【技术实现步骤摘要】
本公开涉及器件测试，尤其涉及一种器件的使用寿命测试方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、器件经过长期贮存会出现主要性能参数漂移、材料性能下降等问题，因此，器件的使用寿命测试对保障电子设备可靠使用具有重要意义。然而，当前在对器件进行空间环境贮存寿命测试时，需要依靠自然贮存试验获取数据进行寿命测试，会存在成本高、可操作性低、时间长等问题，不能快速准确地对器件进行空间环境贮存寿命测试。
2、有鉴于此，如何快速准确地对器件进行空间环境贮存寿命测试成为亟待解决的技术问题。
技术实现思路
1、有鉴于此，本公开的目的在于提出一种器件的使用寿命测试方法、装置、电子设备及存储介质用以解决或部分解决上述技术问题。
2、基于上述目的，本公开的第一方面提出了一种器件的使用寿命测试方法，所述方法包括：
3、确定待测器件的温度循环加速因子，根据所述温度循环加速因子对所述待测器件进行温度循环加速贮存试验，得到所述待测器件在温度应力条件下的第一使用寿命结果；
4、...
【技术保护点】
1.一种器件的使用寿命测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定待测器件的温度循环加速因子，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定所述待测器件的第一样本温度变化范围和第二样本温度变化范围，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一样本温度变化范围、所述第二样本温度变化范围、所述第一失效循环数和所述第二失效循环数，确定加速贮存寿命测试模型的模型指数，包括：
5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述模型指数、所述试验温度变化...
【技术特征摘要】
1.一种器件的使用寿命测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定待测器件的温度循环加速因子，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定所述待测器件的第一样本温度变化范围和第二样本温度变化范围，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一样本温度变化范围、所述第二样本温度变化范围、所述第一失效循环数和所述第二失效循环数，确定加速贮存寿命测试模型的模型指数，包括：
5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述模型指数、所述试验温度变化范围和所述环境温度变化范围进行运算处理，得到所述温度循环加速因子，包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，...
【专利技术属性】
技术研发人员：王长鑫，张如月，高会壮，张楠，冯慧，
申请(专利权)人：航天科工防御技术研究试验中心，
类型：发明
国别省市：
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