【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电致变色器件，具体为一种电致变色器件的性能测试方法。
技术介绍
1、电致变色现象是指电致变色材料在外加电场的作用下发生稳定、可逆的颜色变化的现象；电致变色器件通常具有五层结构：透明导电层、离子存储层(或互补电致变色层)、离子导电层(电解质层)、电致变色层和透明导电层；电致变色器件颜色的变化是由于离子在器件内嵌入和脱出发生氧化还原反应引起的。
2、现有技术仅局限于表征固态电解质界面的某一方面的性能，不能满足多种性能同时表征的需求；而电致变色器件在工作和失效过程中，是结构、形貌、成分等在多种因素(电场、力场、温度、湿度、紫外线照射等)共同作用下，产生的缓慢或者突然的变化，因此，有必要提出一种电致变色器件的性能测试方法。
技术实现思路
1、针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种能够采用多功能扫描探针显微镜技术，综合检测电致变色区间的多种界面性能的电致变色器件的性能测试方法。
2、为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种电致变色器件的性能测试方法，电致变色器件的性能测试方法包括以下步骤：
3、步骤一：先准备多组不同的需要进行性能测试的电致变色器件样品，从而做好测试前的准备工作。
4、步骤二：然后将电致变色器件样品固定于扫描探针显微镜测试样品台面上，对电致变色器件进行固定方便测试电致变色器件的透光率，透光时间，电压，电流等各方面的性能。
5、步骤三：通过将扫描探针显微镜与电致变色器件通过导线进行连接测试，并通
6、步骤四：采用扫描探针显微镜技术对电致变色器件的性能进行测试，最终得到测试的数据并进行数据的处理储存。
7、进一步，所述扫描探针显微镜的导线一端处连接有电致变色器件，所述电致变色器件的内部设置有离子传导层，所述离子传导层的相互背离的一侧面分别设置有离子存储层和电致变色层，所述离子存储层和电致变色层相互背离的一侧面均设置有透明电极层。
8、进一步，所述扫描探针显微镜的导线与离子存储层连接，所述电致变色器件的外形、电化学性能、机械性能和电学性能针对性的测试分别为：原子力显微镜、电化学应力显微镜、幅度频率调制和探针力显微镜。
9、进一步，采用探针力显微镜测试所述电致变色器件的电学性能中的电势分布的步骤具体包括：采用扫描探针显微镜技术中的探针力显微镜对电致变色器件进行检测，同时得到界面电势分布图和界面形貌图；将界面电势分布和界面形貌图通过软件叠加到一张三维图中，观察界面不同位置对应的电势分布；或者采用导电原子力显微镜检测所述电致变色器件的电学性能中的漏电性能具体包括：在导电原子力显微镜下对所述电致变色器件的界面进行扫描，同时得到所述电致变色器件的界面电流图和界面形貌图；将界面电流图叠加在界面形貌图上，生成一张三维图，观察界面不同位置在不同循环次数下，对应位置的漏电性能的演变过程。
10、进一步，所述导电原子力显微镜模式对所述电致变色器件的界面进行扫描，同时得到所述电致变色器件的所述界面电流图和所述界面形貌图的步骤具体包括：通过控制所述外接电源，分别扫描界面在初始状态的0个循环，100个循环，1000个循环后的所述界面电流图和所述界面形貌图。
11、进一步，所述电化学应力显微镜模式，对电致变色器件进行检测，同时得到界面的形貌图、共振幅度图、共振频率图以及质量因子图；通过软件计算得到界面离子扩散系数；将计算得到的界面离子扩散系数和界面形貌图通过软件叠加到一张三维图中，得到界面不同位置对应的离子扩散系数。
12、进一步，所述幅度-频率调制模式下所述电致变色器件的界面进行扫描的步骤具体包括：通过控制外接电源，分别扫描界面在初始状态的0个循环，100个循环，1000个循环后的所述界面弹性模量图、刚度图以及所述界面形貌图。
13、进一步，将电致变色器件置于所述的离子注入模式和离子抽出模式连续转换的循环中，测定所述电致变色器件的循环时间、电压、电流，达到设定的循环次数即停止循环，根据所述的循环时间、电压、电流的变化关系来确定所述的电致变色材器件的性能。
14、进一步，所述电致变色器件为fto-wo3-固体电解质-nio-ito，所述离子注入模式为恒压注入或恒流注入，通过所述导电原子力显微镜模式对所述电致变色器件的界面对电致变色器件的离子注入模式状态进行监测。
15、与现有技术相比，本申请的技术方案具备以下有益效果：
16、该电致变色器件的性能测试方法，通过设置扫描探针显微镜，在使用时，通过设备对电致变色器件观察电致变色器件的着色效率、变色响应时间和循环稳定性进行测试，从而提高电致变色器件检测的准确率并寻找提高全固态电致变色器件的使用性能及循环寿命，采用扫描探针显微镜技术中的探针力显微镜对电致变色器件进行检测，同时得到界面电势分布图和界面形貌图；将界面电势分布和界面形貌图通过软件叠加到一张三维图中，观察界面不同位置对应的电势分布；或者采用导电原子力显微镜检测所述电致变色器件的电学性能中的漏电性能具体包括：在导电原子力显微镜下对所述电致变色器件的界面进行扫描，同时得到所述电致变色器件的界面电流图和界面形貌图；将界面电流图叠加在界面形貌图上，生成一张三维图，观察界面不同位置在不同循环次数下，对应位置的漏电性能的演变过程；导电原子力显微镜模式对电致变色器件的界面进行扫描，同时得到电致变色器件的所述界面电流图和界面形貌图的步骤具体包括：通过控制外接电源，分别扫描界面在初始状态的0个循环，100个循环，1000个循环后的所述界面电流图和所述界面形貌图。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种电致变色器件的性能测试方法，其特征在于，电致变色器件的性能测试方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种电致变色器件的性能测试方法，其特征在于：所述扫描探针显微镜的导线一端处连接有电致变色器件，所述电致变色器件的内部设置有离子传导层，所述离子传导层的相互背离的一侧面分别设置有离子存储层和电致变色层，所述离子存储层和电致变色层相互背离的一侧面均设置有透明电极层。
3.根据权利要求1所述的一种电致变色器件的性能测试方法，其特征在于：所述扫描探针显微镜的导线与离子存储层连接，所述电致变色器件的外形、电化学性能、机械性能和电学性能针对性的测试分别为：原子力显微镜、电化学应力显微镜、幅度频率调制和探针力显微镜。
4.根据权利要求3所述的一种电致变色器件的性能测试方法，其特征在于：采用探针力显微镜测试所述电致变色器件的电学性能中的电势分布的步骤具体包括：采用扫描探针显微镜技术中的探针力显微镜对电致变色器件进行检测，同时得到界面电势分布图和界面形貌图；将界面电势分布和界面形貌图通过软件叠加到一张三维图中，观察界面不同位置对应的电势分布；或者采用
5.根据权利要求3所述的一种电致变色器件的性能测试方法，其特征在于：所述导电原子力显微镜模式对所述电致变色器件的界面进行扫描，同时得到所述电致变色器件的界面电流图和界面形貌图的步骤具体包括：通过控制所述外接电源，分别扫描界面在初始状态的0个循环，100个循环，1000个循环后的所述界面电流图和所述界面形貌图。
6.根据权利要求1所述的一种电致变色器件的性能测试方法，其特征在于：所述电化学应力显微镜模式，对电致变色器件进行检测，同时得到界面的形貌图、共振幅度图、共振频率图以及质量因子图；通过软件计算得到界面离子扩散系数；将计算得到的界面离子扩散系数和界面形貌图通过软件叠加到一张三维图中，得到界面不同位置对应的离子扩散系数。
7.根据权利要求1所述的一种电致变色器件的性能测试方法，其特征在于：所述幅度-频率调制模式下所述电致变色器件的界面进行扫描的步骤具体包括：通过控制外接电源，分别扫描界面在初始状态的0个循环，100个循环，1000个循环后的所述界面弹性模量图、刚度图以及所述界面形貌图。
8.根据权利要求1所述的一种电致变色器件的性能测试方法，其特征在于：将电致变色器件置于所述的离子注入模式和离子抽出模式连续转换的循环中，测定所述电致变色器件的循环时间、电压、电流，达到设定的循环次数即停止循环，根据所述的循环时间、电压、电流的变化关系来确定所述的电致变色材器件的性能。
9.根据权利要求8所述的一种电致变色器件的性能测试方法，其特征在于：所述电致变色器件为FTO-WO3-固体电解质-NiO-ITO，所述离子注入模式为恒压注入或恒流注入，通过所述导电原子力显微镜模式对所述电致变色器件的界面对电致变色器件的离子注入模式状态进行监测。
...【技术特征摘要】
1.一种电致变色器件的性能测试方法，其特征在于，电致变色器件的性能测试方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种电致变色器件的性能测试方法，其特征在于：所述扫描探针显微镜的导线一端处连接有电致变色器件，所述电致变色器件的内部设置有离子传导层，所述离子传导层的相互背离的一侧面分别设置有离子存储层和电致变色层，所述离子存储层和电致变色层相互背离的一侧面均设置有透明电极层。
3.根据权利要求1所述的一种电致变色器件的性能测试方法，其特征在于：所述扫描探针显微镜的导线与离子存储层连接，所述电致变色器件的外形、电化学性能、机械性能和电学性能针对性的测试分别为：原子力显微镜、电化学应力显微镜、幅度频率调制和探针力显微镜。
4.根据权利要求3所述的一种电致变色器件的性能测试方法，其特征在于：采用探针力显微镜测试所述电致变色器件的电学性能中的电势分布的步骤具体包括：采用扫描探针显微镜技术中的探针力显微镜对电致变色器件进行检测，同时得到界面电势分布图和界面形貌图；将界面电势分布和界面形貌图通过软件叠加到一张三维图中，观察界面不同位置对应的电势分布；或者采用导电原子力显微镜检测所述电致变色器件的电学性能中的漏电性能具体包括：在导电原子力显微镜下对所述电致变色器件的界面进行扫描，同时得到所述电致变色器件的界面电流图和界面形貌图；将界面电流图叠加在界面形貌图上，生成一张三维图，观察界面不同位置在不同循环次数下，对应位置的漏电性能的演变过程。
5.根据权利要求3所述的一种电致变色器件的性能测试方法，其特征在于：所述导电原子力显微镜模式对所述电致...
【专利技术属性】
技术研发人员：许生，李炘，包山虎，梁锐生，杨春林，
申请(专利权)人：深圳豪威显示科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。