【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及透明或半透明介质的检测，特别涉及一种缺陷检测方法、缺陷检测装置和计算机可读存储介质。
技术介绍
1、在对于电子产品的检测中，对屏幕玻璃的缺陷检测是一个重要的环节。在透明玻璃产品上，存在灰尘和背景，会对检测造成干扰，使检测准确率较低而单独使用其中一种光源，都可能造成过检或者漏检。这对缺陷检测算法提出了更高的要求，如何做到只提取缺陷而不提取灰尘或背景更是一个技术难题。
技术实现思路
1、本专利技术实施方式提供了一种缺陷检测方法、缺陷检测装置和计算机可读存储介质以解决上述存在的至少一个技术问题。
2、本专利技术实施方式的一种缺陷检测方法包括：
3、在第一光源下获取待测样品的第一原始图像以及在第二光源下获取所述待测样品的第二原始图像，所述第一光源配置为能够对待测样品上的干扰因素成像，所述第二光源配置为对待测样品上的干扰因素不成像；
4、对所述第一原始图像进行处理以获得第一检测区域；
5、利用第一检测区域在第二原始图像中寻找是否存在第二检测区域，所述第二检测区域是待测样品存在缺陷时所形成的区域；
6、在所述第二原始图像不存在对应的所述第二检测区域的情况下，确认所述第一检测区域为干扰因素区域，在所述第二原始图像存在对应的所述第二检测区域的情况下，确认存在所述第二检测区域的所述第一检测区域为缺陷区域。
7、上述缺陷检测方法，分别获取两种光源环境下待测样品有无干扰因素的两个原始图像，在第一检测区域搜索第二检测区域
8、在某些实施方式中，在所述第二原始图像存在对应的第二检测区域的情况下，所述缺陷检测方法包括：
9、在具有所述第二检测区域的所述第一检测区域和所述第二检测区域的坐标参数小于第一预设值的情况下，确认存在所述第二检测区域的所述第一检测区域为所述缺陷区域，所述坐标参数与所述第一检测区域的中心坐标、所述第二检测区域的中心坐标相关。
10、在某些实施方式中，在所述第二原始图像存在对应的第二检测区域的情况下，所述缺陷检测方法包括：
11、在具有所述第二检测区域的所述第一检测区域和所述第二检测区域的面积参数大于第二预设值的情况下，确认存在所述第二检测区域的所述第一检测区域为所述缺陷区域，所述面积参数与所述第一检测区域和所述第二检测区域的交集面积、所述第一检测区域和所述第二检测区域的并集面积相关。
12、在某些实施方式中，所述对所述第一原始图像进行处理以获得第一检测区域包括：
13、所述第一原始图像进行滤波和图像分割以获得第一检测区域。
14、在某些实施方式中，所述利用第一检测区域在第二原始图像中寻找是否存在第二检测区域包括：
15、将所述第一检测区域传递至所述第二原始图像，在所述第二原始图像中对所述第一检测区域进行膨胀，获取膨胀区域；
16、对所述膨胀区域进行图像分割以寻找所述第二检测区域。
17、在某些实施方式中，在对所述膨胀区域进行图像分割以寻找所述第二检测区域的步骤之前，所述缺陷检测方法包括：
18、对所述膨胀区域进行滤波。
19、在某些实施方式中，所述缺陷检测方法包括：
20、采用动态阈值分割方法进行图像分割。
21、本专利技术实施方式的一种缺陷检测装置包括成像模块和处理模块，
22、所述成像模块用于在第一光源下获取待测样品的第一原始图像以及在第二光源下获取所述待测样品的第二原始图像，所述第一光源配置为能够对待测样品上的干扰因素成像，所述第二光源配置为对待测样品上的干扰因素不成像；
23、所述处理模块用于对所述第一原始图像进行处理以获得第一检测区域；
24、利用第一检测区域在第二原始图像中寻找是否存在第二检测区域，第二检测区域是待测样品存在缺陷时所形成的区域；和
25、在所述第二原始图像不存在对应的所述第二检测区域的情况下，确认所述第一检测区域为干扰因素区域，在所述第二原始图像存在对应的所述第二检测区域的情况下，确认具有所述第二检测区域的所述第一检测区域为缺陷区域。
26、本专利技术实施方式的一种缺陷检测装置包括处理器和存储器，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序在被所述处理器执行时实现上述任一实施方式所述的缺陷检测方法的步骤。
27、本专利技术实施方式的一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序在被处理器执行时，实现上述任一实施方式所述的缺陷检测方法的步骤。
28、上述缺陷检测装置和计算机可读存储介质，分别获取两种光源环境下待测样品有无干扰因素的两个原始图像，在第一检测区域搜索第二检测区域的有无，可以分辨出缺陷区域和干扰因素区域，从而能够准确提取光源，减少漏检或过检的现象。
29、本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。
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1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括:
2.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，在所述第二原始图像存在对应的第二检测区域的情况下，所述缺陷检测方法包括：
3.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，在所述第二原始图像存在对应的第二检测区域的情况下，所述缺陷检测方法包括：
4.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述第一原始图像进行处理以获得第一检测区域包括：
5.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述利用第一检测区域在第二原始图像中寻找是否存在第二检测区域包括：
6.根据权利要求5所述的缺陷检测方法，其特征在于，在对所述膨胀区域进行图像分割以寻找所述第二检测区域的步骤之前，所述缺陷检测方法包括：
7.根据权利要求5所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷检测方法包括：
8.一种缺陷检测装置，其特征在于，包括成像模块和处理模块，
9.一种缺陷检测装置，其特征在于，包括：
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在
...【技术特征摘要】
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括:
2.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，在所述第二原始图像存在对应的第二检测区域的情况下，所述缺陷检测方法包括：
3.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，在所述第二原始图像存在对应的第二检测区域的情况下，所述缺陷检测方法包括：
4.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述第一原始图像进行处理以获得第一检测区域包括：
5.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述利用第一检测区域在第二原始图像中寻找是否存...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈振州，江少波，时广军，
申请(专利权)人：深圳市凌云视迅科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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