【技术实现步骤摘要】
：本专利技术涉及镀层、涂层的力学性能测试领域，更详细的说是一种小模数齿镀层的膜基结合力测试方法。
技术介绍
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技术介绍
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1、小模数齿轮是指模数小于或者等于1mm的齿轮。在航空机械、电子产品、精密机械、仪器仪表和计时机构中，广泛应用小模数齿轮。齿轮转动是通过摩擦副间的相对运动来实现规定的动作，润滑的目的是避免两个具有相对运动的表面间直接接触，减少摩擦副的磨损。mos2是一种类石墨烯的二维过渡族金属硫化物，由于其具有优异的润滑特性，被誉为“高级固体润滑油王”，因此被广泛应用于航空航天领域。然而涂层的膜基结合力是影响涂层润滑寿命的关键性因素，因此是一项比较重要的测试内容。
2、目前常见的mos2镀层的膜基结合力测试大多都在片材和板材这种平面材料上，对于曲面上的测试较少。对于齿轮而言，其工作面在啮合区，而啮合区在齿轮齿厚的两侧，对于小模数齿轮而言，实现划痕实验测试极难实现。
3、在现有的关于齿轮镀层的膜基结合力测试方法的专利技术专利中：谢焕钧在一种基于离子注渗的齿轮钢wc-dlc涂层及其制备方法中，提到了齿轮的膜基结合力，但并没有说明使用何种方法。因此，目前在学界与工业界中，还缺乏可以准确快速测量齿轮膜基结合力的方法。
技术实现思路
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技术实现思路
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1、本专利技术要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种小模数齿轮镀层的膜基结合力测试方法。
2、本专利技术的目的通过以下技术方案来实现：一种小模数齿镀层的膜基结合力测试方
3、作为本技术方案的进一步优化，本专利技术一种小模数齿轮镀层的膜基结合力测试方法测试方法，划痕测试系统在镀层表面进行划痕实验的具体步骤为：小模数齿轮(mos2-ti镀层)试样使用夹具固定在划痕测试系统的载物台上，并设置划痕参数；利用划痕测试系统的显微镜对齿轮相切面进行观测；利用压头进行划痕实验，分析实验数据。
4、与现有技术相比，本专利技术的优点在于：本专利技术了一种小模数齿轮镀层的膜基结合力测试方法，可以通过结合显微镜判断齿面平整成度；可以较为准确的测量膜基结合力的大小；使用的测量装置为常用设备；实验操作过程简便，实验思路新颖；该方法可为工业生产中镀层的膜基结合力提供量化支持，具有应用价值。
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1.一种小模数齿轮MoS2-Ti镀层的膜基结合力的检测方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种小模数齿轮MoS2-Ti镀层的膜基结合力的检测方法，其特征在于：划痕测试系统在小模数齿轮MoS2-Ti镀层表面制备划痕具体步骤为：
3.根据权利要求2所述的一种小模数齿轮MoS2-Ti镀层的膜基结合力的检测方法，其特征在于：所述小模数齿轮MoS2-Ti镀层试样为弧形。
4.S1；内齿轮：齿轮弧度与划痕仪适配；
5.根据权利要求1所述的一种小模数齿轮MoS2-Ti镀层的膜基结合力的检测方法，其特征在于：观测压头与试样齿面垂直的具体步骤：
6.根据权利要求1所述的一种小模数齿轮MoS2-Ti镀层的膜基结合力的检测方法，其特征在于：显微镜放大倍数满足小模数齿面的测试范围。
7.根据权利要求1所述的一种小模数齿轮MoS2-Ti镀层的膜基结合力的检测方法，其特征在于：压头类型为100μm Rockwell针尖（圆锥角120°）、载荷类型为线性加载、起始载荷为0.03N、最大载荷30N、划痕速度1.6
8.根据权利要求1所述的一种小模数齿轮MoS2-Ti镀层的膜基结合力的检测方法，其特征在于：划痕仪压头直径小于齿面齿厚。
9.根据权利要求2所述的一种小模数齿轮MoS2-Ti镀层的膜基结合力的检测方法，其特征在于：线性载荷加载力范围可以将试样划破。
10.根据权利要求7所述的一种小模数齿轮MoS2-Ti镀层的膜基结合力的检测方法，其特征在于：齿面齿厚为200±10μm。
11.根据权利要求1所述的一种小模数齿轮MoS2-Ti镀层的膜基结合力的检测方法，其特征在于：将划痕后的试样进行显微观察，判断镀层从基体上剥离所需要的最小载荷Lc。
...【技术特征摘要】
1.一种小模数齿轮mos2-ti镀层的膜基结合力的检测方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种小模数齿轮mos2-ti镀层的膜基结合力的检测方法，其特征在于：划痕测试系统在小模数齿轮mos2-ti镀层表面制备划痕具体步骤为：
3.根据权利要求2所述的一种小模数齿轮mos2-ti镀层的膜基结合力的检测方法，其特征在于：所述小模数齿轮mos2-ti镀层试样为弧形。
4.s1；内齿轮：齿轮弧度与划痕仪适配；
5.根据权利要求1所述的一种小模数齿轮mos2-ti镀层的膜基结合力的检测方法，其特征在于：观测压头与试样齿面垂直的具体步骤：
6.根据权利要求1所述的一种小模数齿轮mos2-ti镀层的膜基结合力的检测方法，其特征在于：显微镜放大倍数满足小模数齿面的测试范围。
7.根据权利要求1所述的一种小...
【专利技术属性】
技术研发人员：董宇航，王立波，董萌萌，朱佳垚，
申请(专利权)人：杭州德望纳米科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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