【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于激光传感测量设备，具体涉及激光自混合干涉模式分析仪，还涉及激光自混合干涉模式分析方法。
技术介绍
1、激光测量已经活跃于各个应用领域，然而，不同应用领域对激光器的工作模式有各自不同的要求，例如在全息技术、精密测量等工作中，激光器基横模输出是必要的，在激光测距、激光稳频等都要求激光器在基横模和单纵模状态下工作，双频激光器对激光器的两个工作模式更是有严格限制。对激光器的工作模式进行分析已成为激光测量中一项不可或缺的工作内容。
2、现有广泛应用的激光器的模式分析方法为扫描干涉仪法，该方法的实现原理为：激光注入扫描干涉仪中，激光中等于干涉仪腔内频谱的频率成分可以通过，其余成分被反射或散射，在干涉仪后方放置光电接收器即可获得激光的频率成分，通过连续改变腔长实现对透射波长的扫描。分析扫描干涉仪法的实现原理，可以得到该方法的两方面不足之处。一方面，扫描干涉仪法无法直接获得激光器的具体工作纵模频率，只能得到模式个数。另一方面，扫描干涉仪法的测量范围由腔长的变化范围决定，因此，在实际的应用过程中，需要对扫描干涉仪进行参数定标实验...
【技术保护点】
1.激光自混合干涉模式分析仪，其特征在于，包括有待测模式的激光器模块(1)，待测模式的激光器模块(1)发射光波的光轴上依次设置有准直棱镜(2)、聚焦透镜(3)、分光棱镜(4)、渐变滤光片(5)及运动物体模块(6)；还包括有光电探测器(7)及信号处理电路(8)；光电探测器(7)与信号处理电路(8)连接。
2.根据权利要求1所述的激光自混合干涉模式分析仪，其特征在于，所述待测模式的激光器模块(1)包括有激光二极管电源(11)及激光二极管(12)，激光二极管电源(11)与激光二极管(12)连接，准直棱镜(2)、聚焦透镜(3)、分光棱镜(4)、渐变滤光片(5)及运...
【技术特征摘要】
1.激光自混合干涉模式分析仪，其特征在于，包括有待测模式的激光器模块(1)，待测模式的激光器模块(1)发射光波的光轴上依次设置有准直棱镜(2)、聚焦透镜(3)、分光棱镜(4)、渐变滤光片(5)及运动物体模块(6)；还包括有光电探测器(7)及信号处理电路(8)；光电探测器(7)与信号处理电路(8)连接。
2.根据权利要求1所述的激光自混合干涉模式分析仪，其特征在于，所述待测模式的激光器模块(1)包括有激光二极管电源(11)及激光二极管(12)，激光二极管电源(11)与激光二极管(12)连接，准直棱镜(2)、聚焦透镜(3)、分光棱镜(4)、渐变滤光片(5)及运动物体模块(6)依次设置在激光二极管(12)所发射的光波的光轴上。
3.根据权利要求2所述的激光自混合干涉模式分析仪，其特征在于，信号处理电路(8)包括依次连接的电流电压转换电路(81)、信号放大电路(82)、低通滤波电路(83)、模数转换器(84)及stm32微控制器(85)；电流电压转换电路(81)与光电探测器(7)连接。
4.根据权利要求1所述的激光自混合干涉模式...
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