一种EDA约束检测系统技术方案

本申请涉及电数字数据处理技术领域，特别是涉及一种EDA约束检测系统。其包括存储器，存储器存储有约束树，node<subgt;i</subgt;的数据域存储有node<subgt;i</subgt;对应的type<subgt;i</subgt;和name<subgt;i</subgt;；如果node<subgt;i</subgt;为内部节点，则node<subgt;i</subgt;的指针域存储有node<subgt;i,+</subgt;和node<subgt;i,‑</subgt;；系统包括的计算机程序被处理器执行时，实现以下步骤：获取待检测电子约束的type’和name’；根据type’和name’在约束树中进行匹配，获取匹配的节点node’；如果node’的数据域没有存储约束条件且node’<subgt;+</subgt;的数据域存储有约束条件，则将node’<subgt;+</subgt;的数据域存储的约束条件确定为待检测电子约束的约束条件。本发明专利技术能减少约束数据占用的存储空间。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电数字数据处理，特别是涉及一种eda约束检测系统。

技术介绍

1、电子设计自动化（eda）设计工具软件在使用过程中，存在大量的动态关系型数据，其中约束管理器中的约束数据呈现复杂的层次结构和依赖关系。约束管理器的作用就是管理电子约束，约束即用户定义的附加到网络或者管脚对上的要求，电子约束管理着网络和管脚对的行为。约束数据有着非常复杂的层次结构和依赖关系，同时在eda设计过程中会不断引入新的约束或修改现有约束，因此约束数据具有动态性的特点；而且，约束数据的数据量还很大，占用的存储空间较大。如何减少约束数据占用的存储空间大小，是亟待解决的技术问题。

技术实现思路

1、本专利技术目的在于，提供一种eda约束检测系统，能够减少约束数据占用的存储空间。

2、根据本专利技术，提供了一种eda约束检测系统，所述系统包括存储器，所述存储器存储有电子器件约束树，所述电子器件约束树包括n个节点，其中第i个节点为nodei，i的取值范围为1到n，nodei的数据域存储有nodei对应的电子约束的类型type本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种EDA约束检测系统，其特征在于，所述系统包括存储器，所述存储器存储有电子器件约束树，所述电子器件约束树包括n个节点，其中第i个节点为nodei，i的取值范围为1到n，nodei的数据域存储有nodei对应的电子约束的类型typei和名称namei，如果nodei为根节点，则nodei的指针域存储有nodei的孩子节点nodei,-；如果nodei为叶子节点，则nodei的指针域存储有nodei的父节点nodei,+；如果nodei为内部节点，则nodei的指针域存储有nodei的父节点nodei,+和nodei的孩子节点nodei,-；所述系统还包括处理器和存储有计算机程序的存储...

【技术特征摘要】

1.一种eda约束检测系统，其特征在于，所述系统包括存储器，所述存储器存储有电子器件约束树，所述电子器件约束树包括n个节点，其中第i个节点为nodei，i的取值范围为1到n，nodei的数据域存储有nodei对应的电子约束的类型typei和名称namei，如果nodei为根节点，则nodei的指针域存储有nodei的孩子节点nodei,-；如果nodei为叶子节点，则nodei的指针域存储有nodei的父节点nodei,+；如果nodei为内部节点，则nodei的指针域存储有nodei的父节点nodei,+和nodei的孩子节点nodei,-；所述系统还包括处理器和存储有计算机程序的存储介质，当所述计算机程序被处理器执行时，实现以下步骤：

2.根据权利要求1所述的eda约束检测系统，其特征在于，所述存储器还存储有n个数组，其中第i个数组为mtei，mtei=(combi,addi)，不同nodei对应的combi不同，addi为nodei对应的存储地址，mtei在存储器中的存储区域根据combi对应的哈希值hasi得...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭太秀，廖志刚，曹立言，冯德旭，
申请(专利权)人：上海合见工业软件集团有限公司，
类型：发明
国别省市：