【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光束波长获取，特别是涉及一种基于双增益元器件的目标光束波长偏移量的获取系统。
技术介绍
1、现有技术中，双波长激光器输出激光信号的功率分布和相对功率比直接决定外差拍频效率，探究双波长激光器的功率均衡机制具有重要的研究意义；目前，双波长激光器有单增益介质不同发射谱线输出和双增益介质共腔型结构输出两大主流方案；单增益介质不同发射谱线输出双波长激光器存在模式竞争现象，致使双波长激光信号输出功率此起彼伏、不稳定；双增益介质共腔型双波长激光器不存在模式竞争，更容易实现双波长信号输出功率的均衡。
2、但是，只能通过采集双波长信号的波长，才能确定出双波长信号输出功率时的波长随着温度的偏移量，这样当双波长信号(即光束)发送改变时还需要采集，无法简化双波长信号的波长的偏移量，是亟待解决的问题。
技术实现思路
1、本专利技术目的在于，提供一种基于双增益元器件的目标光束波长偏移量的获取系统，所述系统包括：目标光源器件、输入镜、输出镜、第一增益元器件、第二增益元器件、光学分析组件和温度控制组件，其中，所述目标光源器件发出光束通过所述输入镜射入至所述第一增益元器件，经过所述第一增益元器件的光束射入至所述第二增益元器件，经过所述第二增益元器件的光束通过所述输出镜射入至所述光学分析组件中；
2、其中，所述温度控制组件包括温度监控器、处理器和存储有计算机程序的存储器，当计算机程序被处理器执行时，实现以下步骤：
3、s100，获取所述目标光源器件的目标温度列表t＝{
4、s200，获取目标波长权重u1和目标波长损失u2；
5、s300，根据t、u1和u2，确定出目标光束波长偏移量。
6、本专利技术与现有技术相比至少具有以下有益效果：
7、本专利技术一种基于双增益元器件的目标光束波长偏移量的获取系统，所述系统包括：目标光源器件、输入镜、输出镜、第一增益元器件、第二增益元器件、光学分析组件和温度控制组件，其中，所述目标光源器件发出光束通过所述输入镜射入至所述第一增益元器件，经过所述第一增益元器件的光束射入至所述第二增益元器件，经过所述第二增益元器件的光束通过所述输出镜射入至所述光学分析组件中；其中，所述温度控制组件包括温度监控器、处理器和存储有计算机程序的存储器，当计算机程序被处理器执行时，实现以下步骤：获取所述目标光源器件的目标温度列表t＝{t1，t2，……，ti，……，tm}，ti是指第i个目标温度，i的取值范围为1至m，m为目标温度数量；获取目标波长权重u1和目标波长损失u2；根据t、u1和u2，确定出目标光束波长偏移量；可知，能够通过温度、目标波长权重和目标波长权重，确定出目标光束波长偏移量，是通过目标波长权重和目标波长损失，确定出一个合理的关键波长，再根据关键波长，确定出目标光束波长偏移量，避免了在应用目标光束时目标光束的不知晓目标波长而需要反复检测。
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1.一种基于双增益元器件的目标光束波长偏移量的获取系统，其特征在于，所述系统包括：目标光源器件、输入镜、输出镜、第一增益元器件、第二增益元器件、光学分析组件和温度控制组件，其中，所述目标光源器件发出光束通过所述输入镜射入至所述第一增益元器件，经过所述第一增益元器件的光束射入至所述第二增益元器件，经过所述第二增益元器件的光束通过所述输出镜射入至所述光学分析组件中；
2.根据权利要求1所述的基于双增益元器件的目标光束波长偏移量的获取系统，其特征在于，所述光学分析组件和所述目标光源器件与所述温度控制器均电联系。
3.根据权利要求1所述的基于双增益元器件的目标光束波长偏移量的获取系统，其特征在于，所述输入镜设置在所述目标光源器件与所述第一增益元器件之间，所述第一增益元器件与所述第二增益元器件无间隙相邻，所述输出镜设置在所述第二增益元器件与所述光学分析组件之间。
4.根据权利要求1所述的基于双增益元器件的目标光束波长偏移量的获取系统，其特征在于，所述第一增益元器件内的增益材料与所述第二增益元器件的增益材料不一致。
5.根据权利要求1所述的基于
6.根据权利要求1所述的基于双增益元器件的目标光束波长偏移量的获取系统，其特征在于，T的排序是按照目标温度由小至大进行排序。
7.根据权利要求5所述的基于双增益元器件的目标光束波长偏移量的获取系统，其特征在于，在S100步骤中还通过如下步骤△T：
8.根据权利要求7所述的基于双增益元器件的目标光束波长偏移量的获取系统，其特征在于，W0y符合如下条件：
9.根据权利要求8所述的基于双增益元器件的目标光束波长偏移量的获取系统，其特征在于，Wxy符合如下条件：
10.根据权利要求8所述的基于双增益元器件的目标光束波长偏移量的获取系统，其特征在于，在S300步骤中还包括如下步骤：
...【技术特征摘要】
1.一种基于双增益元器件的目标光束波长偏移量的获取系统，其特征在于，所述系统包括：目标光源器件、输入镜、输出镜、第一增益元器件、第二增益元器件、光学分析组件和温度控制组件，其中，所述目标光源器件发出光束通过所述输入镜射入至所述第一增益元器件，经过所述第一增益元器件的光束射入至所述第二增益元器件，经过所述第二增益元器件的光束通过所述输出镜射入至所述光学分析组件中；
2.根据权利要求1所述的基于双增益元器件的目标光束波长偏移量的获取系统，其特征在于，所述光学分析组件和所述目标光源器件与所述温度控制器均电联系。
3.根据权利要求1所述的基于双增益元器件的目标光束波长偏移量的获取系统，其特征在于，所述输入镜设置在所述目标光源器件与所述第一增益元器件之间，所述第一增益元器件与所述第二增益元器件无间隙相邻，所述输出镜设置在所述第二增益元器件与所述光学分析组件之间。
4.根据权利要求1所述的基于双增益元器件的目标光束波长偏移量的获取系统...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵儒臣，金泰铭，陈先锋，韦未，
申请(专利权)人：上海频准激光科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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