【技术实现步骤摘要】
本申请涉及半导体器件，特别涉及一种数字电路芯片故障确认方法及相关装置。
技术介绍
1、正常情况下，芯片在上电之后就能够正常工作，但部分数字电路芯片有时候会出现上电后不能正常工作的情况，且该数字电路芯片如果在上电后能够正常工作，那么在上电后的使用过程中就能够一直正常工作。因此，如何确定该数字电路芯片不能正常工作的原因是本领域亟需解决的技术问题。
技术实现思路
1、本申请提供了一种数字电路芯片故障确认方法及相关装置，通过根据数字电路芯片在正常工作和非正常工作情况下分别对应的寄存器的第一寄存器值和第二寄存器值来确定数字电路芯片故障的原因，进而提高该数字电路芯片工作的稳定性。
2、第一方面，本申请提供了一种数字电路芯片故障确认方法，该方法应用于调试设备，该方法包括：
3、控制供电电源对第一芯片进行供电，并驱动第一芯片运行第一业务程序；
4、若检测到第一芯片运行第一业务程序时存在运行故障的第一模块，则确定第一芯片中与第一模块存在数据交互的至少一个第二模块；
...【技术保护点】
1.一种数字电路芯片故障确认方法，其特征在于，所述方法应用于调试设备，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取多个第三模块中每个第三模块的寄存器对应的第一寄存器值，包括：
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述根据所述每个第三模块的寄存器对应的第一寄存器值与第二寄存器值之间的差异确定所述第一芯片的故障原因，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述至少一个目标模块中每个目标模块的寄存器的第一寄存器值和第二寄存器值之间的差异，结合每个目标模块的寄存器的传输级代码信息确定所述第一...
【技术特征摘要】
1.一种数字电路芯片故障确认方法，其特征在于，所述方法应用于调试设备，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取多个第三模块中每个第三模块的寄存器对应的第一寄存器值，包括：
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述根据所述每个第三模块的寄存器对应的第一寄存器值与第二寄存器值之间的差异确定所述第一芯片的故障原因，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述至少一个目标模块中每个目标模块的寄存器的第一寄存器值和第二寄存器值之间的差异，结合每个目标模块的寄存器的传输级代码信息确定所述第...
【专利技术属性】
技术研发人员：戴林颖，朱建斌，
申请(专利权)人：珠海市芯动力科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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