【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测量测试，具体涉及一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法。
技术介绍
1、频率源是给雷达、通信、电子对抗等领域内的电子系统提供各种稳定频率信号的关键电子设备之一，随着电子科学技术的飞速发展，对频率源的带宽、相位噪声等要求也越来越高。
2、宽带频率源是宽带雷达系统中不可或缺的关键电子设备，其发展近年来也非常迅猛。目前，因为vco(压控振荡器)本身特性，单一的vco很难做到满足低相位噪声的同时兼顾宽频带。为了获得更低相位噪声的同时获得更宽的工作频带，很多超宽带频率源内的vco选择多个窄带vco叠加，形成vco阵列。
3、为满足测试覆盖性，且能及时发现宽带频率源在中间某个或某几个带宽内出现失锁故障，宽带频率源传统的测试方式是机械地一个一个频点的测试，保证每个频点都要测试到，这样即可以确保每个频点都是锁定的。有的超宽带频率源甚至有几百个频点，这种传统的机械式的测试方法耗费了大量的时间成本和人力成本，不利于工程项目的快速研制。
4、因此，需要一种满足低相位噪声并兼顾宽频带的超宽带频率源测试方法。
技术实现思路
1、本专利技术是为了解决超宽带频率源测试效率低的问题，提供一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法，根据vco的特性准备测试频点数据集，依据测试频点数据集进行锁相确认，并覆盖相位噪声、功率和输出杂散，相较于传统的机械式超宽带低相位噪声频率源的测试方法，在保证测量精度的前提下可大大缩减测量频点的数量。本专利技术在满足测试覆盖性的基础上，
2、本专利技术提供一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法，包括以下步骤：
3、s1、获得超宽带低相位噪声频率源的vco阵列中vco数量n和每个vco的频点范围；
4、s2、获取每个vco的最差相位噪声频点；
5、s3、获取每个vco的最差输出功率频点；
6、s4、获取每个vco的最差杂散抑制频点；
7、s5、将所有vco的最差相位噪声频点、最差输出功率频点和最差杂散抑制频点汇总得到超宽带低相位噪声频率源的测试频点数据集；
8、s6、将超宽带低相位噪声频率源通过加电线与电源连接、通过射频线与频谱仪和参考信号源连接、通过控制线与控制电脑连接，依据测试频点数据集进行超宽带低相位噪声频率源的测试，确认超宽带低相位噪声频率源在每个窄带vco对应的频点内是否可以锁定并得到超宽带低相位噪声频率源的最大相位噪声、最低输出功率和最小杂散抑制后与超宽带低相位噪声频率源的设计要求进行比较，判断所测试的超宽带低相位噪声频率源是否满足测试要求，一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法完成。
9、本专利技术所述的一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法，作为优选方式，步骤s1中，超宽带低相位噪声频率源包括依次电连接的鉴相器、环路滤波器、vco阵列，和与vco阵列、鉴相器均电连接的分频器，参考信号通过鉴相器输入端输入，vco阵列输出频率；
10、vco阵列包括并列连接的vco1、vco2、…、vcoi、…、vcon，vco1覆盖的频率范围是f0～f1，vco2覆盖的频率范围是f1～f2，…，vcoi覆盖的频率范围是fi-1～fi,…，vcon覆盖的频率范围是fn-1～fn；
11、步骤s2中，vcoi的最差相位噪声频点为fi1，fi1∈[fi-1，fi]；
12、步骤s3中，vcoi的最差输出功率频点为fi2，fi2∈[fi-1，fi]；
13、步骤s4中，vcoi的最差杂散抑制频点为fi3，fi3∈[fi-1，fi]；
14、步骤s5中，超宽带低相位噪声频率源的测试频点数据集为{f11，f12，f13，f21，f22，f23，…，fi1，fi2，fi3，…，fn1，fn2，fn3}，测试频点数据集包括相位噪声测试频点数据集、功率测试频点数据集和杂散抑制测试频点数据集。
15、本专利技术所述的一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法，作为优选方式，步骤s6包括以下步骤：
16、s61、将超宽带低相位噪声频率源通过加电线与电源连接、通过射频线与频谱仪和参考信号源连接、通过控制线与控制电脑连接；
17、s62、根据相位噪声测试频点数据集{f11，f21，…，fi1，…，fn1}设置频谱仪中心频率并进行相位噪声测试，得到最大相位噪声pnmax；
18、s63、根据功率测试频点数据集{f12，f22，…，fi2，…，fn2}设置频谱仪中心频率并进行功率测试，观察超宽带低相位噪声频率源是否锁相并得到最低输出功率psmin；
19、s64、根据杂散抑制测试频点数据集{f13，f23，…，fi3，…，fn3}设置频谱仪中心频率并进行杂散抑制测试并得到最小杂散抑制lmin；
20、s65、将最大相位噪声pnmax、最低输出功率psmin和最小杂散抑制lmin与设计要求进行比较，若优于设计要求且各vco均能锁相，则超宽带低相位噪声频率源测试合格；若有一项不符合，则超宽带低相位噪声频率源测试不合格，一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法完成。
21、本专利技术所述的一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法，作为优选方式，步骤s62中，频谱仪设置为相位噪声模式，span设置为10hz～1mhz，pnmax为各频点相位噪声测试中的最大相位噪声；
22、步骤s63中，频谱仪带宽为10mhz，参考电平为20dbm，rbw和vbw设为自动，psmin各频点功率测试中的功率最小值；
23、步骤s64中，频谱仪在杂散抑制测试频点数据集{f13，f23，…，fi3，…，fn3}的频率下测得的输出功率为a，频谱仪带宽设置为xxghz，在xxghz的带宽内标记杂散频点的输出功率为b、c、…，杂散抑制为a-b、a-c、…；lmin为各频点杂散抑制测试中的最小杂散抑制值。
24、本专利技术所述的一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法，作为优选方式，步骤s6中，超宽带低相位噪声频率源的开环传递函数g(s)为：
25、g(s)＝kd*f(s)*kvco/s；
26、其中，kd为鉴相器的传递函数，f(s)为环路滤波器的传递函数，kvco/s为vco阵列的传递函数，n为分频器的分频数；
27、开环传递函数g(s)由g1(s)、g2(s)、……、gn(s)并列组成。
28、本专利技术所述的一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法，作为优选方式，g1(s)＝kd*f(s)*kvco1/s；
29、g2(s)＝kd*f(s)*kvco2/s；
30、……；
31、gn(s)＝kd*f(s)*kvcon/s；
32、其中，kvco1/s为vco1的传递函数，kvco2/s为vco2的传递本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法，其特征在于：包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法，其特征在于：步骤S1中，所述超宽带低相位噪声频率源包括依次电连接的鉴相器(2)、环路滤波器(3)、所述VCO阵列(1)，和与所述VCO阵列(1)、所述鉴相器(2)均电连接的分频器(4)，参考信号通过所述鉴相器(2)输入端输入，所述VCO阵列(1)输出频率；
3.根据权利要求2所述的一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法，其特征在于：步骤S6包括以下步骤：
4.根据权利要求3所述的一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法，其特征在于：步骤S62中，所述频谱仪设置为相位噪声模式，SPAN设置为10Hz～1MHz，Pnmax为各频点相位噪声测试中的最大相位噪声；
5.根据权利要求2所述的一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法，其特征在于：步骤S6中，所述超宽带低相位噪声频率源的开环传递函数G(S)为：
6.根据权利要求5所述的一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法，其特征在于：>
7.根据权利要求6所述的一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法，其特征在于：步骤S6中，所述超宽带低相位噪声频率源的闭环传递函数H(S)为：
8.根据权利要求7所述的一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法，其特征在于：所述闭环传递函数H(S)中，所有频点同时锁定，或者同时失锁；
9.根据权利要求1所述的一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法，其特征在于：为了减少测试频点，在每个VCO频点内输出功率最低的频点确定所述超宽带低相位噪声频率源是否锁定。
10.根据权利要求1所述的一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法，其特征在于：步骤S6中，当待测试的所述超宽带低相位噪声频率源数量大于1个时，每一个所述超宽带低相位噪声频率源数量均使用同一个所述测试频点数据集进行测试。
...【技术特征摘要】
1.一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法，其特征在于：包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法，其特征在于：步骤s1中，所述超宽带低相位噪声频率源包括依次电连接的鉴相器(2)、环路滤波器(3)、所述vco阵列(1)，和与所述vco阵列(1)、所述鉴相器(2)均电连接的分频器(4)，参考信号通过所述鉴相器(2)输入端输入，所述vco阵列(1)输出频率；
3.根据权利要求2所述的一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法，其特征在于：步骤s6包括以下步骤：
4.根据权利要求3所述的一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法，其特征在于：步骤s62中，所述频谱仪设置为相位噪声模式，span设置为10hz～1mhz，pnmax为各频点相位噪声测试中的最大相位噪声；
5.根据权利要求2所述的一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法，其特征在于：步骤s6中，所述超宽带低相...
【专利技术属性】
技术研发人员：王培培，赵丽妍，刘德喜，祝大龙，
申请(专利权)人：北京遥测技术研究所，
类型：发明
国别省市：
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