具主副步骤高压多点测试设备及方法技术

一种具主副步骤高压多点测试设备及方法，将多组待测物与测试设备相连接，并通过输入装置进行各项测试参数的设定；开始测试时，先进行主步骤的高压测试程序，先通过一高压产生装置同时对多组待测物输出高电压，并通过中央控制单元侦测多组待测物在主步骤测试程序是否正常，若正常，则判定多组待测物皆为良品，完成测试；若中央控制单元判定多组待测物的任意一个有异常时，即会进入副步骤测试程序，即个别对每一组待测物进行测试，并将测试结果显示于一显示器上，经由显示器的显示结果，即可得知哪一组测试物为不良品。本发明专利技术可减少测试时间，提高测试速度，易于操作人员剔除不良品。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术关于一种检测设备，特别是指一种将多颗待测物以群组模式并接测试的具 主副步骤高压多点测试设备及方法。
技术介绍
一般零件测试，如马达、风扇或变压器等，其品质检验必须使用耐压机，进行高压 量测，以确认该待测物是否符合安全规格的耐电压条件。因此，为确保每个零件皆为良品，在每个零组件出厂前，皆要进行高压测试程序， 若以变压器为例，该变压器至少必须测试初级对铁心、铁心对次级及初级对次级等三次测 试程序，若每次必须测试1秒，每个变压器在测试上必须花上3秒钟才能进行第2个变压器 的测试，造成测试时间冗长，浪费人力与时间，不符合经济效益。因此，为改善上述缺失，即有群组并联测试设备问市，可同时测试多组变压器，以 达到节省测试时间及人力的目的；然而，同时测试多组待测物，虽然可缩短测试时间及人 力，但测试群组中有不良品时，现阶段是将群组内全部的待测物暂时判定不良，再通过冗长 的测试程序做第二次测试，而如此的测试方式，容易因人员操作失误，造成混料，且无法做 数据统计分析。另外，在实际进行高压测试时，如果与待测物的接触点接触不良时，往往会发生弧 光，长期下来会影响接触点的寿命；又因为不良的接触，可能高电压并没有确实地传送到待 测物，而发生耐电压不良品被误判为良品的情形。对高压产生设备而言，上述弧光的产生会 对设备本身，甚至对其它附属的测试设备造成干扰，相对地影响设备的可靠度以及稳定性， 进而影响的测试结果的可靠性。由此可见，上述习用测试设备及测试方法具有极大的缺失有待改进。
技术实现思路
本专利技术的第一目的即在于提供一种，以主、 副测试步骤分离模式测试待测物，以达到减少测试时间，提高测试速度的目的。本专利技术的第二目的在于提供一种，当主步骤 测试程序判定测试待测物群组发生不良时，即会自动进入副步骤测试程序，针对个别待测 物进行测试，找出真正不良品。本专利技术的第三目的在于提供一种，将真正的 不良待测物位置显示在面板上，让操作人员极易将不良品剔除。本专利技术的第四目的在于提供一种具主高压多点测试设备及方法，将真正的不良待 测物位置讯号输出于背板接点上，藉由自动设备将不良品剔除。本专利技术的第五目的在于提供一种具主高压多点测试设备及方法，提供高压测试前 先进行与待测物间的接触检查，以避免测试失误。可达成上述专利技术目的的具主副步骤高压多点测试设备，包括一高/低压切换装4置，其包含数个高压开关及数个低压开关，该高/低压切换装置的电压输出模式为高压开 关与低压开关启闭的切换；一测试通道组，其包含多个测试通道，每一个测试通道皆搭配高 /低压切换装置的一个高压开关及一个低压开关，使单一测试通道用以变换电压输出模式； 一高压产生装置，其具有一高压端及一低压端，该高压端与高/低压切换装置的全部高压 开关连接；一电流侦测装置，其与连接于高压产生装置的该低压端与高低压切换装置间，用 以侦测电流值；以及一中央控制单元，用以储存主步骤测试程序及副步骤测试程序，该主步 骤测试程序及副步骤测试程序的测试参数包含测试电压、测试时间，该中央控制单元会驱 使高压产生装置产生高压输出及控制高/低压切换装置的电压输出模式，使输出通道组用 以输出多组高电压及多组低电压信号，以同时对多个待测物进行侦测，并会接收电流侦测 装置传送的电流信号。可达成上述专利技术目的的具主副步骤高压多点测试方法，包括(1)通过一用以储存主步骤测试程序及副步骤测试程序的中央控制单元，驱使一 高压产生装置产生高压输出及控制一高/低压切换装置的电压输出模式；(2)该输出通道组输出多组高电压及多组低电压信号，以同时对多个待测物进行 侦测，并接收一电流侦测装置传送的电流信号；(3)进行主步骤测试程序，通过中央控制单元驱使高压产生装置经由高压端输出 高电压，经输出通道组传送至待测物，经由电流侦测装置侦测电流信号，并将电流信号传送 至中央控制单元中判读，以判断全部待测物状态，若该测试群组中的待物测有任一不良品 时，则进入副步骤测试程序；以及(4)进入副步骤测试程序，进行个别待测物的高压测试，经由中央控制单元驱使高 压产生装置经高压端输出高电压顺序至各待测物，并由各待测物输出低电压回高压产生装 置，该中央控制单元经由电流侦测装置撷取的电流值，分别判断各待测物状态，并将测试结 果传送至显示装置显示。重复步骤(4)，进行次一待测物的高压测试，直至全部待测物皆个 别测试完成，以找出不良品的待测物。其中，更包含(2-1) —接触点检查步骤，对每一个群组个别进行接触测试，经由中 央控制单元驱使高压产生装置经高压端输出一电压值至待测物，通过电流侦测装置侦测的 电流值，中央控制单元即可判断该测试群组是否有接触不良的情况。其中，该步骤(4)的测试结果可传送至高压多点测试设备的背板输出。其中，更包含一步骤，将全部待测物的测试点脚位与测试通道组的各个测试通道 相连接，每个测试通道藉由高低压切换装置的高压开关及低压开关的切换，皆可任意输出 设定的高压或低压或不输出电压。本专利技术与其他习用产品相互比较时，更具有以下的优点1.本专利技术以主、副测试步骤分离模式测试待测物，以达到减少测试时间，提高测试 速度的目的。2.本专利技术当主步骤测试程序判定测试待测物群组发生不良时，即会自动进入副步 骤测试程序，针对个别待测物进行测试，找出真正不良品。3.本专利技术将真正的不良待测物位置显示在面板上，让操作人员极易将不良品剔 除。4.本专利技术将真正的不良待测物位置讯号输出在背板接点上，藉由自动设备将不良5品易丨J除。5.本专利技术在高压测试前先进行与待测物间的接触检查，以避免测试失误。 附图说明图1为本专利技术的方框图；图2为本专利技术的设备示意图；以及图3为本专利技术的操作流程图。具体实施例方式请参阅图1所示，是本专利技术所提供的具主高压多点测试设备及方法的方框图，主 要包括一高/低压切换装置1，该高/低压切换装置1包含数组高压开关SH及数个低压 开关SL，使该高/低压切换装置1的电压输出模式为各组高压开关SH与低压开关SL的启 闭切换；一测试通道组2，该测试通道组2包含多组测试通道21a 21η，每一组测试通道 21a 21η皆与高/低压切换装置1的一组高压开关SH及一个低压开关SL相连接，当高压 开关SH呈导通状态(ON)时，低压开关SL即为不导通状态(OFF)，使单一测试通道21a 21η只能选择性的做高压或低压输出或无电压输出；一高压产生装置3，该高压产生装置3具有高压端31及低压端32，该高压端31与 高/低压切换装置1的全部高压开关SH电性连接，以将高压信号传送至高压开关SH，而低 压端32则与后述的电流侦测装置4相电性连接；一电流侦测装置4，该电流侦测装置4与高压产生装置3的低压端32及一中央控 制单元5及高/低压切换装置1的低压开关SL电性连接；通过电流侦测装置4侦测低压回 流的电流值大小，并将侦测结果传送至中央控制单元5中判读；一中央控制单元5，该中央控制单元5用以执行主步骤测试程序及副步骤测试程 序，接收来自电流侦测装置4侦测信号及输入装置6的设定信号，并对信号进行判读及处理 后，驱使高压产生装置3产生高压输出及控制高/低压切换装置1的高压开关SH与低压开 关SL启闭的切换，并将测试结果经由下述显示装置7显示；一输入装置6，提供测试参数及待测物的测试点设定，并本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种主副步骤高压多点测试设备，包括有：一高／低压切换装置，其包含数个高压开关及数个低压开关；一测试通道组，其包含多个测试通道，每一组测试通道皆搭配该高／低压切换装置的一个高压开关及一个低压开关，使单一测试通道用以变换电压输出模式；一高压产生装置，其具有一高压端及一低压端，该高压端与高／低压切换装置的全部高压开关电性连接；一电流侦测装置，其连接于高压产生装置的该低压端与高／低压切换装置间，用以侦测电流值；以及一中央控制单元，用以执行主步骤测试程序及副步骤测试程序，该中央控制单元驱使高压产生装置产生高压输出及控制高／低压切换装置的电压输出模式，使输出通道组用以输出多组高电压及多组低电压信号，以同时对多组待测物进行侦测，并会接收电流侦测装置传送的电流信号。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王耀南，董学祖，吴南世，赖竣榤，
申请(专利权)人：致茂电子苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：32[中国|江苏]