【技术实现步骤摘要】
本公开涉及对集成电路上的电磁脉冲的检测。
技术介绍
1、已经针对集成电路使用了各种类型的攻击来破坏安全屏障。例如，在供应给集成电路的电力中插入毛刺的电源毛刺攻击是公知的。毛刺攻击可以用于使集成电路发生故障，从而允许攻击者提取安全密钥、打开锁定的调试端口或强制芯片接受并运行不正确签名的固件，从而允许访问通常不可用的功能。电源毛刺检测电路是公知的技术。但这些电路的重点是寻找输入电源线本身的毛刺。
2、电磁脉冲(emp)毛刺正在迅速成为一种针对硅芯片的实际毛刺安全攻击，但没有良好方式来减轻或检测这些攻击。emp毛刺攻击将电磁脉冲引向集成电路，这导致集成电路中出现电压尖峰，从而导致故障。由于emp在硅上的电源迹线上产生毛刺，因此emp毛刺可以规避电源毛刺检测和缓解措施。电源输入缓解和检测电路没有能力处理emp在电源迹线上引入的毛刺。通常，缓解毛刺攻击的一种方式是使用冗余硬件。例如，如果重复硬件的计算结果不一致，系统可以复位并重新运行计算或采取其他适当动作。然而，重复硬件在硅面积和功耗方面都非常昂贵，并且该方法可能需要预先知道攻击向量。此外，这种方法将无助于防止新的基于emp毛刺的攻击向量。
3、已经使用若干种方法来检测emp攻击。一种方法使用同步检测技术，其依赖于在集成电路中的时钟脉冲周围发生的电路行为。然而，emp脉冲可以非常短，例如0.5ns至5ns，而物联网(iot)芯片中使用的时钟频率例如为80mhz或12.5ns的周期。一种同步方法使用高频时钟信号(>1ghz)进行检测，但该方法需要显著增加高频时
技术实现思路
1、检测emp攻击的能力正在成为硅芯片安全的重要防御手段。因此，在一个实施例中，一种方法包括：异步检测并保持与集成电路中的导电迹线上存在的峰值电压相对应的电压值；以及响应于电压值高于阈值电压值，同步存储关于导电迹线上的峰值电压是指示电磁脉冲的电压尖峰的指示。
2、在另一实施例中，集成电路包括导电迹线和耦接到导电迹线的峰值保持电路，并且峰值保持电路被配置为异步检测导电迹线上的峰值电压并存储与峰值电压相对应的电压。比较器耦接到峰值保持电路以将峰值电压与阈值电压值进行比较。存储位置耦接到比较器，并且存储峰值电压是否高于阈值电压的指示。
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1.一种用于检测电磁脉冲的方法，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，还包括：异步检测并保持峰值保持电路中的电压值，并且在所述峰值保持电路的电容器中存储所述电压值。
3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述导电迹线是所述集成电路中的电源迹线。
4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述导电迹线是地电压迹线。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，还包括：使用所述集成电路中的多个异步峰值保持电路来检测所述电磁脉冲。
6.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，还包括：响应于检测到所述电磁脉冲，采取动作来保护所述集成电路而无需处理器干预。
7.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，还包括：在比较器中将所述电压值与所述阈值电压值进行比较。
8.根据权利要求7所述的方法，还包括：将所述阈值电压值编程为期望阈值电压值。
9.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，还包括：检测正峰值电压。
10.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，还包括：检测负峰值电压。
11.一种集成电
12.根据权利要求11所述的集成电路，其中，所述阈值电压值是可编程的。
13.根据权利要求11所述的集成电路，其中，所述导电迹线是正电源电压迹线。
14.根据权利要求11所述的集成电路，其中，所述导电迹线是接地迹线。
15.根据权利要求11至14中任一项所述的集成电路，还包括：与所述集成电路中的一个或多个导电迹线耦接的多个异步峰值保持电路。
16.根据权利要求15所述的集成电路，还包括：耦接到所述峰值保持电路的多个比较器。
17.根据权利要求15所述的集成电路，其中，在第一时间对第一多个峰值保持电路进行采样并且在所述第一时间不对第二多个峰值保持电路进行采样，以及在第二时间对第二多个峰值保持电路进行采样并且在所述第二时间不对所述第一多个峰值保持电路进行采样。
18.根据权利要求11至14中任一项所述的集成电路，其中，所述峰值保持电路被配置为检测负峰值电压。
19.一种电磁脉冲检测器，包括：
20.根据权利要求19所述的集成电路，其中，用于确定的所述装置包括模数转换器，所述模数转换器被耦接以从所述峰值保持电路接收所述电压并提供与所述电压相对应的数字值。
...【技术特征摘要】
1.一种用于检测电磁脉冲的方法，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，还包括：异步检测并保持峰值保持电路中的电压值，并且在所述峰值保持电路的电容器中存储所述电压值。
3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述导电迹线是所述集成电路中的电源迹线。
4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述导电迹线是地电压迹线。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，还包括：使用所述集成电路中的多个异步峰值保持电路来检测所述电磁脉冲。
6.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，还包括：响应于检测到所述电磁脉冲，采取动作来保护所述集成电路而无需处理器干预。
7.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，还包括：在比较器中将所述电压值与所述阈值电压值进行比较。
8.根据权利要求7所述的方法，还包括：将所述阈值电压值编程为期望阈值电压值。
9.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，还包括：检测正峰值电压。
10.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，还包括：检测负峰值电压。
11.一种集成电路，包括：
12.根据权利要求1...
【专利技术属性】
技术研发人员：德威特·C·苏厄德，阿提拉·佐洛米，克莱顿·戴格勒，杰弗里·廷德尔，
申请(专利权)人：硅实验室公司，
类型：发明
国别省市：
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