熔断器寿命特征数据试验与评估系统及其评估方法技术方案

本发明专利技术涉及一种熔断器寿命特征数据试验与评估系统，它包括试验模块、数据采集模块、寿命评估模块、显示模块，所述的寿命评估模块计算在加速应力下熔断器达到各个选定冷态电阻值以及熔断或试验截止时的综合加速因子以及相应的平均运行时间，从而转换为熔断器在正常工作电流条件下的寿命。本发明专利技术熔断器评估系统通过对熔断器分阶段设置冷态电阻值，对各熔断器到达相应冷态电阻值以及熔断或试验截止时的时间和对应的熔体温度进行观察记录，并进行统计计算，得到平均运行时间；同时计算各个阶段的加速因子，从而保证熔断器寿命评估结果的逼真性，避免了熔断器超龄服役的问题，确保电气设备及线路的可靠安全运行。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种熔断器寿命特征数据评估系统及其评估方法。
技术介绍
熔断器是一种过电流保护电器。使用时，将熔断器串联于被保护电路中，当被保 护电路的电流超过规定值，并经过一定时间后，由熔体自身产生的热量熔断熔体，使电路断 开，起到保护的作用。熔断器广泛应用于低压配电系统和控制系统及用电设备中，作为短路 和过电流保护，是应用最普遍的保护器件之一。熔断器在使用过程中，由于自身流过的电流及外界环境的影响，其不可避免的发 生老化降级，改变熔断器的保护特性曲线，影响其使用寿命。熔断器主要由陶瓷或玻璃、石 英砂、及熔丝材料组成。陶瓷与玻璃均需经高温烧结，强度高、耐高温、具有良好的化学稳定 性与机械强度，不易老化，使用寿命在30年左右。石英砂是一种坚硬、耐磨、耐高温、热膨胀 系数小、高度绝缘、化学性能稳定的硅酸盐矿物，其主要矿物成分是SiO2,使用寿命在30年 左右。所以，熔断器的寿命主要取决于熔体的状态。熔体材料主要包括铅、锡、锌、铜、银及相应的合金材料。铅、锡、锌熔化温度较低 (327. 4度、231. 9度及419. 5度)，热导率小、电阻率大、尺寸大，常温下蒸汽压较高，易老 化、寿命短，熔断时金属蒸汽较多，不利于灭弧；铜、银及其合金制成的熔丝熔点较高(铜 1083. 4度，银960度)、热导率大、电阻率小、截面积小、相对来讲不易老化、寿命较长，熔断 时金属蒸汽较少，有利于灭弧。熔断器的熔体在通电条件下的主要老化机理就是金属电迁移，即金属中的离子迁 移，这种迁移会在局部区域发生质量亏损而出现空洞，或产生质量堆积而出现小丘或凝固 态毛刺，造成金属缺陷，电阻增大，引发局部过热，熔体温度升高，高温又会加速金属化电迁 移的过程，使缺陷进一步增大，逐渐累积至发生熔体熔断。金属电迁移失效中值时间的经典 公式为MTTF 二 4" exp(—)Jn K-T⑴其中A为材料相关的常数；J为电流密度；n为电流密度指数，其值取决于电流密 度J ；Ea为激活能；K为玻尔兹曼常数；T为绝对温度。现有熔断器测试包括生产厂家对新熔断器产品进行性能测试、型式试验等；在老 化测试方面，主要针对电极接触老化问题，并未考虑熔断器寿命的主要决定因素_熔体的 老化问题。在熔断器寿命评估方面更是鲜有研究报道，这也是导致了大量熔断器超龄服役 的原因。因此，有必要对熔断器进行寿命预测，评估熔断器寿期内主要寿命点的特征数据， 从而能够制定更加合理的维修维护策略，从根本上解决熔断器超龄服役的问题。
技术实现思路
本专利技术目的在于提供一种能够精确且全面地进行熔断器寿命评估的系统及评估为达到上述目的，本专利技术所采用的技术方案是一种熔断器寿命特征数据试验与 评估系统，它包括用于为多个相串联的熔断器形成的熔断器组提供加速应力试验环境的试 验模块、用于实时采集试验模块各种数据信息的数据采集模块、接收所述的数据采集模块 传送的数据并进行分析与处理以得出熔断器组在寿期内主要寿命点的特征数据的寿命评 估模块，所述的数据采集模块采集的各种数据信息包括试验电流、每个熔断器熔体达到选 定冷态电阻值以及熔断或试验截止时的时间和对应的熔体温度，所述的寿命评估模块根据 上述数据计算在加速应力下熔断器达到各个选定冷态电阻值以及熔断或试验截止时的综 合加速因子以及相应的平均运行时间，从而转换为熔断器在正常工作电流条件下的主要寿 命点特征数据。本专利技术还提供一种利用所述的熔断器寿命特征数据试验与评估系统进行寿命评 估的方法，包括如下步骤(a)、设定试验截止条件以及预设多个选定冷态电阻值；(b)、给熔断器组加正常工作电流，观察熔断器熔体温度，待温度达到稳定后，记录 熔体温度；(C)、加试验电流进行加速应力下试验，并记录试验开始时间，所述试验电流大于 额定电流小于熔断器最小约定熔断电流，直至加速应力试验达到试验截止条件，记录每个 熔断器熔体分别达到选定冷态电阻值以及熔断或试验截止时的时间和对应的熔体温度， 从而计算针对各个选定冷态电阻值以及熔断或试验截止时的综合加速因子；(d)、利用平均秩法计算出经验可靠性指标，通过作图法进行直线拟合得到双参数 威布尔分布模型的两个参数，从而计算加速应力下达到各个选定冷态电阻值以及熔断或试 验截止时的平均运行时间；(e)、通过上述计算的各综合加速因子及对应的平均运行时间将加速应力下的主 要寿命点特征数据转化为熔断器正常工作电流条件下的主要寿命点特征数据。由于上述技术方案的采用，本专利技术具有以下优点由于熔断器熔体在使用过程中 不可避免的存在电迁移老化，冷态电阻值会逐渐增大，熔体的运行温度也会不断升高，本发 明通过在加速应力环境下对熔断器分阶段设置冷态电阻值，对各熔断器到达相应冷态电阻 值以及熔断或试验截止时的时间和对应的熔体温度进行观察记录，并进行统计计算，得到 平均运行时间；同时计算各个阶段的加速因子，从而保证熔断器寿命评估结果的逼真性，避 免了熔断器超龄服役的问题，确保电气设备及线路的安全可靠运行。附图说明附图1为本专利技术寿命试验与评估系统实现原理图；附图2为冷态电阻达到0. 068 Ω拟合曲线图；附图3为冷态电阻从0. 089达到试验截止条件下拟合曲线图；其中1、试验模块；2、数据采集模块；3、寿命评估模块；4、显示模块；5、存储与打 印模块；6、键盘输入模块；具体实施例方式下面将结合附图对本专利技术优选的实施方式进行详细说明如图1所示，本专利技术熔断器寿命特征数据试验与评估系统主要由试验模块1、数 据采集模块2、寿命评估模块3、显示模块4、存储与打印模块5以及键盘输入模块6组成， 其中，试验模块1主要用于为待评估的多个相串联的熔断器形成的熔断器组提供模拟试 验环境，其主要由中央控制单元、电源单元、取样单元、检测与隔离单元、驱动单元以及执 行单元组成，本专利技术中，试验模块1的优选实施方式可参见本申请人在先申请的申请号为 201010003668. 3的专利技术专利，同时，该试验模块1还具备自动检测每个熔断器个体的通断 状态，当出现某一熔断器熔断，通过短接该熔断个体从而恢复其他熔断器的继续供电。数据采集模块2主要用于实时采集熔断器寿命试验模块1的各种数据信息，包括 试验电流、电位差、各个熔断器当前的状态(是否熔断)、每个熔断器熔体达到选定冷态电 阻值以及熔断或试验截止时的时间和对应的熔体温度。其主要由数据采集卡、温度传感器 等及其相应的处理电路组成，其具体实现电路不是本专利技术要点，在此不再赘述。显示模块4的设置为了保证观察的更直接，显示的内容包括试验电流的大小、各 个熔断器个体的编号、电位差、各个熔断器的通断状况、每个熔断器熔体达到选定冷态电阻 值以及熔断或试验截止时的时间和对应的熔体温度，当寿命试验截止时，还可显示该组熔 断器在寿期内的主要寿命点的特征数据。存储与打印模块5能够自动存储与打印试验电流的大小、各个熔断器个体的编 号、电位差、各个熔断器的通断状况、每个熔断器熔体达到选定冷态电阻值以及熔断或试验 截止时的时间和对应的熔体温度，当寿命试验截止时，还可存储并打印该组熔断器在寿期 内的主要寿命点的特征数据。键盘输入模块6用于向寿命评估模块3输入试验电流设定值以及熔断器熔体冷态 电阻选定值等。上述显示模块4、存储与打印模块5以及键盘输入模块6均可采用现有技术实现， 在此对其本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种熔断器寿命特征数据试验与评估系统，其特征在于：它包括用于为多个相串联的熔断器形成的熔断器组提供加速应力试验环境的试验模块、用于实时采集试验模块各种数据信息的数据采集模块、接收所述的数据采集模块传送的数据并进行分析与处理以得出熔断器组在寿期内主要寿命点的特征数据的寿命评估模块，所述的数据采集模块采集的各种数据信息包括试验电流、每个熔断器熔体达到选定冷态电阻值的时间和对应的熔体温度、各个熔断器的熔断时间，所述的寿命评估模块根据上述数据计算在加速应力下熔断器达到各个选定冷态电阻值的综合加速因子以及相应的平均运行时间，从而转换为熔断器在正常工作电流条件下的主要寿命点特征数据。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：石颉，姚建林，施海宁，
申请(专利权)人：苏州热工研究院有限公司，中国广东核电集团有限公司，
类型：发明
国别省市：32[中国|江苏]