基于SiPM的温度补偿方法、装置、设备、存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术提出了一种基于SiPM的温度补偿方法、装置、设备、存储介质，该方法包括：启动检测之前，SiPM元器件处于参考温度时，获取标准物和暗背景的参考值，启动检测后，获取标准物、待测样品和暗背景的检测值；基于暗背景和标准物的参考值和检测值确定补偿系数，基于补偿系数、样品检测值、暗背景参考值和暗背景检测值确定各个待测样品的样品参考值。根据本发明专利技术实施例的技术方案，在待测样品测量前后温度发生变化的情况下，利用补偿系数将SiPM元器件在任意工作温度下检测的检测值补偿至参考温度下的样品参考值，消除SiPM元器件的工作温度导致的检测值偏移，无需引入多个温度传感器，降低硬件成本，提高检测设备的工作稳定性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学传感器温度补偿，特别涉及一种基于sipm的温度补偿方法、装置、设备、存储介质。

技术介绍

1、硅光电倍增管(silicon photomultiplier，sipm)是一种新型的光电探测器件,具有增益高、灵敏度高、偏置电压低、对磁场不敏感、结构紧凑等特点，能够应用于极微弱光探测领域。在当前医学检测中，生物学信息多以荧光类物质进行标记，准确检测这些荧光信号的强度，进而识别其动态变化过程，是实现生物信息检测的重要的途径。sipm在荧光pcr等光学检测设备中得到广泛应用，通过特殊的设计确保待测物质的浓度与标记的荧光素浓度成正相关关系，再利用稳定的光源激发这些荧光素并检测其发射光的强度(光源稳定的情况下，荧光素浓度和发射光强度具有线性相关性)，间接获取待测物质浓度的动态变化趋势，进而识别待测物质。

2、在温度恒定的情况下，sipm采集的信号很稳定，而当工作温度发生变化时，sipm所采集的信号强度会随之变化，温度越高，增益越低，从而输出的光强度信号越低，反之越高。在检测过程中，因为条件限制或操作不够规范等原因，会造成sipm的工作环境温本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于SiPM的温度补偿方法，其特征在于，应用于光学检测设备，所述光学检测设备包括检测部SiPM光学组件，所述SiPM光学组件与所述检测部可相对移动，所述SiPM光学组件内设置有至少一个光学通道，所述光学通道中设置有通道光源和SiPM元器件，所述检测部包括第一检测点和至少一个第二检测点，所述第一检测点为通道口被标准物覆盖的检测通道，所述第二检测点为设置有待测样品且所述通道口未设置所述标准物的所述检测通道，所述标准物可被所述通道光源激发形成第一发射光，所述待测样品可被所述通道光源激发形成第二发射光，所述第一发射光的强度位于待测强度范围内，所述待测强度范围为所述第二发射光的强度范围，所...

【技术特征摘要】

1.一种基于sipm的温度补偿方法，其特征在于，应用于光学检测设备，所述光学检测设备包括检测部sipm光学组件，所述sipm光学组件与所述检测部可相对移动，所述sipm光学组件内设置有至少一个光学通道，所述光学通道中设置有通道光源和sipm元器件，所述检测部包括第一检测点和至少一个第二检测点，所述第一检测点为通道口被标准物覆盖的检测通道，所述第二检测点为设置有待测样品且所述通道口未设置所述标准物的所述检测通道，所述标准物可被所述通道光源激发形成第一发射光，所述待测样品可被所述通道光源激发形成第二发射光，所述第一发射光的强度位于待测强度范围内，所述待测强度范围为所述第二发射光的强度范围，所述基于sipm的温度补偿方法包括：

2.根据权利要求1所述的基于sipm的温度补偿方法，其特征在于，所述基于所述暗背景参考值、所述标准物参考值、所述标准物检测值和所述暗背景检测值确定补偿系数，包括：

3.根据权利要求2所述的基于sipm的温度补偿方法，其特征在于，所述基于所述补偿系数、所述样品检测值、所述暗背景参考值和所述暗背景检测值确定各个所述待测样品的样品参考值，包括：

4.根据权利要求1所述的基于sipm的温度补偿方法，其特征在于，所述光学检测设备还包括步进电机，所述步进电机用于驱动所述sipm光学组件移动，所述对所述第一检测点进行光学检测...

【专利技术属性】
技术研发人员：李桂平，许文俊，罗欣，古伟超，梁雯静，
申请(专利权)人：珠海黑马医学仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：