System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种电机主轴形态的分析方法技术_技高网
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一种电机主轴形态的分析方法技术

技术编号:41131182 阅读:4 留言:0更新日期:2024-04-30 18:00
本发明专利技术涉及主轴形态分析技术领域,尤其涉及一种电机主轴形态的分析方法。该方法包括以下步骤:对主轴结构进行拓扑结构分析,以生成拓扑结构数据;根据拓扑结构数据利用激光干涉仪对主轴结构进行光照照射,获取光学形变数据;对光学形变数据进行光学空间分布分析,以构建光学干涉图;对光学干涉图进行光学路径干涉分析,以生成光学路径曲率;对光学路径曲率进行干涉条纹形态分析,以生成条纹密度特征数据;基于条纹密度特征数据对拓扑结构数据进行动态受力仿真,获取动态受力数据;对动态受力数据进行振动时频分析,生成振动谐波数据。本发明专利技术实现了高效,准确的主轴形态分析。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及主轴形态分析,尤其涉及一种电机主轴形态的分析方法


技术介绍

1、电机主轴作为传动电机的关键部件,长期承担起驱动和传力工作。随着工业自动化水平不断提高,电机主轴被广泛应用于各种移动、搬运装置以实现机器人系统和生产线的自动化运行。在长时间连续工作的过程中,电机主轴可能会受到各种内外部影响因素的影响,如部件磨损、负载变化、机械振动等,这些因素可能会引起主轴形态异常,进而影响传动性能甚至导致故障。传统主轴形态检测方法依赖人工观测和手动测试,往往存在着分析不准确、效率不高的问题,因此,为了满足现代主轴形态分析的需求,需要一种智能化电机主轴形态的分析方法。


技术实现思路

1、本专利技术为解决上述技术问题,提出了一种电机主轴形态的分析方法,以解决至少一个上述技术问题。

2、为实现上述目的,本专利技术提供一种电机主轴形态的分析方法,包括以下步骤:

3、步骤s1:对主轴结构进行拓扑结构分析,以生成拓扑结构数据;根据拓扑结构数据利用激光干涉仪对主轴结构进行光照照射,获取光学形变数据;对光学形变数据进行光学空间分布分析,以构建光学干涉图;

4、步骤s2:对光学干涉图进行光学路径干涉分析,以生成光学路径曲率;对光学路径曲率进行干涉条纹形态分析,以生成条纹密度特征数据;

5、步骤s3:基于条纹密度特征数据对拓扑结构数据进行动态受力仿真,获取动态受力数据;对动态受力数据进行振动时频分析,生成振动谐波数据;根据振动谐波数据对拓扑结构数据进行振动阶次分析,以生成振动阶次特征数据;

6、步骤s4:对振动阶次特征数据进行共振模态分析,以生成共振模态参数;对共振模态参数进行共振峰值计算,以获取共振峰值数据;

7、步骤s5:根据共振峰值数据对拓扑结构数据进行异常振动缺陷分析,以生成异常振动缺陷数据;基于异常振动缺陷数据对拓扑结构数据进行故障诊断,以生成故障分析策略;

8、步骤s6:利用循环卷积算法对故障诊断策略进行膨胀卷积,构建故障分析模型,以执行主轴形态分析作业。

9、本专利技术通过拓扑结构分析提供了主轴的整体结构信息,主轴形态为各种各样,例如为多个不规则形状的多面体组成,例如为曲拐状,平面状或者l形状等。拓扑结构分析还识别了潜在的薄弱点和应力集中区域,这有助于更好地理解主轴的设计特点,以及在实际工作负载下可能出现的问题,获取的拓扑结构数据为后续分析提供了基础,确保在更深入的步骤中准确定位分析的区域,光学形变数据则为了解主轴受力情况提供了量化信息,这些微小形变可用于分析主轴的弯曲状态和应力分布,有助于早期发现问题,拓扑结构分析不仅提供了主轴的整体结构信息,识别了潜在的薄弱点和应力集中区域,更好地理解主轴的设计特点,以及在实际工作负载下可能出现的问题,获取的拓扑结构数据为后续分析提供了基础,确保在更深入的步骤中准确定位分析的区域,光学形变数据则为了解主轴受力情况提供了量化信息,这些微小形变可用于分析主轴的弯曲状态和应力分布,有助于早期发现问题,动态受力仿真具体为在一段时间内持续的对主轴形态进行受力仿真,模拟了主轴在实际工作条件下的受力情况,包括承受的负载和振动,这对于评估主轴的性能和稳定性非常重要,模拟了实际工作环境中的应力情况,振动特征数据生成通过分析振动信号,可以确定主轴振动的频率、振动模式和振动幅度,有助于预测主轴在不同工况下的振动行为,特别是在共振频率附近的振动情况,共振模态分析识别了主轴可能出现的共振频率和模态,这是非常关键的信息,因为共振可以导致主轴的破坏或失效,共振峰值计算确定了共振状态下主轴的关键参数,例如共振频率和振幅,这些参数帮助更好地了解主轴在共振条件下的行为,从而采取必要的措施来减轻共振效应,异常振动缺陷分析利用共振峰值数据,可以检测主轴是否存在异常振动情况,这有助于及早发现潜在的问题,以防止主轴失效,生成故障诊断策略是基于异常振动数据,针对不同的故障情况制定具体的维修或更换计划,这确保了主轴的可靠性和持久性,利用循环卷积算法对故障诊断策略进行膨胀卷积,构建故障分析模型,实现对主轴形态的全面分析,这个模型不仅能够检测和预测主轴的异常振动情况,还可以根据历史数据和实时监测数据不断改进故障诊断策略,提高系统的自适应性和故障诊断的准确性,这有助于确保主轴的可维护性和稳定性。

10、优选地,步骤s1包括以下步骤:

11、步骤s11:对主轴结构进行拓扑结构分析,以生成拓扑结构数据;

12、步骤s12:根据拓扑结构数据利用激光干涉仪对主轴结构进行光照照射,获取光照照射光线;

13、步骤s13:利用计算机视觉技术对光照照射光线进行光流视觉捕捉处理,生成光流向量数据;

14、步骤s14:对光流向量数据进行动态光流形变分析,获取光学形变数据;

15、步骤s15:对光学形变数据进行光学空间分布分析,以生成光学空间分布数据;

16、步骤s16:对光学空间分布数据进行光照场演变处理,以构建光学干涉图。

17、本专利技术通过拓扑结构分析,可以理解主轴形态的内部结构和相互关系,这有助于确定主轴的弯曲情况,并为后续步骤提供了关键的起始数据,光照照射能够通过干涉效应来获取主轴的形状信息,这有助于非接触式地测量主轴的变形和弯曲,从而确保测量的准确性和高精度,光流视觉捕捉处理可以跟踪光线的位移和运动,从而生成光流向量数据,这些向量数据提供了光线在主轴表面上的运动信息,有助于识别主轴的形状和表面的变化,动态光流形变分析可以充分了解主轴在时间上的形状变化,这有助于检测主轴的振动、弯曲和其他动态变化,提供了更全面的形变信息,光学形变数据分析可以揭示主轴表面的局部和全局形状特征,这有助于确定主轴的三维形状,并提供了构建光学干涉图所需的数据,光照场演变处理结合了前面步骤中获取的数据,构建光学干涉图,这个图像可以显示主轴表面的干涉和形变模式,帮助进一步分析和理解主轴的状态和性能。

18、优选地,步骤s2包括以下步骤:

19、步骤s21:利用光线追踪法对光学干涉图进行路径追踪,生成光学路径数据;

20、步骤s22:对路径数据光学路径干涉分析,以生成光学干涉分析数据;

21、步骤s23:对光学干涉分析数据进行路径曲率分析,以生成光学路径曲率;

22、步骤s24:对光学路径曲率进行干涉条纹形态分析,生成干涉条纹形态图;

23、步骤s25:对干涉条纹形态图进行条纹扭曲检测,以获取条纹扭曲数据;

24、步骤s26:对条纹扭曲数据进行相位分析,以生成条纹扭曲相位参数;

25、步骤s27:对条纹扭曲相位参数进行条纹密度特征分析,以生成条纹密度特征数据。

26、本专利技术通过光线追踪法能够模拟光线在光学系统中的传播路径,生成光学路径数据,提供了每个光线的路径信息,有助于后续的干涉分析,对光学路径数据进行干涉分析,以获得干涉现象的数据,这包括干涉图案、相位信息等,这有助于理解光学系统中的干涉现象,例如干本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种电机主轴形态的分析方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤S1的具体步骤为:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤S2的具体步骤为:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤S3的具体步骤为:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,步骤S36的具体步骤为:

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,阶跃响应模拟包括一阶瞬态受力施压及二阶瞬态受力施压,步骤S361的具体步骤为:

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤S4的具体步骤为:

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,步骤S44中的主轴形态共振峰值计算公式具体为:

9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤S5的具体步骤为:

10.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤S6的具体步骤为:

【技术特征摘要】

1.一种电机主轴形态的分析方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤s1的具体步骤为:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤s2的具体步骤为:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤s3的具体步骤为:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,步骤s36的具体步骤为:

6.根据权利要求5所述的方法,其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员:沈新良白海洋詹德强
申请(专利权)人:沈新良
类型:发明
国别省市:

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