【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及集成电路，尤其涉及一种集成电路布局锐角修复方法及系统。
技术介绍
1、集成电路是电子器件的关键组成部分，其布局在制造过程中可能受到各种因素的影响，其中之一是锐角缺陷。锐角缺陷可能导致电流集中和电场集中，从而引发电子迁移效应、热效应等问题，最终影响集成电路的性能和可靠性。在传统的集成电路设计中，由于工艺限制或设计约束，锐角缺陷难以完全避免。因此，为了改善集成电路的性能和可靠性，需要一种能够有效修复锐角缺陷的方法和系统。
技术实现思路
1、基于此，本专利技术有必要提供一种集成电路布局锐角修复方法及系统，以解决至少一个上述技术问题。
2、为实现上述目的，一种集成电路布局锐角修复方法，包括以下步骤：
3、步骤s1：获取集成电路布局图，并对集成电路布局图进行锐角缺陷分析，从而获得锐角缺陷数据；
4、步骤s2：根据集成电路布局图进行布局特性分析，从而获得布局特性数据；
5、步骤s3：基于布局特性数据以及锐角缺陷数据构建锐角缺陷数学模型；
6、步骤s4：根据布局特性数据对锐角缺陷数学模型进行第一布局优化，从而获得优化集成电路布局图；
7、步骤s5：对优化集成电路布局图以及集成电路布局图进行性能衰减值计算，从而获得性能衰减值；
8、步骤s6：根据性能衰减值对优化集成电路布局图进行第二布局优化，从而获得最优集成电路布局图。
9、本专利技术通过获取集成电路布局图，可以全面了解电路的结构和布局。
10、可选地，步骤s1具体为：
11、步骤s11：获取集成电路布局图；
12、步骤s12：对集成电路布局图进行灰度图像转换，从而获得灰度电路布局图像；
13、步骤s13：对灰度电路布局图像进行边缘点检测，从而获得边缘点数据；
14、步骤s14：根据边缘点数据进行锐角缺陷分析，从而获得锐角缺陷数据。
15、本专利技术通过获取集成电路布局图，系统能够获得电路的整体结构和元件布局。这是后续步骤的基础，为问题的深入分析和锐角缺陷修复提供了必要的信息。将集成电路布局图转换为灰度图像有助于简化问题，同时保留重要的结构信息。灰度图像提供了更易处理的数据形式，使得后续的图像处理和分析更为方便。边缘点检测有助于定位电路布局中的边缘特征，即电路元件之间的界限。这些边缘点数据为系统提供了电路的详细结构信息，为后续的锐角缺陷分析奠定基础。利用边缘点数据进行锐角缺陷分析可以准确识别电路中的锐角缺陷。这使得系统能够定量地了解哪些区域存在锐角缺陷、缺陷的性质以及可能的影响。获得的锐角缺陷数据为后续的修复提供了依据，帮助系统有针对性地进行优化。
16、可选地，步骤s14具体为：
17、步骤s141：对边缘点数据进行边缘点二维连接，从而获得边缘点连接数据；
18、步骤s142：通过边缘点曲率计算公式对边缘点连接数据进行计算，从而获得边缘点曲率数据；
19、步骤s143：根据边缘点曲率数据对边缘点数据进行锐角点聚类计算，从而获得锐角点数据；
20、步骤s144：根据集成电路布局图对锐角点数据进行锐角点标记，从而获得电路布局锐角标记图；
21、步骤s145：对电路布局锐角标记图进行锐角缺陷提取，从而获得锐角缺陷数据。
22、本专利技术对边缘点数据进行边缘点二维连接；目的是将边缘点按照特定规则进行连接，形成更大的边缘线段或边缘路径。这种连接可以有助于识别出更复杂的边缘结构，进而提供更多准确的信息用于后续分析。计算边缘点曲率可以帮助确定边缘的弯曲程度或曲率变化。这对于识别可能存在的锐角或异常曲率的地方很有帮助，是找出潜在缺陷区域的重要步骤。通过对曲率数据进行聚类计算，系统能够确定曲率高的区域，即锐角点的位置。这样可以定位潜在的锐角缺陷区域，并为进一步的分析提供焦点。将锐角点与集成电路布局图进行匹配或标记，可以把锐角点的位置与电路布局中的实际元件或结构联系起来。这样做有助于可视化并进一步验证锐角点的准确性。通过对已标记的锐角点进行分析和提取，系统能够识别出潜在的锐角缺陷。这些数据可以用来评估电路布局中可能存在的问题，并指导后续的修复或优化工作。
23、可选地，步骤s142中的边缘点曲率计算公式具体为：
24、
25、式中，k为边缘点曲率，a为边缘点处图像灰度的水平梯度，b为边缘点处图像灰度的垂直梯度，c为边缘点弯曲性系数，θ为相近边缘点的连接方向角度，e为自然对数的底数，f为阻尼系数，g为缩放因子，x为边缘点的水平坐标。
26、本专利技术构造了一个边缘点曲率计算公式，用于对边缘点连接数据进行曲率计算。该公式充分考虑了影响边缘点曲率k的边缘点处图像灰度的水平梯度a，边缘点处图像灰度的垂直梯度b，边缘点弯曲性系数c，相近边缘点的连接方向角度θ，自然对数的底数e，阻尼系数f，缩放因子g，边缘点的水平坐标。x，形成了函数关系：
27、
28、其中，a和b分别代表边缘点处图像灰度的水平和垂直梯度。表示梯度的总体强度，即边缘点的梯度大小。对梯度强度进行以2为底的对数运算，这用于调整梯度的量级或放大/缩小对曲率计算的影响。θ代表相邻边缘点之间的连接方向的角度。表示边缘弯曲性质与角度的关系。根据角度变化，边缘的弯曲性会不同。表示对之前计算结果进行x的水平坐标的微分运算，这是为了捕捉边缘变化的斜率或曲率。是一个阻尼项，它用于对曲率计算的环境影响进行抑制或调整。除以是为了对阻尼项进行归一化或缩放，使其影响曲率的程度不会太大。在本领域中，通常采用深度学习、局部拟合等技术手段对边缘点曲率进行计算。通过采用本专利技术提供的边缘点曲率计算公式，能够更有效地对边缘点曲率进行计算本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种集成电路布局锐角修复方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的集成电路布局锐角修复方法，其特征在于，步骤S1具体为：
3.根据权利要求2所述的集成电路布局锐角修复方法，其特征在于，步骤S14具体为：
4.根据权利要求3所述的集成电路布局锐角修复方法，其特征在于，步骤S142中的边缘点曲率计算公式具体为：
5.根据权利要求4所述的集成电路布局锐角修复方法，其特征在于，步骤S145具体为：
6.根据权利要求5所述的集成电路布局锐角修复方法，其特征在于，步骤S2具体为：
7.根据权利要求6所述的集成电路布局锐角修复方法，其特征在于，步骤S4中的第一布局优化具体为：
8.根据权利要求7所述的集成电路布局锐角修复方法，其特征在于，步骤S5具体为：
9.根据权利要求8所述的集成电路布局锐角修复方法，其特征在于，步骤S6中的第二布局优化具体为：
10.一种集成电路布局锐角修复系统，其特征在于，用于执行如权利要求1所述的集成电路布局锐角修复方法，该集成电路布局锐角修
...【技术特征摘要】
1.一种集成电路布局锐角修复方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的集成电路布局锐角修复方法，其特征在于，步骤s1具体为：
3.根据权利要求2所述的集成电路布局锐角修复方法，其特征在于，步骤s14具体为：
4.根据权利要求3所述的集成电路布局锐角修复方法，其特征在于，步骤s142中的边缘点曲率计算公式具体为：
5.根据权利要求4所述的集成电路布局锐角修复方法，其特征在于，步骤s145具体为：
6.根据权利要求5所述的集成电...
【专利技术属性】
技术研发人员：彭佳颖，
申请(专利权)人：深圳市芯程科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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