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读取干扰扫描合并制造技术

技术编号:40843742 阅读:6 留言:0更新日期:2024-04-01 15:11
本公开涉及读取干扰扫描合并。存储器系统中的处理装置确定存储器组件的第一平面上的第一数据块的第一读取计数满足第一阈值准则。所述处理装置进一步确定所述存储器组件的第二平面上的第二数据块的第二读取计数是否满足第二阈值准则,其中所述第二块与所述第一块相关联,且其中所述第二阈值准则小于所述第一阈值准则。响应于所述第二读取计数满足所述第二阈值准则,所述处理装置执行多平面扫描以并行地确定所述第一数据块的第一错误率和所述第二数据块的第二错误率。

【技术实现步骤摘要】

本公开的实施例大体上涉及存储器子系统,且更具体来说,涉及管理包含具有不同特性的存储器组件的存储器子系统。


技术介绍

1、存储器子系统可为存储系统,例如固态驱动器(ssd)或硬盘驱动器(hdd)。存储器子系统可为存储器模块,例如双列直插式存储器模块(dimm)、小型dimm(so-dimm)或非易失性双列直插式存储器模块(nvdimm)。存储器子系统可包含存储数据的一或多个存储器组件。存储器组件可以例如是非易失性存储器组件和易失性存储器组件。一般来说,主机系统可以利用存储器子系统以在存储器组件处存储数据且从存储器组件检索数据。


技术实现思路

1、一方面,本公开涉及一种系统,其包括:存储器装置;以及处理装置,其与所述存储器装置可操作地耦合以进行以下操作:确定所述存储器装置的第一平面上的第一存储器单元的第一度量满足第一阈值准则;确定所述存储器装置的第二平面上的第二存储器单元的第二度量是否满足第二阈值准则且不满足所述第一阈值准则;以及响应于所述第二度量满足所述第二阈值准则且不满足所述第一阈值准则,执行多平面数据完整性操作以并行地确定所述第一存储器单元的第一可靠性统计数据和所述第二存储器单元的第二可靠性统计数据。

2、另一方面,本公开涉及一种方法,其包括:标识存储器装置的多个平面中的第一平面上的第一存储器单元,其中所述第一存储器单元的第一度量满足第一阈值准则;标识所述多个平面中的第二平面上的第二存储器单元,其中所述第二存储器单元的第二度量满足第二阈值准则且不满足所述第一阈值准则;以及作为多平面数据完整性操作的部分,共同读取来自所述第一存储器单元和所述第二存储器单元的数据以确定所述第一存储器单元或所述第二存储器单元的可靠性统计数据是否满足所述存储器装置的错误校正能力。

3、又一方面,本公开涉及一种非暂时性计算机可读存储介质,其包括指令,所述指令在由处理装置执行时使所述处理装置进行以下操作:确定存储器装置的第一平面上的第一存储器单元的第一度量满足第一阈值准则;确定所述存储器装置的第二平面上的第二存储器单元的第二度量是否满足第二阈值准则且不满足所述第一阈值准则;以及响应于所述第二度量满足所述第二阈值准则且不满足所述第一阈值准则,执行多平面数据完整性操作以并行地确定所述第一存储器单元的第一可靠性统计数据和所述第二存储器单元的第二可靠性统计数据。

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【技术保护点】

1.一种系统,其包括:

2.根据权利要求1所述的系统,其中为了执行所述多平面数据完整性操作,所述处理装置与所述第一存储器单元和所述第二存储器单元并行地扫描所述存储器装置的第三平面上的第三存储器单元,其中所述第三存储器单元与所述第一存储器单元和所述第二存储器单元相关联,且其中所述第三存储器单元的第三度量不满足所述第二阈值准则。

3.根据权利要求2所述的系统,其中所述第一存储器单元、所述第二存储器单元和所述第三存储器单元布置在跨越所述存储器装置的多个平面的条带中。

4.根据权利要求1所述的系统,其中为了执行所述多平面数据完整性操作,所述处理装置进行以下操作:

5.根据权利要求1所述的系统,其中为了执行所述多平面数据完整性操作,所述处理装置扫描所述存储器装置的每个平面上的对应存储器单元。

6.根据权利要求1所述的系统,其进一步包括:

7.根据权利要求1所述的系统,其中所述第二阈值准则在比所述第一阈值准则小百分之十到百分之二十的范围内。

8.一种方法,其包括:

9.根据权利要求8所述的方法,其进一步包括:

10.根据权利要求9所述的方法,其中所述第一存储器单元、所述第二存储器单元和所述第三存储器单元布置在跨越所述存储器装置的所述多个平面的条带中。

11.根据权利要求8所述的方法,其进一步包括:

12.根据权利要求8所述的方法,其进一步包括:

13.根据权利要求8所述的方法,其进一步包括:

14.根据权利要求8所述的方法,其中所述第一度量指示自从对所述第一存储器单元执行先前的数据完整性操作以来已读取所述第一存储器单元的次数。

15.一种非暂时性计算机可读存储介质,其包括指令,所述指令在由处理装置执行时使所述处理装置进行以下操作:

16.根据权利要求15所述的非暂时性计算机可读存储介质,其中为了执行所述多平面数据完整性操作,所述处理装置与所述第一存储器单元和所述第二存储器单元并行地扫描所述存储器装置的第三平面上的第三存储器单元,其中所述第三存储器单元与所述第一存储器单元和所述第二存储器单元相关联,且其中所述第三存储器单元的第三度量不满足所述第二阈值准则。

17.根据权利要求16所述的非暂时性计算机可读存储介质,其中所述第一存储器单元、所述第二存储器单元和所述第三存储器单元布置在跨越所述存储器装置的多个平面的条带中。

18.根据权利要求15所述的非暂时性计算机可读存储介质,其中为了执行所述多平面数据完整性操作,所述处理装置进行以下操作:

19.根据权利要求15所述的非暂时性计算机可读存储介质,其中为了执行所述多平面数据完整性操作,所述处理装置扫描所述存储器装置的每个平面上的对应存储器单元。

20.根据权利要求15所述的非暂时性计算机可读存储介质,其中所述指令进一步使所述处理装置进行以下操作:

...

【技术特征摘要】

1.一种系统,其包括:

2.根据权利要求1所述的系统,其中为了执行所述多平面数据完整性操作,所述处理装置与所述第一存储器单元和所述第二存储器单元并行地扫描所述存储器装置的第三平面上的第三存储器单元,其中所述第三存储器单元与所述第一存储器单元和所述第二存储器单元相关联,且其中所述第三存储器单元的第三度量不满足所述第二阈值准则。

3.根据权利要求2所述的系统,其中所述第一存储器单元、所述第二存储器单元和所述第三存储器单元布置在跨越所述存储器装置的多个平面的条带中。

4.根据权利要求1所述的系统,其中为了执行所述多平面数据完整性操作,所述处理装置进行以下操作:

5.根据权利要求1所述的系统,其中为了执行所述多平面数据完整性操作,所述处理装置扫描所述存储器装置的每个平面上的对应存储器单元。

6.根据权利要求1所述的系统,其进一步包括:

7.根据权利要求1所述的系统,其中所述第二阈值准则在比所述第一阈值准则小百分之十到百分之二十的范围内。

8.一种方法,其包括:

9.根据权利要求8所述的方法,其进一步包括:

10.根据权利要求9所述的方法,其中所述第一存储器单元、所述第二存储器单元和所述第三存储器单元布置在跨越所述存储器装置的所述多个平面的条带中。

11.根据权利要求8所述的方法,其进一步包括:

12.根据权利要求8所述的方法,其进一...

【专利技术属性】
技术研发人员:K·K·姆奇尔拉A·马尔谢H·R·桑吉迪S·诺埃尔V·P·拉亚普鲁S·K·瑞特南
申请(专利权)人:美光科技公司
类型:发明
国别省市:

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