一种光谱仪的波长校准方法技术

技术编号:41085856 阅读:35 留言:0更新日期:2024-04-25 13:47
本发明专利技术提供一种光谱仪的波长校准方法,包括:基于光谱仪采集光源的全光谱光强;根据多个理论特征峰波长,在全光谱光强上找到每个理论特征峰波长附近范围内的最大光强,并获取最大光强邻域内的所有光强;根据每一个邻域内的所有光强对应的原始波长,拟合迭代出对应的拟合特征峰波长;根据每一个邻域内的拟合特征峰波长和理论特征峰波长,采用预设修正方式对每一个原始波长进行修正。本发明专利技术通过光源的多个特征峰对光谱仪的波长进行校准,克服了在光谱仪的使用过程中,由于外界温度、压强、光学器件机械与光学缺陷等因素造成显示波长与实际波长存在系统偏差的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学/材料领域的光谱测量,更具体地,涉及一种光谱仪的波长校准方法


技术介绍

1、光谱仪广泛应用于天文学、生物、化学、半导体、成分检测等领域。相关领域通过采集光谱仪的数据进行算法处理得到相应结果,但光谱仪的波长准确性直接影响了最后算法的精度。在长时间使用过程中,外界的环境温度、压强、光学器件机械与光学缺陷等因素会影响光谱仪的波长准确性,因此需要对光谱仪进行波长校准。


技术实现思路

1、本专利技术针对现有技术中存在的技术问题,提供一种光谱仪的波长校准方法,包括:

2、基于光谱仪采集光源的全光谱光强,所述全光谱光强包括所有原始波长对应的光强信息;

3、根据多个理论特征峰波长,在所述全光谱光强上找到每个理论特征峰波长附近范围内的最大光强,并获取所述最大光强邻域内的所有光强,对所述邻域内的所有光强进行归一化;

4、根据每一个邻域内的所有归一化光强对应的原始波长,拟合迭代出对应的拟合特征峰波长;

5、根据每一个邻域内的拟合特征峰波长和理论特征峰波长,采用预设本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光谱仪的波长校准方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的波长校准方法,其特征在于,所述根据多个理论特征峰的波长,在所述全光谱光强上找到每个理论特征峰波长附近范围内的最大光强,包括:

3.根据权利要求1或2所述的波长校准方法,其特征在于,所述获取所述最大光强邻域内的所有光强,对所述邻域内的所有光强进行归一化,包括:

4.根据权利要球3所述的波长校准方法,其特征在于,所述根据每一个邻域内的所有归一化光强对应的原始波长,拟合迭代出对应的拟合特征峰波长,包括:

5.根据权利要求4所述的波长校准方法,其特征在于,所述光学模型为Gau...

【技术特征摘要】

1.一种光谱仪的波长校准方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的波长校准方法,其特征在于,所述根据多个理论特征峰的波长,在所述全光谱光强上找到每个理论特征峰波长附近范围内的最大光强,包括:

3.根据权利要求1或2所述的波长校准方法,其特征在于,所述获取所述最大光强邻域内的所有光强,对所述邻域内的所有光强进行归一化,包括:

4.根据权利要球3所述的波长校准方法,其特征在于,所述根据每一个邻域内的所有归一化光强对应的原始波长,拟合迭代出对应的拟合特征峰波长,包括:

5.根据权利要求4所述的波长校准方法,其特征在于,所述光学模型为gauss模型或...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘亚鼎王瑞陈军项雅波江攀王小康
申请(专利权)人:武汉颐光科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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