用于半导体晶片的清洗干燥一体装置制造方法及图纸

技术编号:41049782 阅读:34 留言:0更新日期:2024-04-23 21:48
本技术涉及半导体晶片清洗技术领域,具体涉及用于半导体晶片的清洗干燥一体装置,包括壳体,壳体内设有清洗区和烘干区,清洗区设有上腔体和下腔体,上腔体下部设有泄水口,泄水口上设有连通管,上腔体和下腔体通过连通管相连通,上腔体上部设有循环水入口,下腔体下部设有循环水出口,循环水入口和循环水出口通过水泵连接,循环水入口与水泵之间设有过滤器;烘干区设有烘干腔,烘干腔侧壁设有风刀,烘干腔下部设有进风腔,进风腔内设有风机,风机通过风机进风管与外界连通,风机进风管通过内部进风管与烘干腔相连通,烘干腔一侧设有热风箱,热风箱通过风机出风管与风机连接,热风箱与风刀进风端相连通。本技术清洗效率高,节约能源。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及半导体晶片清洗,具体涉及用于半导体晶片的清洗干燥一体装置


技术介绍

1、半导体晶片生产出来以后需要清洗,主要作用有以下几点:

2、1、去除表面污垢:清洗可以去除晶片表面的污垢,包括微粒、金属杂质、有机物和无机物等,这些污染物会影响半导体制造过程中的化学反应,降低器件性能和成品率;

3、2、去除化学杂质:在半导体制造过程中,需要使用各种化学试剂,如酸、碱、有机溶剂等,这些化学试剂可能会沾染到晶片表面,因此需要进行清洗,去除这些化学杂质;

4、3、避免表面腐蚀:某些化学物质可能会腐蚀晶片表面,导致晶片变形、表面粗糙等问题,清洗可以避免这些情况的发生;

5、4、确保表面平整:清洗可以去除晶片表面的损伤层和氧化层,确保晶片表面的平整度,从而保证半导体器件的性能和可靠性;

6、5、去除热应力:在半导体制造过程中,需要进行高温处理和冷却处理,这些处理可能会导致晶片产生热应力,清洗可以去除这些热应力,避免对器件性能和可靠性产生影响。

7、中国技术授权公告号cn210722959u提出了一本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于半导体晶片的清洗干燥一体装置,包括壳体(1),其特征在于,壳体(1)内设有清洗区(2)和烘干区(3),清洗区(2)设有上腔体(21)和下腔体(22),上腔体(21)下部设有泄水口(23),泄水口(23)上设有连通管(24),上腔体(21)和下腔体(22)通过连通管(24)相连通,上腔体(21)上部设有循环水入口(25),下腔体(22)下部设有循环水出口(26),循环水入口(25)和循环水出口(26)通过水泵(27)连接,循环水入口(25)与水泵(27)之间设有过滤器(28);烘干区(3)设有烘干腔(31),烘干腔(31)侧壁设有风刀(32),烘干腔(31)下部设有进风腔(33...

【技术特征摘要】

1.一种用于半导体晶片的清洗干燥一体装置,包括壳体(1),其特征在于,壳体(1)内设有清洗区(2)和烘干区(3),清洗区(2)设有上腔体(21)和下腔体(22),上腔体(21)下部设有泄水口(23),泄水口(23)上设有连通管(24),上腔体(21)和下腔体(22)通过连通管(24)相连通,上腔体(21)上部设有循环水入口(25),下腔体(22)下部设有循环水出口(26),循环水入口(25)和循环水出口(26)通过水泵(27)连接,循环水入口(25)与水泵(27)之间设有过滤器(28);烘干区(3)设有烘干腔(31),烘干腔(31)侧壁设有风刀(32),烘干腔(31)下部设有进风腔(33),烘干腔(31)和进风腔(33)之间设有烘干平台(34),进风腔(33)内设有风机(35),风机(35)通过风机进风管(36)与外界连通,风机进风管(36)通过内部进风管(37)与烘干腔(31)相连通,烘干腔(31)一侧设有热风箱(38),热风箱(38)内设有加热器(39),热风箱(38)通过风机出风管与风机(35)...

【专利技术属性】
技术研发人员:夏继良王艳辉孙大德
申请(专利权)人:青岛融合装备科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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