【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于电气元件的表面缺陷光学检测领域。
技术介绍
1、端部带有稳定引脚的电气元件在批量化进行视觉检测时，可以通过视觉系统对获取到的该电气元件的表面图案进行视觉分析并与标准图案进行比较，进而分析该电气元件的表面是否存在破损、瑕疵或刻蚀铭牌错误等问题，最终判断出该电气元件是否合格；
2、由于这种带引脚的滤波器等电气元件存在正反面，需要考虑到正反面的情况时需要借助翻面机构，为了能及时的剔除不合格品，还要增加针对不合格品的分拣问题，本方案能同时解决该问题。
技术实现思路
1、专利技术目的：为了克服现有技术中存在的不足，本专利技术提供一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统与方法，能实现电子元器件的正反面光学检测的同时完成合格品和不合格品的分拣。
2、技术方案：为实现上述目的，本专利技术的一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统，被测物是至少带两条并列引脚的电气元件，包括水平的直线传送单元；直线传送单元的传送尽头端设置有可转动的分拣滚筒，直线传送单元上传送的电气元件的两条并列引脚均水平朝向分拣滚筒一侧；分拣滚筒远离直线传送单元的一侧设置有倾斜的合格品滑道；直线传送单元的尽头上方设置有ccd视觉相机；
3、分拣滚筒上沿轴线呈圆周阵列分布有若干组引脚插口，若干组组引脚插口随分拣滚筒旋转至逐次水平且朝向直线传送单元一侧；
4、当电气元件传送至直线传送单元的传送尽头时，该电气元件上的两条并列引脚刚好完全水平插入分拣滚筒上的水平且朝向直线传送单元一侧的一
5、进一步的，分拣滚筒下方设置旋转盘，旋转盘下侧同轴心连接有纵向转轴，旋转盘的轮廓边缘沿圆弧轮廓路径阵列有a传动齿体，a驱动电机驱动连接a驱动齿轮，a驱动齿轮与a传动齿体啮合；
6、旋转盘上固定连接滚筒支架，滚筒支架上固定有一对滚筒轴，分拣滚筒的两端通过b轴承与两滚筒轴转动配合；
7、分拣滚筒的一侧设置有呈斜面的不合格品滑道，不合格品滑道远离分拣滚筒的一侧沿轮廓设置有挡墙。
8、进一步的，分拣滚筒外周沿轴线呈圆周阵列分布有c传动齿体；旋转盘上固定安装有b驱动电机，b驱动电机驱动连接b驱动齿轮，b驱动齿轮与c传动齿体啮合。
9、进一步的，c电机的转轴固定连接ccd视觉相机，且c电机的转轴轴线水平且与直线传送单元的传送方向垂直。
10、进一步的，将一个电气元件传送至直线传送单元的传送尽头，且该电气元件上的两条并列引脚完全水平插入分拣滚筒上一组引脚插口中时记为一个工作周期的“初始状态”；将经过该电气元件几何中心，且与电气元件正反面垂直的虚拟直线记为a虚拟线；将ccd视觉相机的镜头的轴线记为b虚拟线，“初始状态”下a虚拟线与b虚拟线重合，ccd视觉相机的镜头正对电气元件的正面。
11、进一步的，在“初始状态”的基础上：并列引脚插入分拣滚筒上一组引脚插口的电气元件随分拣滚筒逆时针旋转b°，ccd视觉相机随c电机的转轴沿轴线顺时针旋转a°，a虚拟线与b虚拟线重新重合，满足a°+b°＝180°，此时ccd视觉相机的镜头正对电气元件的反面。
12、进一步的，在“初始状态”的基础上：并列引脚插入分拣滚筒上一组引脚插口的电气元件随分拣滚筒沿轴线逆时针旋转180°后暂停，然后通过a驱动电机驱动分拣滚筒随纵向转轴在俯视视角下快速顺时针旋转90°；分拣滚筒随纵向转轴在俯视视角下快速顺时针旋转90°的过程中，并列引脚插入分拣滚筒上一组引脚插口的水平状态的电气元件在离心力的作用下向不合格品滑道的一侧甩出。
13、进一步的，在“初始状态”的基础上：并列引脚插入分拣滚筒上一组引脚插口的电气元件随分拣滚筒沿轴线逆时针旋转超过180°，直至该电气元件与合格品滑道平行时，该电气元件在重力作用下沿合格品滑道向下滑动并脱离分拣滚筒。
14、进一步的，所述分拣滚筒的滚筒内腔中设置有对射式光电传感器，所述对射式光电传感器包括光束发射器和光束接收器，所述光束发射器沿分拣滚筒的轴线向光束接收器发射光束，当电气元件上的两条并列引脚完全水平插入分拣滚筒上的一组引脚插口中时，所述引脚将光束发射器发射的光束阻挡。
15、进一步的，一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统的工作方法：
16、在“初始状态”的基础上，ccd视觉相机的镜头拍摄并获取到该电气元件的正面图案；随后，分拣滚筒沿轴线逆时针旋转b°，与此同时，ccd视觉相机随c电机的转轴沿轴线顺时针旋转a°，a虚拟线与b虚拟线重新重合，ccd视觉相机的镜头拍摄并获取到该电气元件的反面图案。
17、有益效果：本专利技术能实现滤波器等元件的正反面光学检测的同时完成合格品和不合格品的分拣；完成双面拍摄的翻转机构和分拣机构均由分拣滚筒完成，不仅实施过程流畅，还能保证完成技术目的的同时有效精简结构。
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1.一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统，被测物是至少带两条并列引脚(3.2)的电气元件(3.1)，其特征在于：包括水平的直线传送单元(26)；所述直线传送单元(26)的传送尽头端设置有可转动的分拣滚筒(15)，所述直线传送单元(26)上传送的电气元件(3.1)的两条并列引脚(3.2)均水平朝向分拣滚筒(15)一侧；所述分拣滚筒(15)远离直线传送单元(26)的一侧设置有倾斜的合格品滑道(27)；所述直线传送单元(26)的尽头上方设置有ccd视觉相机(18)；
2.根据权利要求1所述的一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统，其特征在于：所述分拣滚筒(15)下方设置旋转盘(5)，所述旋转盘(5)下侧同轴心连接有纵向转轴(9)，所述旋转盘(5)的轮廓边缘沿圆弧轮廓路径阵列有a传动齿体(6)，a驱动电机(8)驱动连接a驱动齿轮(7)，a驱动齿轮(7)与a传动齿体(6)啮合；
3.根据权利要求2所述的一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统，其特征在于：所述分拣滚筒(15)外周沿轴线呈圆周阵列分布有c传动齿体(16)；所述旋转盘(5)上固定安装有b驱动电机(4)，所述b
4.根据权利要求3所述的一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统，其特征在于：c电机(20)的转轴(17)固定连接所述ccd视觉相机(18)，且c电机(20)的转轴(17)轴线水平且与直线传送单元(26)的传送方向垂直。
5.根据权利要求4所述的一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统，其特征在于：将一个电气元件(3.1)传送至直线传送单元(26)的传送尽头，且该电气元件(3.1)上的两条并列引脚(3.2)完全水平插入分拣滚筒(15)上一组引脚插口(2)中时记为一个工作周期的“初始状态”；将经过该电气元件(3.1)几何中心，且与电气元件(3.1)正反面垂直的虚拟直线记为a虚拟线(29)；将ccd视觉相机(18)的镜头(19)的轴线记为b虚拟线(28)，“初始状态”下a虚拟线(29)与b虚拟线(28)重合，ccd视觉相机(18)的镜头(19)正对电气元件(3.1)的正面(3.1a)。
6.根据权利要求5所述的一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统，其特征在于：在“初始状态”的基础上：并列引脚(3.2)插入分拣滚筒(15)上一组引脚插口(2)的电气元件(3.1)随分拣滚筒(15)逆时针旋转b°，ccd视觉相机(18)随c电机(20)的转轴(17)沿轴线顺时针旋转a°，a虚拟线(29)与b虚拟线(28)重新重合，满足a°+b°＝180°，此时ccd视觉相机(18)的镜头(19)正对电气元件(3.1)的反面(3.1b)。
7.根据权利要求6所述的一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统，其特征在于：在“初始状态”的基础上：并列引脚(3.2)插入分拣滚筒(15)上一组引脚插口(2)的电气元件(3.1)随分拣滚筒(15)沿轴线逆时针旋转180°后暂停，然后通过a驱动电机(8)驱动分拣滚筒(15)随纵向转轴(9)在俯视视角下快速顺时针旋转90°；分拣滚筒(15)随纵向转轴(9)在俯视视角下快速顺时针旋转90°的过程中，并列引脚(3.2)插入分拣滚筒(15)上一组引脚插口(2)的水平状态的电气元件(3.1)在离心力的作用下向不合格品滑道(23)的一侧甩出。
8.根据权利要求7所述的一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统，其特征在于：在“初始状态”的基础上：并列引脚(3.2)插入分拣滚筒(15)上一组引脚插口(2)的电气元件(3.1)随分拣滚筒(15)沿轴线逆时针旋转超过180°，直至该电气元件(3.1)与合格品滑道(27)平行时，该电气元件(3.1)在重力作用下沿合格品滑道(27)向下滑动并脱离分拣滚筒(15)。
9.根据权利要求8所述的一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统，其特征在于：所述分拣滚筒(15)的滚筒内腔中设置有对射式光电传感器，所述对射式光电传感器包括光束发射器(36)和光束接收器(37)，所述光束发射器(36)沿分拣滚筒(15)的轴线向光束接收器(37)发射光束，当电气元件(3.1)上的两条并列引脚(3.2)完全水平插入分拣滚筒(15)上的一组引脚插口(2)中时，所述引脚(3.2)将光束发射器(36)发射的光束阻挡。
10.根据权利要求9所述的一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统的工作方法，其特征在于：
...【技术特征摘要】
1.一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统，被测物是至少带两条并列引脚(3.2)的电气元件(3.1)，其特征在于：包括水平的直线传送单元(26)；所述直线传送单元(26)的传送尽头端设置有可转动的分拣滚筒(15)，所述直线传送单元(26)上传送的电气元件(3.1)的两条并列引脚(3.2)均水平朝向分拣滚筒(15)一侧；所述分拣滚筒(15)远离直线传送单元(26)的一侧设置有倾斜的合格品滑道(27)；所述直线传送单元(26)的尽头上方设置有ccd视觉相机(18)；
2.根据权利要求1所述的一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统，其特征在于：所述分拣滚筒(15)下方设置旋转盘(5)，所述旋转盘(5)下侧同轴心连接有纵向转轴(9)，所述旋转盘(5)的轮廓边缘沿圆弧轮廓路径阵列有a传动齿体(6)，a驱动电机(8)驱动连接a驱动齿轮(7)，a驱动齿轮(7)与a传动齿体(6)啮合；
3.根据权利要求2所述的一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统，其特征在于：所述分拣滚筒(15)外周沿轴线呈圆周阵列分布有c传动齿体(16)；所述旋转盘(5)上固定安装有b驱动电机(4)，所述b驱动电机(4)驱动连接b驱动齿轮(10)，所述b驱动齿轮(10)与所述c传动齿体(16)啮合。
4.根据权利要求3所述的一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统，其特征在于：c电机(20)的转轴(17)固定连接所述ccd视觉相机(18)，且c电机(20)的转轴(17)轴线水平且与直线传送单元(26)的传送方向垂直。
5.根据权利要求4所述的一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统，其特征在于：将一个电气元件(3.1)传送至直线传送单元(26)的传送尽头，且该电气元件(3.1)上的两条并列引脚(3.2)完全水平插入分拣滚筒(15)上一组引脚插口(2)中时记为一个工作周期的“初始状态”；将经过该电气元件(3.1)几何中心，且与电气元件(3.1)正反面垂直的虚拟直线记为a虚拟线(29)；将ccd视觉相机(18)的镜头(19)的轴线记为b虚拟线(28)，“初始状态”下a虚拟线(29)与b虚拟线(28)重合，ccd视觉相机(18)的镜头(19)正对电气元件(3.1)的正面(3.1a)。
【专利技术属性】
技术研发人员：杨玲玲，黎杨梅，周林兵，付厚奎，杨祉芸，
申请(专利权)人：武汉软件工程职业学院武汉开放大学，
类型：发明
国别省市：
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