【技术实现步骤摘要】
本申请涉及静电测试领域，并且更具体地，涉及一种干扰信号的测试方法和电子设备。
技术介绍
1、随着移动终端的发展，越来越多的浮地类电子设备出现在人们生活中。其中，浮地类电子设备是指没有与大地连接的电子设备，示例性的，常见的浮地类电子设备包括手机、智能穿戴设备等。
2、静电损害是一种常见电子设备的损害源，通常，电子设备需要通过静电放电(electrostatic discharge，esd)测试才能被消费者使用。由于浮地类电子设备未与大地连接，在进行esd测试的过程中，无法准确地检测到静电带来的干扰信号，进而导致无法对esd测试过程中出现的电子元件失效进行分析。
3、基于此，如何在esd测试的过程中对干扰信号进行测试成为了一个亟待解决的问题。
技术实现思路
1、本申请提供了一种干扰信号的测试方法，能够在目的地位于多层的建筑物的情况下，确定目的地的楼层信息。
2、第一方面，提供了一种干扰信号的测试方法，应用于静电放电esd测试系统中，esd测试系统包括静电发生器、待测电子设备和信号检测设备，待测电子设备上包括第一检测点和第二检测点，信号检测设备包括第一探头和第二探头，静电发生器与第一检测点连接，信号检测设备与待测电子设备连接，静电发生器用于输出静电信号，信号检测设备用于通过第一探头和第二探头检测第一检测点和第二检测点之间的信号；该方法包括：
3、获取第一电压信号，第一电压信号为在第一连接状态第一检测点和第二检测点之间的信号，第一连接状态是指
4、获取第二电压信号，第二电压信号为在第二连接状态第一检测点和第二检测点之间的信号，第二连接状态是指第一探头与第二检测点连接，且第二探头与第一检测点连接的连接状态；
5、获取第三电压信号，第三电压信号为在第三连接状态第一检测点和第二检测点之间的信号，第三连接状态是指在第一检测点与第二检测点之间通过绝缘装置连接的连接状态；
6、根据第一电压信号、第二电压信号和第三电压信号得到第一干扰信号；第一干扰信号是指静电信号在第一检测点和第二检测点之间产生的干扰信号。
7、本申请的实施例中提供的干扰信号的测试方法，应用于静电放电esd测试系统中，esd测试系统包括静电发生器、待测电子设备和信号检测设备，待测电子设备上包括第一检测点和第二检测点，信号检测设备包括第一探头和第二探头；静电发生器与第一检测点连接，信号检测设备与待测电子设备连接，静电发生器用于输出静电信号，信号检测设备用于通过第一探头和第二探头检测第一检测点和第二检测点之间的信号，该方法包括：获取第一电压信号，第二电压信号和第三电压信号，其中，第一电压信号是指在第一探头与第一检测点连接且第二探头与第二检测点连接的情况下，第一检测点和第二检测点之间的信号，第二电压信号是指在第一探头与第二检测点连接且第二探头与第一检测点连接的情况下，第一检测点和第二检测点之间的信号，第三电压信号是指在第一检测点与第二检测点之间通过绝缘装置连接的情况下，第一检测点与第二检测点之间的信号；然后根据第一电压信号、第二电压信号和第三电压信号得到第一检测点和第二检测点之间的第一干扰信号；第一干扰信号是指静电信号在第一检测点和第二检测点之间产生的干扰信号。在本申请的实施例中，通过接入方向不同的第一电压信号和第二电压信号可以对信号检测设备中探头、差分放大模块以及信号检测设备内部的采样电路带来干扰信号进行校正，并通过绝缘装置使得第一检测点和第二检测点之间电路环路中引入的干扰信号进行校正，使得校正后得到的信号能够更加准确的指示静电信号在第一检测点和第二检测点之间的信号，也即是提高了第一干扰信号的准确性。
8、在本申请的一个实施例中，上述根据第一电压信号、第二电压信号和第三电压信号得到第一干扰信号，包括：
9、根据第一电压信号和第二电压信号对第二干扰信号进行校正，得到第四电压信号，第二干扰信号是指信号检测设备在测试链路上产生的干扰信号；
10、根据第三电压信号和第四电压信号得到第一干扰信号。
11、在本申请的一个实施例中，信号检测设备还包括差分放大模块、第一探针和第二探针，第二干扰信号包括信号检测设备通过第一探头和第二探头之间测试链路引入的差模干扰信号，和，差分放大模块产生的共模干扰信号，根据第一电压信号和第二电压信号对第二干扰信号进行校正，得到第四电压信号，包括：
12、对第一电压信号与第二电压信号作差，得到第四电压信号，第四电压信号通过第一公式表示，第一公式包括：
13、v1＝△v1-△v2＝(vab+vloop+vub_needle)*aringing(f)；
14、v1表示第四电压信号，△v1表示第一电压信号，△v2表示第二电压信号，vab表示静电干扰信号，vloop表示静电信号在第一探针和第二探针之间的电路环路产生的干扰信号，vub_needle表示第一探针和第二探针之间的差模干扰信号，aringing(f)是指预设的校正系数；
15、其中，第一电压通过第二公式表示，第二电压信号通过第三公式表示；
16、第二公式包括：
17、△v1＝(vab+vloop+vub_needle+vub_probe+vcomm)*aringing(f)；
18、第三公式包括：
19、△v2＝[(-vab)+(-vloop)+(-vub_needle)+vub_probe+vcomm]*aringing(f)；
20、vub_probe表示信号检测设备通过第一探头和第二探头之间测试链路引入的差模干扰信号，vcomm表示差分放大模块产生的共模干扰信号。
21、本申请的实施例中，在得到第一干扰信号的过程中，可以先根据第一电压信号和第二电压信号对第二干扰信号进行校正，得到第四电压信号，其中，第二干扰信号包括信号检测设备通过第一探头和第二探头之间测试链路引入的差模干扰信号，和，差分放大模块产生的共模干扰信号。这样使得最终得到的第一干扰信号是对信号检测设备通过第一探头和第二探头之间测试链路引入的差模干扰信号进行校正之后得到的，进而使得校正后得到的信号能够更加准确地指示静电信号在第一检测点和第二检测点之间的信号，也即是提高了第一干扰信号的准确性。
22、在本申请的一个实施例中，根据第三电压信号和第四电压信号得到第一干扰信号，包括：
23、根据第三电压信号和第四电压信号对静电信号在第一探针和第二探针之间的电路环路产生的干扰信号、第一探针和第二探针之间的差模干扰信号进行校正，得到第一干扰信号。
24、在本申请的一个实施例中，上述根据第三电压信号和第四电压信号对静电信号在第一探针和第二探针之间的电路环路产生的干扰信号、第一探针和第二探针之间的差模干扰信号进行校正，得到第一干扰信号，包括：
25、基于第三电压信号和第四电压信号对的差值本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种干扰信号的测试方法，其特征在于，应用于静电放电ESD测试系统中，所述ESD测试系统包括静电发生器、待测电子设备和信号检测设备，所述待测电子设备上包括第一检测点和第二检测点，所述信号检测设备包括第一探头和第二探头，所述静电发生器与所述第一检测点连接，所述信号检测设备与所述待测电子设备连接，所述静电发生器用于输出静电信号，所述信号检测设备用于通过所述第一探头和所述第二探头检测所述第一检测点和所述第二检测点之间的信号；所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一电压信号、所述第二电压信号和所述第三电压信号得到第一干扰信号，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述信号检测设备还包括差分放大模块、第一探针和第二探针，所述第二干扰信号包括所述信号检测设备通过所述第一探头和所述第二探头之间测试链路引入的差模干扰信号，和，所述差分放大模块产生的共模干扰信号，所述根据所述第一电压信号和所述第二电压信号对第二干扰信号进行校正，得到第四电压信号，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述第三电压
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述第三电压信号和所述第四电压信号对所述静电信号在所述第一探针和所述第二探针之间的电路环路产生的干扰信号、所述第一探针和所述第二探针之间的差模干扰信号进行校正，得到所述第一干扰信号，包括：
6.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，在获取所述第一电压信号时，所述第一探头通过同轴线的内芯与所述第一探针连接，且所述第二探头通过所述同轴线的外壳与所述第二探针连接。
7.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，在获取所述第二电压信号时，所述第一探头通过同轴线的外壳与所述第二探针连接，且所述第二探头通过所述同轴线的内芯与所述第一探针连接。
8.根据权利要求1至7任一项所述的方法，其特征在于，所述待测电子设备设置在绝缘垫上，所述绝缘垫设置在金属板上，所述金属板接地。
9.根据权利要求1至8任一项所述的方法，其特征在于，所述信号检测设备包括示波器。
10.一种芯片，其特征在于，包括处理器，当所述处理器执行指令时，所述处理器执行如权利要求1至9中任一项所述的方法。
11.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括处理器，所述处理器用于与存储器耦合，并读取存储器中的指令，并根据所述指令使得所述电子设备执行如权利要求1至9中任一项所述的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种干扰信号的测试方法，其特征在于，应用于静电放电esd测试系统中，所述esd测试系统包括静电发生器、待测电子设备和信号检测设备，所述待测电子设备上包括第一检测点和第二检测点，所述信号检测设备包括第一探头和第二探头，所述静电发生器与所述第一检测点连接，所述信号检测设备与所述待测电子设备连接，所述静电发生器用于输出静电信号，所述信号检测设备用于通过所述第一探头和所述第二探头检测所述第一检测点和所述第二检测点之间的信号；所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一电压信号、所述第二电压信号和所述第三电压信号得到第一干扰信号，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述信号检测设备还包括差分放大模块、第一探针和第二探针，所述第二干扰信号包括所述信号检测设备通过所述第一探头和所述第二探头之间测试链路引入的差模干扰信号，和，所述差分放大模块产生的共模干扰信号，所述根据所述第一电压信号和所述第二电压信号对第二干扰信号进行校正，得到第四电压信号，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述第三电压信号和所述第四电压信号得到所述第一干扰信号，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述第三电...
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