【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及毫米波测试设备的，更具体的说是涉及一种毫米波多馈源紧缩场测试暗室。
技术介绍
1、第五代通信技术具有更高的可靠性，更低的时延，能够满足智能制造、自动驾驶等行业应用的特定需求，拓宽融合产业的发展空间，支撑经济社会创新发展。与此同时，第五代移动通讯产品的通信频段为700mhz～60ghz，产品所需测试的范围更宽、更高，第五代通讯产品的测试更加严格，针对不同的电子设备，需要让测试屏蔽箱内的测试天线移动到合适的点位。
2、目前，天线特性参数的测量方式主要包括：远场测量、紧缩场测量以及近场测量，依据天线的测试理论和辐射参数指标，部分应在远场区域进行测试的天线需要使用大型的天线暗室或紧缩场暗室，但这两种暗室的建设成本和门槛都相对较高，针对传统的紧缩场暗室，在峰值测试条件下，只能测试固定角度的波束，仅支持两流波束测试，对于高于两流的测试，传统的紧缩场暗室测试受限。
技术实现思路
1、针对现有技术存在的不足，本专利技术的目的在于提供一种毫米波多馈源紧缩场测试暗室，该种多馈源紧缩场测试暗室以多角度增加了多个来波信号数据流的接收，提升高性能产品测试能力，且多馈源，提升了产品测试的准确性。
2、为实现上述目的，本专利技术提供了如下技术方案：
3、一种毫米波多馈源紧缩场测试暗室，包括箱体以及位于箱体内的测试组件，所述箱体内壁设有吸波面，所述测试组件包括测试件、至少一组馈源天线以及至少一组反射件，所述馈源天线和反射件均滑动连接在箱体的内底面上，且所述馈源天线
4、进一步的，所述箱体内底面上设有第一圆弧滑轨，所述第一圆弧滑轨以测试转台为圆心，所述馈源天线可移动地连接在第一圆弧滑轨上。
5、进一步的，所述箱体内底面上设有第二圆弧滑轨，所述第二圆弧滑轨以测试转台为圆心，所述第二圆弧滑轨的直径大于第一圆弧滑轨的直径，所述反射件可移动地连接在第二圆弧滑轨上。
6、进一步的，所述馈源天线与反射件之间通过连接架连接。
7、进一步的，所述测试件包括测试转台，所述测试转台可在多方位角度旋转，且能够在水平面上移动。
8、进一步的，所述反射件为反射镜，所述反射镜具有与第二圆弧滑轨同弧的弧度，所述馈源天线倾斜朝向反射镜。
9、进一步的，所述测试转台的高度与反射镜的中心高度相同。
10、进一步的，所述第一圆弧滑轨与第二圆弧滑轨之间设有阻隔条，所述阻隔条与第一圆弧滑轨的中轴线重合。
11、本专利技术的有益效果：1、多角度，增加了多个来波信号数据流的接收，提升高性能产品测试能力，相比于传统的紧缩场，在峰值测试时，只能接收固定方向的一个波束信号，本专利技术将反射镜和馈源天线分别固定在静区中心为圆心的同心圆弧导轨上，确保在同心圆弧导轨上滑动时，相对位置不发生变化，待测物放置在静区中心的测试转台上，这样随着反射镜及馈源天线在对应的弧形导轨上滑动，可以实现不同来波方向的波束，为了增加多个来波的同时产生，在弧形导轨上增加一套反射镜和馈源天线，让其产生另外方向的来波，一方面增加了峰值测试时的波束数量，另外一方面，有助于提升静区范围，提升产品性能测试能力。
12、2、多馈源，提升了产品测试的准确性，相比于传统的紧缩场，只有一个馈源天线和一个反射镜或者两个至三个反射镜，只能接收一个方向的来波信号，静区范围也是固定方向，本专利技术，有两个馈源天线，一个馈源天线和一个反射镜接收静区左边缘方向的来波信号，另外一个馈源天线和反射反射镜可以接收静区右边缘的来波信号，这样可以更加准确的测试多波束信号，避免信号的测试误差大；从结构上，两套反射反射镜和馈源天线的静区中心是同一个，且馈源到反射反射镜天线距离相等，保证具有同样的静区范围，接收同一个产品的不同波束信号的测试准确性。
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1.一种毫米波多馈源紧缩场测试暗室，包括箱体(1)以及位于箱体(1)内的测试组件(3)，所述箱体(1)内壁设有吸波面(2)，其特征在于：所述测试组件(3)包括测试件、至少一组馈源天线(32)以及至少一组反射件(33)，所述馈源天线(32)和反射件(33)均滑动连接在箱体(1)的内底面上，且所述馈源天线(32)和反射件(33)均以测试件为圆心滑动形成弧形路径，所述测试件、馈源天线(32)以及反射件(33)始终位于一条直线上，所述馈源天线(32)的弧形路径的直径小于所述反射件(33)的弧形路径的直径。
2.根据权利要求1所述一种毫米波多馈源紧缩场测试暗室，其特征在于：所述箱体(1)内底面上设有第一圆弧滑轨(4)，所述第一圆弧滑轨(4)以测试转台(31)为圆心，所述馈源天线(32)可移动地连接在第一圆弧滑轨(4)上。
3.根据权利要求2所述一种毫米波多馈源紧缩场测试暗室，其特征在于：所述箱体(1)内底面上设有第二圆弧滑轨(5)，所述第二圆弧滑轨(5)以测试转台(31)为圆心，所述第二圆弧滑轨(5)的直径大于第一圆弧滑轨(4)的直径，所述反射件(33)可移动地连接
4.根据权利要求3所述一种毫米波多馈源紧缩场测试暗室，其特征在于：所述馈源天线(32)与反射件(33)之间通过连接架(6)连接。
5.根据权利要求4所述一种毫米波多馈源紧缩场测试暗室，其特征在于：所述测试件包括测试转台(31)，所述测试转台(31)可在多方位角度旋转，且能够在水平面上移动。
6.根据权利要求5所述一种毫米波多馈源紧缩场测试暗室，其特征在于：所述反射件(33)为反射镜，所述反射镜具有与第二圆弧滑轨(5)同弧的弧度，所述馈源天线(32)倾斜朝向反射镜。
7.根据权利要求6所述一种毫米波多馈源紧缩场测试暗室，其特征在于：所述测试转台(31)的高度与反射镜的中心高度相同。
8.根据权利要求3或7所述一种毫米波多馈源紧缩场测试暗室，其特征在于：所述第一圆弧滑轨(4)与第二圆弧滑轨(5)之间设有阻隔条(7)，所述阻隔条(7)与第一圆弧滑轨(4)的中轴线重合。
...【技术特征摘要】
1.一种毫米波多馈源紧缩场测试暗室，包括箱体(1)以及位于箱体(1)内的测试组件(3)，所述箱体(1)内壁设有吸波面(2)，其特征在于：所述测试组件(3)包括测试件、至少一组馈源天线(32)以及至少一组反射件(33)，所述馈源天线(32)和反射件(33)均滑动连接在箱体(1)的内底面上，且所述馈源天线(32)和反射件(33)均以测试件为圆心滑动形成弧形路径，所述测试件、馈源天线(32)以及反射件(33)始终位于一条直线上，所述馈源天线(32)的弧形路径的直径小于所述反射件(33)的弧形路径的直径。
2.根据权利要求1所述一种毫米波多馈源紧缩场测试暗室，其特征在于：所述箱体(1)内底面上设有第一圆弧滑轨(4)，所述第一圆弧滑轨(4)以测试转台(31)为圆心，所述馈源天线(32)可移动地连接在第一圆弧滑轨(4)上。
3.根据权利要求2所述一种毫米波多馈源紧缩场测试暗室，其特征在于：所述箱体(1)内底面上设有第二圆弧滑轨(5)，所述第二圆弧滑轨(5)以测试转台(31)为圆心，所述第二圆弧滑轨(5...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵晶晶，徐述武，田苗，马长春，
申请(专利权)人：杭州永谐科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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