【技术实现步骤摘要】
所属的技术人员能够理解，本专利技术的各个方面可以实现为系统、方法或程序产品。因此，本专利技术的各个方面可以具体实现为以下形式，即：完全的硬件实施方式、完全的软件实施方式(包括固件、微代码等)，或硬件和软件方面结合的实施方式，这里可以统称为“电路”、“模块”或“系统”。根据本实施例的模块、子模块、单元、子单元中的任意多个、或其中任意多个的至少部分功能可以在一个模块中实现。根据本实施例的模块、子模块、单元、子单元中的任意一个或多个可以被拆分成多个模块来实现。根据本实施例的模块、子模块、单元、子单元中的任意一个或多个可以至少被部分地实现为硬件电路，例如现场可编程门阵列(fpga)、可编程逻辑阵列(pla)、片上系统、基板上的系统、封装上的系统、专用集成电路(asic)，或可以通过对电路进行集成或封装的任何其他的合理方式的硬件或固件来实现，或以软件、硬件以及固件三种实现方式中任意一种或以其中任意几种的适当组合来实现。或者，根据本实施例的模块、子模块、单元、子单元中的一个或多个可以至少被部分地实现为计算机程序模块，当该计算机程序模块被运行时，可以执行相应的功能。在一个实施例中，本专利技术提供一种射频电源老化测试自动监控设备可以包括至少一个处理单元、以及至少一个存储单元。其中，存储单元存储有程序代码，当程序代码被处理单元执行时，使得处理单元执行本说明书上述描述的根据本专利技术各种示例性实施方式的射频电源老化测试自动监控中的步骤。例如，处理单元可以执行如图1所示的射频电源老化测试自动监控方法的流程。在一个实施例中，本专利技术提供一种计算机可读介质，该存储有计算机可执
技术介绍
1、射频电源老化测试是确保射频电源在出厂前性能稳定、可靠的关键环节。在射频电源老化测试中，主要测试内容包括定时开关射频、调整功率以及切换频率等。这些测试的目的是在模拟实际使用过程中，检测射频电源的稳定性和可靠性，提前发现并排除可能存在的故障或问题。
2、在传统的老化测试中，通常是通过手动方式进行各项测试参数的变更。这意味着测试人员需要根据预定的老化程序，手动调整射频电源的开关时间、功率大小以及频率切换等参数。这种方式不仅效率低下，而且容易出错，难以保证老化程序的标准化和一致性，详细分析如下：
3、首先，手动操作效率低下。测试人员需要根据老化程序，逐一手动设置和调整各项参数。这不仅需要耗费大量时间和人力，而且在面对大量待测射频电源时，很难保证测试进度的及时性和准确性。
4、其次，手动操作容易出错。测试人员在设置参数时，可能会因为人为疏忽或操作失误而导致参数设置错误。这不仅会影响老化测试的结果，而且可能会对射频电源的性能和可靠性造成潜在影响。
5、最后，老化程序不标准。由于手动操作缺乏统一的标准和规范，不同的测试人员可能会采用不同的参数设置方法和老化程序。这导致老化测试的结果不具备可比性和一致性，难以对射频电源的性能做出准确、可靠的评估。
技术实现思路
1、为了克服现有的老化测试存在效率低，容易出错，难以保证老化程序不标准的问题，本专利技术提供了一种射频电源老化测试自动监控方法、装置及可读介质。
2、本专利技术技术方案如下所述：
3、第一方面，本专利技术提供一种射频电源老化测试自动监控方法，包括以下步骤：
4、步骤s1、获取老化程序中的测试参数；
5、步骤s2、设置开启射频电源和关闭射频电源的时间；
6、步骤s3、设置多个功率阶段的功率值和功率切换时间；
7、步骤s4、设置多个频率阶段的频率值和频率切换时间；
8、步骤s5、启动测试，且测试时根据设置的测试参数自动切换不同的测试项；
9、步骤s6、结束测试，且测试完后自动生成记录文件。
10、根据上述方案的射频电源老化测试自动监控方法，所述测试参数包括开启射频电源的时间、关闭射频电源的时间、功率值、功率切换时间、频率值和频率切换时间。
11、根据上述方案的射频电源老化测试自动监控方法，所述记录文件记录的信息包括输出功率、频率、ac/dc电源输入和输出电压、电源内部温度以及环境温度、电源输出波形及各种电源保护状态。
12、根据上述方案的射频电源老化测试自动监控方法，在步骤s1中，通过特定的编程语言编写程序，控制程序的执行流程，并使用特定的函数或方法来读取老化程序中的测试参数。
13、进一步的，步骤s1具体包括以下步骤：
14、步骤a1：确定使用的编程语言和开发环境；
15、步骤a2：编写一个参数获取程序，用于读取存储测试参数的文件；
16、步骤a3：参数获取程序使用文件读取函数读取老化程序中存储测试参数的文件；
17、步骤a4：对读取的参数值进行处理或解析，以获取所需的测试参数；
18、步骤a5：将获取的参数值用于后续的测试或分析。
19、根据上述方案的射频电源老化测试自动监控方法，步骤s1具体包括以下步骤：
20、步骤b1：编写或生成包含测试参数的配置文件；
21、步骤b2：使用编程语言中的文件读取函数读取配置文件；
22、步骤b3：解析配置文件，提取所需的参数值；
23、步骤b4：将获取的参数值用于后续的测试或分析。
24、根据上述方案的射频电源老化测试自动监控方法，使用软件界面或编程接口来设置开启和关闭射频电源的时间、多个功率阶段的功率值和功率切换时间以及多个频率阶段的频率值和频率切换时间。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种射频电源老化测试自动监控方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的射频电源老化测试自动监控方法，其特征在于，所述测试参数包括开启射频电源的时间、关闭射频电源的时间、功率值、功率切换时间、频率值和频率切换时间。
3.根据权利要求1所述的射频电源老化测试自动监控方法，其特征在于，所述记录文件记录的信息包括输出功率、频率、AC/DC电源输入和输出电压、电源内部温度以及环境温度、电源输出波形及各种电源保护状态。
4.根据权利要求1所述的射频电源老化测试自动监控方法，其特征在于，在步骤S1中，通过特定的编程语言编写程序，控制程序的执行流程，并使用特定的函数或方法来读取老化程序中的测试参数。
5.根据权利要求4所述的射频电源老化测试自动监控方法，其特征在于，步骤S1具体包括以下步骤：
6.根据权利要求1所述的射频电源老化测试自动监控方法，其特征在于，步骤S1具体包括以下步骤：
7.根据权利要求1所述的射频电源老化测试自动监控方法，其特征在于，使用软件界面或编程接口来设置开启和关闭射频电源的时间、多
8.根据权利要求1所述的射频电源老化测试自动监控方法，其特征在于，在步骤S6中，通过数据可视化技术将记录文件的测试结果以图表和/或曲线形式展示。
9.一种射频电源老化测试自动监控装置，其特征在于，包括：
10.一种计算机可读介质，存储有计算机可执行指令，其特征在于，所述计算机可执行指令用于执行如权利要求1至8任一权利要求所述的射频电源老化测试自动监控方法。
...【技术特征摘要】
1.一种射频电源老化测试自动监控方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的射频电源老化测试自动监控方法，其特征在于，所述测试参数包括开启射频电源的时间、关闭射频电源的时间、功率值、功率切换时间、频率值和频率切换时间。
3.根据权利要求1所述的射频电源老化测试自动监控方法，其特征在于，所述记录文件记录的信息包括输出功率、频率、ac/dc电源输入和输出电压、电源内部温度以及环境温度、电源输出波形及各种电源保护状态。
4.根据权利要求1所述的射频电源老化测试自动监控方法，其特征在于，在步骤s1中，通过特定的编程语言编写程序，控制程序的执行流程，并使用特定的函数或方法来读取老化程序中的测试参数。
5.根据权利要求4所述的射频电源老化测试自动监控方法，其特征在于，步骤s...
【专利技术属性】
技术研发人员：何坤孝，邓顶阳，张振伟，
申请(专利权)人：深圳市广能达半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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