括底板(101)和固定于底板(101)上的滑座(102),所述活动杆(2)以单自由度上下滑动的方式安装于滑座(102)内。

7.根据权利要求6所述的大面积地坪平整度检测装置,其特征在于:所述活动杆(2)的底端活动连接有支撑于地面的滚动球(201)。

8.根据权利要求6所述的大面积地坪平整度检测装置,其特征在于:所述移动底盘(1)还包括三组万向脚轮(103),三组万向脚轮(103)均布固定于底板(101)的底面。

9.根据权利要求1所述的大面积地坪平整度检测装置,其特征在于:还包括伸缩推杆(4),所述伸缩推杆(4)与移动底盘(1)铰接连接。

10.根据权利要求1所述的大面积地坪平整度检测装置,其特征在于:所述活动杆(2)为空心管。

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【技术特征摘要】

1.一种大面积地坪平整度检测装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的大面积地坪平整度检测装置,其特征在于:所述激光接收盘(3)包括固定于活动杆(2)上部的盘主体(301)和内置于盘主体(301)内的反射盘(302),所述盘主体(301)为透明盘,所述反射盘(302)的外周面上贴设有环形反光膜(302a),所述环形反光膜(302a)形成环形反光带(3a)。

3.根据权利要求2所述的大面积地坪平整度检测装置,其特征在于:所述环形反光膜(302a)具有由上而下依次设置且颜色各不相同的环状反光区域ⅰ(302a1)、环状反光区域ⅱ(302a2)和环状反光区域ⅲ(302a2)。

4.根据权利要求2所述的大面积地坪平整度检测装置,其特征在于:所述盘主体(301)的上端面设有上部开口的环形槽(301a),所述反射盘(302)与所述环形槽(301a)适形设置并可拆卸的卡接于环形槽(301a)内。

5.根据权利要求2所述的大面积地坪平整度检测装置,其特征在于:...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨洋李正宁王成张野邱长林黄川石胜武
申请(专利权)人:中冶建工集团有限公司
类型:新型
国别省市:

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