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基于拟态裁决的测量数据处理方法、装置、测量系统制造方法及图纸

技术编号:41065563 阅读:4 留言:0更新日期:2024-04-24 11:19
本发明专利技术提出了基于拟态裁决的测量数据处理方法、装置、测量系统,该方法包括:基于初始校准数据同步生成第一校准参数和第二校准参数,将第二校准参数保存至EEPROM;基于第一校准参数生成第三校准参数;当件获取到目标测量数据,基于第三校准参数确定第一测量结果,基于第二校准参数确定第二测量结果;基于第一测量结果和第二测量结果的参考数值差和预设误差确定拟态裁决标识;裁决通过后将目标测量结果和拟态裁决标识确定为目标输出结果。根据本发明专利技术实施例的技术方案,能够利用EEPROM存储的只读数据实现初始校准数据的全景回溯;基于拟态裁决对数据的进行实时评判,能够进行实时拦截或报警,提高测量系统的防篡改能力和可靠性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及计量检测,特别涉及一种基于拟态裁决的测量数据处理方法、装置、测量系统


技术介绍

1、目前,自动测量系统能够对物质进行浓度、重量等的自动计量,当前主流的自动测量系统在实际运行时,都要遵从相应的行业规范或操作指导进行定期(或关键时刻)的校准操作,而校准过程的操作权限必须开放给现场运行或运维角色,从而导致运行或运维角色就有了根据自身意图调整标准曲线参数的可能性。在技术层面,虽然在各种行业规范中都明确要求不得肆意更改标准曲线,但结合自动测量系统对标准曲线拟制的开放机制,就相当于对实际操作人员开了一个无限度修改校准参数进而影响测量数据准确性的窗口,导致篡改标准曲线导致测量数据失真的机率就大幅增加,并且篡改数据的行为很难回溯,影响测量系统的可靠性。


技术实现思路

1、本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本专利技术提出一种基于拟态裁决的测量数据处理方法、装置、测量系统,能够通过拟态系统实现测量数据的裁决,提高测量系统的防篡改能力,提高测量系统的可靠性。

2、第一方面,本专利技术实施例提供了一种基于拟态裁决的测量数据处理方法,应用于测量系统,所述测量系统包括校准组件、拟态组件和电可擦除可编程只读存储器eeprom,所述基于拟态裁决的测量数据处理方法包括:

3、通过所述校准组件获取初始校准数据,基于所述初始校准数据同步生成可调校准曲线参数和只读校准曲线参数,基于所述可调校准曲线参数生成第一校准参数,基于所述只读校准曲线参数同步生成第二校准参数,将所述第二校准参数保存至eeprom;

4、通过所述校准组件生成第三校准参数,其中,所述第三校准参数等于所述第一校准参数,或者,所述第三校准参数通过修正所述可调校准曲线参数后得到;

5、当获取到目标测量数据,所述拟态组件从所述校准组件获取所述第三校准参数,从所述eeprom获取所述第二校准参数,基于所述第三校准参数和所述目标测量数据确定第一测量结果,基于所述第二校准参数和所述目标测量数据确定第二测量结果;

6、所述拟态组件基于所述第一测量结果和所述第二测量结果确定参考数值差,基于所述参考数值差和预设误差确定拟态裁决标识,其中,当所述参考数值差大于所述预设误差,所述拟态裁决标识表征裁决不通过,或者,当所述参考数值差小于或等于所述预设误差,所述拟态裁决标识表征裁决通过;

7、当所述拟态裁决标识表征裁决通过,基于所述第一测量结果和所述第二测量结果的大小关系确定目标测量结果,将所述目标测量结果和所述拟态裁决标识确定为目标输出结果。

8、根据本专利技术的一些实施例,所述初始校准数据包括零点校准数据、量程校准数据和标准物校准数据,所述零点校准数据为所述测量系统置零且无承载物时的测量数据,所述量程校准数据用于指示所述测量系统的测量范围,所述标准物校准数据为标准物的测量值,所述标准物为测量值已知的物品。

9、根据本专利技术的一些实施例,所述通过所述校准组件获取初始校准数据,基于所述初始校准数据同步生成可调校准曲线参数和只读校准曲线参数,包括:

10、当所述校准组件获取到所述初始校准数据,同步复制所述初始校准数据得到镜像校准数据,将所述镜像校准数据保存至所述eeprom;

11、所述校准组件基于所述初始校准数据生成所述可调校准曲线参数,基于所述eeprom存储的所述镜像校准数据生成所述只读校准曲线参数。

12、根据本专利技术的一些实施例,在将所述镜像校准数据保存至所述eeprom之后,所述方法还包括:

13、所述校准组件获取多组初始校准数据;

14、当多组所述初始校准数据为相同的数据,生成一组所述镜像校准数据。

15、根据本专利技术的一些实施例,所述基于所述第一测量结果和所述第二测量结果的大小关系确定目标测量结果,包括:

16、当所述参考数值差小于所述预设误差,所述拟态组件将所述第一测量结果确定为所述目标测量结果;

17、或者,当参考数值差等于所述预设误差,且所述第一测量结果大于所述第二测量结果,所述拟态组件将所述第二测量结果与误差随机值之和确定为所述目标测量结果,其中,所述误差随机值为小于所述预设误差的正数;

18、或者,当参考数值差等于所述预设误差,且所述第一测量结果小于所述第二测量结果,所述拟态组件将所述第一测量结果与所述误差随机值之和确定为所述目标测量结果。

19、根据本专利技术的一些实施例,在将所述目标测量结果和所述拟态裁决标识确定为目标输出结果之后,所述方法还包括:

20、所述拟态组件将所述第一测量结果确定为原始输出结果;

21、所述拟态组件将所述目标测量结果、所述拟态裁决标识和所述原始输出结果确定为目标输出结果。

22、根据本专利技术的一些实施例,在所述基于所述参考数值差和预设误差确定拟态裁决标识之后,所述方法还包括:

23、当所述拟态裁决标识表征裁决不通过,将所述第二测量结果确定为所述目标测量结果;

24、将所述目标测量结果和所述拟态裁决标识确定为目标输出结果;

25、基于预设的放行条件确定是否输出所述目标输出结果,其中,所述放行条件用于指示所述拟态裁决标识表征裁决不通过时输出所述目标输出结果的条件。

26、第二方面,本专利技术实施例提供了一种基于拟态裁决的测量数据处理装置,包括少一个控制处理器和用于与所述至少一个控制处理器通信连接的存储器;所述存储器存储有可被所述至少一个控制处理器执行的指令,所述指令被所述至少一个控制处理器执行,以使所述至少一个控制处理器能够执行如上述第一方面所述的基于拟态裁决的测量数据处理方法。

27、第三方面,本专利技术实施例提供了一种测量系统,包括有如上述第二方面所述的基于拟态裁决的测量数据处理装置。

28、第四方面,本专利技术实施例提供了一种计算机可读存储介质,存储有计算机可执行指令,所述计算机可执行指令用于执行如上述第一方面所述的基于拟态裁决的测量数据处理方法。

29、根据本专利技术实施例的基于拟态裁决的测量数据处理方法,至少具有如下有益效果:通过所述校准组件获取初始校准数据,基于所述初始校准数据同步生成可调校准曲线参数和只读校准曲线参数,基于所述可调校准曲线参数生成第一校准参数,基于所述只读校准曲线参数同步生成第二校准参数,将所述第二校准参数保存至eeprom;通过所述校准组件生成第三校准参数,其中,所述第三校准参数等于所述第一校准参数,或者,所述第三校准参数通过修正所述可调校准曲线参数后得到;当获取到目标测量数据,所述拟态组件从所述校准组件获取所述第三校准参数,从所述eeprom获取所述第二校准参数,基于所述第三校准参数和所述目标测量数据确定第一测量结果,基于所述第二校准参数和所述目标测量数据确定第二测量结果;所述拟态组件基于所述第一测量结果和所述第二测量结果确定参考数值差,基于所述参考数值差和预设误差确定拟态裁决标识,其中,当所述参考数值差大本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于拟态裁决的测量数据处理方法,其特征在于,应用于测量系统,所述测量系统包括校准组件、拟态组件和电可擦除可编程只读存储器EEPROM,所述基于拟态裁决的测量数据处理方法包括:

2.根据权利要求1所述的基于拟态裁决的测量数据处理方法,其特征在于,所述初始校准数据包括零点校准数据、量程校准数据和标准物校准数据,所述零点校准数据为所述测量系统置零且无承载物时的测量数据,所述量程校准数据用于指示所述测量系统的测量范围,所述标准物校准数据为标准物的测量值,所述标准物为测量值已知的物品。

3.根据权利要求2所述的基于拟态裁决的测量数据处理方法,其特征在于,所述通过所述校准组件获取初始校准数据,基于所述初始校准数据同步生成可调校准曲线参数和只读校准曲线参数,包括:

4.根据权利要求3所述的基于拟态裁决的测量数据处理方法,其特征在于,在将所述镜像校准数据保存至所述EEPROM之后,所述方法还包括:

5.根据权利要求1所述的基于拟态裁决的测量数据处理方法,其特征在于,所述基于所述第一测量结果和所述第二测量结果的大小关系确定目标测量结果,包括:

6.根据权利要求5所述的基于拟态裁决的测量数据处理方法,其特征在于,在将所述目标测量结果和所述拟态裁决标识确定为目标输出结果之后,所述方法还包括:

7.根据权利要求1所述的基于拟态裁决的测量数据处理方法,其特征在于,在所述基于所述参考数值差和预设误差确定拟态裁决标识之后,所述方法还包括:

8.一种基于拟态裁决的测量数据处理装置,包括少一个控制处理器和用于与所述至少一个控制处理器通信连接的存储器;所述存储器存储有可被所述至少一个控制处理器执行的指令,所述指令被所述至少一个控制处理器执行,以使所述至少一个控制处理器能够执行如权利要求1至7任一项所述的基于拟态裁决的测量数据处理方法。

9.一种测量系统,包括有如权利要求8所述的基于拟态裁决的测量数据处理装置。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令,所述计算机可执行指令用于使计算机执行如权利要求1至7任一项所述的基于拟态裁决的测量数据处理方法。

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【技术特征摘要】

1.一种基于拟态裁决的测量数据处理方法,其特征在于,应用于测量系统,所述测量系统包括校准组件、拟态组件和电可擦除可编程只读存储器eeprom,所述基于拟态裁决的测量数据处理方法包括:

2.根据权利要求1所述的基于拟态裁决的测量数据处理方法,其特征在于,所述初始校准数据包括零点校准数据、量程校准数据和标准物校准数据,所述零点校准数据为所述测量系统置零且无承载物时的测量数据,所述量程校准数据用于指示所述测量系统的测量范围,所述标准物校准数据为标准物的测量值,所述标准物为测量值已知的物品。

3.根据权利要求2所述的基于拟态裁决的测量数据处理方法,其特征在于,所述通过所述校准组件获取初始校准数据,基于所述初始校准数据同步生成可调校准曲线参数和只读校准曲线参数,包括:

4.根据权利要求3所述的基于拟态裁决的测量数据处理方法,其特征在于,在将所述镜像校准数据保存至所述eeprom之后,所述方法还包括:

5.根据权利要求1所述的基于拟态裁决的测量数据处理方法,其特征在于,所述基于所述第一测量结果和所述第二...

【专利技术属性】
技术研发人员:石磊贺军华孙统帅李振华
申请(专利权)人:珠海高凌信息科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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