【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及x衍射试样片干燥，更具体地说，是一种用于x衍射试样片干燥装置。
技术介绍
1、x射线衍射技术已广泛用于晶体结构分析、晶格常数计算，以及薄膜厚度测定、晶粒大小测量和宏观内应力测量等，成为物理学、化学、材料科学、地质以及生物学等许多领域必不可少的测量与分析手段。
2、在对待检测样品进行结构分析时，需要将待检测样品放置在两个试样片之间，但是试样片在每次使用后需要对其进行清洗以保证下次使用时不对样品造成污染，在试样片清洗后需要使用干燥设备对其进行干燥处理工作，现有的干燥装置存在以下缺陷：
3、传统的干燥装置将试样片静置放置在装置内部进行密封干燥，不仅干燥周期较长，而且试样片表面的灰尘不容易脱落，需要工作人员在使用前对试样片上的灰尘进行二次清洁工作，非常不便。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种用于x衍射试样片干燥装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
3、一种用于x衍射试样片...
【技术保护点】
1.一种用于X衍射试样片干燥装置，其特征在于，包括支撑架、控制箱、干燥箱、封堵门以及底座，所述控制箱和干燥箱均设置在支撑架上，所述干燥箱上成型有通窗，所述干燥箱上位于通窗的两侧对称设置有一组导向座，所述封堵门活动设置在导向座之间，所述底座设置在干燥箱上，所述底座上成型有排水槽；所述干燥装置还包括：
2.根据权利要求1所述的用于X衍射试样片干燥装置，其特征在于，所述干燥执行模块包括：
3.根据权利要求2所述的用于X衍射试样片干燥装置，其特征在于，所述调节模块包括齿环、齿轮以及连接轴；
4.根据权利要求2所述的用于X衍射试样片干燥装置，...
【技术特征摘要】
1.一种用于x衍射试样片干燥装置，其特征在于，包括支撑架、控制箱、干燥箱、封堵门以及底座，所述控制箱和干燥箱均设置在支撑架上，所述干燥箱上成型有通窗，所述干燥箱上位于通窗的两侧对称设置有一组导向座，所述封堵门活动设置在导向座之间，所述底座设置在干燥箱上，所述底座上成型有排水槽；所述干燥装置还包括：
2.根据权利要求1所述的用于x衍射试样片干燥装置，其特征在于，所述干燥执行模块包括：
3.根据权利要求2所述的用于x衍射试样片干燥装置，其特征在于，所述调节模块包括齿环、齿轮以及连接轴；
4.根据权利要求2所述的用于x衍射试样片干燥装置，其特征在于，所述干燥箱上位于底座的相对侧设置有密封结构，用于保证干燥箱处于密封的状态下实现活动杆的移动工作。
5.根据权利要求4所述的用于x衍射试样片干燥装置，其特征在于，所述密封结构包括活动盖和密封盖，所述密封盖套设在吸尘座上，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：林丽萍，徐国钻，范长乐，傅雨，
申请(专利权)人：崇义章源钨业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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