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空间净距的批量检测方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:40974405 阅读:2 留言:0更新日期:2024-04-18 21:23
本发明专利技术涉及建筑领域,公开了一种空间净距的批量检测方法、装置、设备及存储介质,用于提高检测效率。空间净距的批量检测方法包括:获取目标检测任务,目标检测任务包括目标检测空间、目标上部构件名称和目标下部构件名称,确定目标检测空间内与目标上部构件名称匹配的上部构件,得到目标上部构件序列,根据目标下部构件名称查询目标上部构件序列中每个上部构件对应的下部构件,得到目标构件对序列,目标构件对序列中的每个构件对包括上部构件和与上部构件对应的下部构件,计算目标构件对序列的每个构件对中上部构件与下部构件的净距,得到目标空间净距序列,目标空间净距序列与目标构件对序列对应。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及建筑领域,尤其涉及一种空间净距的批量检测方法、装置、设备及存储介质


技术介绍

1、在建筑领域,建筑绘图完成后需要对构件的空间位置进行分析,来判断建筑设计是否合理,帮助设计师发现设计上存在的问题。

2、当前,对于比较受关注的楼层层高、管道净空等净距检测,绘图工具revit中设置了检测选项,可以通过设置的选项批量获得楼层层高和管道净空,但对于其他构件与楼板的净距检测或构件之间的净距检测只能进入相应空间的剖面,利用标注功能进行检测,无法批量得到,检测效率低。


技术实现思路

1、本专利技术的主要目的在于提供一种空间净距的批量检测方法、装置、设备及存储介质,用于解决构件空间净距无法批量检测的问题,提高检测效率。

2、本专利技术第一方面提供了一种空间净距的批量检测方法方法,包括:获取目标检测任务,所述目标检测任务包括目标检测空间、目标上部构件名称和目标下部构件名称;确定所述目标检测空间内与所述目标上部构件名称匹配的上部构件,得到目标上部构件序列;根据所述目标下部构件名称查询所述目标上部构件序列中每个上部构件对应的下部构件,得到目标构件对序列,所述目标构件对序列中的每个构件对包括上部构件和与上部构件对应的下部构件;计算所述目标构件对序列的每个构件对中上部构件与下部构件的净距,得到目标空间净距序列,所述目标空间净距序列与所述目标构件对序列对应。

3、本专利技术第二方面提供了一种空间净距的批量检测装置,包括:获取模块,用于获取目标检测任务,所述目标检测任务包括目标检测空间、目标上部构件名称和目标下部构件名称;第一确定模块,用于确定所述目标检测空间内与所述目标上部构件名称匹配的上部构件,得到目标上部构件序列;查询模块,用于根据所述目标下部构件名称查询所述目标上部构件序列中每个上部构件对应的下部构件,得到目标构件对序列,所述目标构件对序列中的每个构件对包括上部构件和与上部构件对应的下部构件;计算模块,用于计算所述目标构件对序列的每个构件对中上部构件与下部构件的净距,得到目标空间净距序列,所述目标空间净距序列与所述目标构件对序列对应。

4、本专利技术第三方面提供了一种空间净距的批量检测设备,包括:存储器和至少一个处理器,所述存储器中存储有指令;所述至少一个处理器调用所述存储器中的所述指令,以使得所述空间净距的批量检测设备执行上述的空间净距的批量检测方法。

5、本专利技术的第四方面提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质中存储有指令,当其在计算机上运行时,使得计算机执行上述的空间净距的批量检测方法。

6、本专利技术提供的技术方案中, 获取目标检测任务,所述目标检测任务包括目标检测空间、目标上部构件名称和目标下部构件名称,确定所述目标检测空间内与所述目标上部构件名称匹配的上部构件,得到目标上部构件序列,根据所述目标下部构件名称查询所述目标上部构件序列中每个上部构件对应的下部构件,得到目标构件对序列,所述目标构件对序列中的每个构件对包括上部构件和与上部构件对应的下部构件,计算所述目标构件对序列的每个构件对中上部构件与下部构件的净距,得到目标空间净距序列,所述目标空间净距序列与所述目标构件对序列对应。本专利技术实施例中,获取检测任务中的上部构件名称和下部构件名称,基于上部构件名称确定匹配的上部构件,得到上部构件序列,根据下部构件名称识别上部构件序列中每个上部构件对应的下部构件,得到构件对序列,计算构件对序列的每个构件对中上部构件与下部构件的净距,实现构件之间空间净距的批量检测,提高检测效率。

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【技术保护点】

1.一种空间净距的批量检测方法,其特征在于,所述空间净距的批量检测方法包括:

2.根据权利要求1所述的空间净距的批量检测方法,其特征在于,所述确定所述目标检测空间内与所述目标上部构件名称匹配的上部构件,得到目标上部构件序列,包括:

3.根据权利要求1所述的空间净距的批量检测方法,其特征在于,所述根据所述目标下部构件名称查询所述目标上部构件序列中每个上部构件对应的下部构件,得到目标构件对序列,包括

4.根据权利要求1所述的空间净距的批量检测方法,其特征在于,所述计算所述目标构件对序列的每个构件对中上部构件与下部构件的净距,得到目标空间净距序列,包括:

5.根据权利要求1-4中任一项所述的空间净距的批量检测方法,其特征在于,在所述获取目标检测任务之前,还包括:

6.根据权利要求5所述的空间净距的批量检测方法,其特征在于,所述响应于净距检测指令,构建检测任务列表,包括:

7.根据权利要求1所述的空间净距的批量检测方法,其特征在于,在所述计算所述目标构件对序列的每个构件对中上部构件与下部构件的净距,得到目标空间净距序列之后,还包括:

8.一种空间净距的批量检测装置,其特征在于,所述空间净距的批量检测装置包括:

9.一种空间净距的批量检测设备,其特征在于,所述空间净距的批量检测设备包括:存储器和至少一个处理器,所述存储器中存储有指令;

10.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有指令,其特征在于,所述指令被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一项所述空间净距的批量检测方法。

...

【技术特征摘要】

1.一种空间净距的批量检测方法,其特征在于,所述空间净距的批量检测方法包括:

2.根据权利要求1所述的空间净距的批量检测方法,其特征在于,所述确定所述目标检测空间内与所述目标上部构件名称匹配的上部构件,得到目标上部构件序列,包括:

3.根据权利要求1所述的空间净距的批量检测方法,其特征在于,所述根据所述目标下部构件名称查询所述目标上部构件序列中每个上部构件对应的下部构件,得到目标构件对序列,包括

4.根据权利要求1所述的空间净距的批量检测方法,其特征在于,所述计算所述目标构件对序列的每个构件对中上部构件与下部构件的净距,得到目标空间净距序列,包括:

5.根据权利要求1-4中任一项所述的空间净距的批量检测方法,其特征在于,在所述获取目标检测任务之前,...

【专利技术属性】
技术研发人员:吕名轩齐晓松陈涛田富海
申请(专利权)人:合肥坤颐建筑科技合伙企业有限合伙
类型:发明
国别省市:

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