【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于电气元件的表面缺陷光学检测领域。
技术介绍
1、端部带有稳定引脚的电气元件在批量化进行视觉检测时，可以通过视觉系统对获取到的该电气元件的表面图案进行视觉分析并与标准图案进行比较，进而分析该电气元件的表面是否存在破损、瑕疵或刻蚀铭牌错误等问题，最终判断出该电气元件是否合格；
2、由于这种带引脚的滤波器等电气元件存在正反面，需要考虑到正反面的情况时需要借助翻面机构，为了能及时的剔除不合格品，还要增加针对不合格品的分拣问题，本方案能同时解决该问题。
技术实现思路
1、专利技术目的：为了克服现有技术中存在的不足，本专利技术提供一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统与方法，能实现电子元器件的正反面光学检测的同时完成合格品和不合格品的分拣。
2、技术方案：为实现上述目的，本专利技术的一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统，被测物是至少带两条并列引脚的电气元件，包括水平的直线传送单元；直线传送单元的传送尽头端设置有可转动的分拣滚筒，直线传送单元上传送的电气元件的两条并列...
【技术保护点】
1.一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统，被测物是至少带两条并列引脚(3.2)的电气元件(3.1)，其特征在于：包括水平的直线传送单元(26)；所述直线传送单元(26)的传送尽头端设置有可转动的分拣滚筒(15)，所述直线传送单元(26)上传送的电气元件(3.1)的两条并列引脚(3.2)均水平朝向分拣滚筒(15)一侧；所述分拣滚筒(15)远离直线传送单元(26)的一侧设置有倾斜的合格品滑道(27)；所述直线传送单元(26)的尽头上方设置有ccd视觉相机(18)；
2.根据权利要求1所述的一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统，其特征在于：所述分拣滚筒(15)下...
【技术特征摘要】
1.一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统，被测物是至少带两条并列引脚(3.2)的电气元件(3.1)，其特征在于：包括水平的直线传送单元(26)；所述直线传送单元(26)的传送尽头端设置有可转动的分拣滚筒(15)，所述直线传送单元(26)上传送的电气元件(3.1)的两条并列引脚(3.2)均水平朝向分拣滚筒(15)一侧；所述分拣滚筒(15)远离直线传送单元(26)的一侧设置有倾斜的合格品滑道(27)；所述直线传送单元(26)的尽头上方设置有ccd视觉相机(18)；
2.根据权利要求1所述的一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统，其特征在于：所述分拣滚筒(15)下方设置旋转盘(5)，所述旋转盘(5)下侧同轴心连接有纵向转轴(9)，所述旋转盘(5)的轮廓边缘沿圆弧轮廓路径阵列有a传动齿体(6)，a驱动电机(8)驱动连接a驱动齿轮(7)，a驱动齿轮(7)与a传动齿体(6)啮合；
3.根据权利要求2所述的一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统，其特征在于：所述分拣滚筒(15)外周沿轴线呈圆周阵列分布有c传动齿体(16)；所述旋转盘(5)上固定安装有b驱动电机(4)，所述b驱动电机(4)驱动连接b驱动齿轮(10)，所述b驱动齿轮(10)与所述c传动齿体(16)啮合。
4.根据权利要求3所述的一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统，其特征在于：c电机(20)的转轴(17)固定连接所述ccd视觉相机(18)，且c电机(20)的转轴(17)轴线水平且与直线传送单元(26)的传送方向垂直。
5.根据权利要求4所述的一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统，其特征在于：将一个电气元件(3.1)传送至直线传送单元(26)的传送尽头，且该电气元件(3.1)上的两条并列引脚(3.2)完全水平插入分拣滚筒(15)上一组引脚插口(2)中时记为一个工作周期的“初始状态”；将经过该电气元件(3.1)几何中心，且与电气元件(3.1)正反面垂直的虚拟直线记为a虚拟线(29)；将ccd视觉相机(18)的镜头(19)的轴线记为b虚拟线(28)，“初始状态”下a虚拟线(29)与b虚拟线(28)重合，ccd视觉相机(18)的镜头(19)正对电气元件(3.1)的正面(3.1a)。
【专利技术属性】
技术研发人员：杨玲玲，黎杨梅，周林兵，付厚奎，杨祉芸，
申请(专利权)人：武汉软件工程职业学院武汉开放大学，
类型：发明
国别省市：
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