【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及集成电路领域，具体涉及一种上电时自动校正温度传感器的锁相装置。
技术介绍
1、全数字锁相环中的振荡器包括工艺电容阵列（process capacitor bank, pcb）、捕获电容阵列（acquire capacitor bank, acb）、追踪电容阵列（track capacitor bank,tcb）。工艺电容阵列主要是覆盖工艺偏差导致的频率变化，捕获电容阵列主要用于覆盖温度变化导致的频率变化，追踪电容阵列则用于跟踪环路锁定。
2、为了应对温度变化，通常采用6或7比特数字控制字来控制捕获电容阵列，当这往往难以覆盖较宽的温度范围。比如，现有技术往往将捕获电容阵列控制字初值配置为控制字取值范围的中间值。在低温中启动全数字锁相环时，用捕获电容阵列控制字上半区来覆盖温度的变化带来的频率变化；在高温中启动全数字锁相环时，用捕获电容阵列控制字下半区来覆盖温度的变化带来的频率变化，因此捕获电容阵列控制字的温度覆盖能力将减半。
3、为了提升捕获电容阵列控制字的温度覆盖范围，使得芯片能在更宽的温度范围内使用，是本领域所亟需解决的技术问题。本专利技术旨在披露一种上电时自动校正温度传感器并设定捕获电容阵列控制字初值的锁相装置。
技术实现思路
1、为了缓解或部分缓解上述技术问题，本专利技术的解决方案如下所述：
2、一种锁相装置，至少包括全数字锁相环、仿真值查找表和温度传感器，所述温度传感器包括环形振荡器；所述全数字锁相环包括捕获电容阵列；当锁相装
3、优选地，所述初值c是满足(c-cl)/(ch-cl)与(t-tl)/(th-tl)之间差值最接近0的捕获电容阵列控制字，其中cl为捕获电容阵列的最小控制字，ch为捕获电容阵列的最大控制字，t为所获得的计数值所对应的温度，tl为额定最低工作温度，th为额定最高工作温度。
4、优选地，当所述温度传感器校正完成时，锁存所述环形振荡器的尾电流。
5、优选地，所述额定最低工作温度tl为-40度，所述额定最高工作温度th为125度。
6、优选地，当所述捕获电容阵列控制字设定为初值c后，关闭所述温度传感器。
7、优选地，当所述锁相装置再次上电时，重新对所述温度传感器校正。
8、优选地，所述参考时钟的频率是25mhz。
9、优选地，根据所述校正变量对所述温度传感器校正，具体为：根据所述校正变量调整所述环形振荡器的尾电流。
10、本专利技术技术方案，具有如下有益的技术效果之一或多个：
11、（1）用温度传感器监控全数字锁相环启动时的芯片温度，并根据当前温度设定与该温度相对应的捕获电容阵列控制字初值，保证捕获频率覆盖利用率最大化；
12、（2）在上电过程中即启动温度传感器校正，不需要单独进行额外的校正过程（比如，出厂时），校正完成后顺次进行捕获电容阵列控制字初值设定，完成捕获初值设定后即可关闭环形振荡器节省功耗开销；
13、（3）用环形振荡器做温度传感器，更简单可靠对参考时钟的进行计数，方便计数值和捕获控制字之间的计算转换；
14、（4）用温度传感器监控温度，给捕获配置相应温度的控制字，能保证捕获频率覆盖温度范围最大化。
15、此外，本专利技术还具有的其它有益效果将在具体实施例中提及。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种锁相装置，至少包括全数字锁相环、仿真值查找表和温度传感器，其特征在于：
2.根据权利要求1所述的锁相装置，其特征在于：
3.根据权利要求2所述的锁相装置，其特征在于：
4.根据权利要求3所述的锁相装置，其特征在于：
5.根据权利要求4所述的锁相装置，其特征在于：
6.根据权利要求5所述的锁相装置，其特征在于：
7.根据权利要求6所述的锁相装置，其特征在于：
8.根据权利要求1所述的锁相装置，其特征在于：
【技术特征摘要】
1.一种锁相装置，至少包括全数字锁相环、仿真值查找表和温度传感器，其特征在于：
2.根据权利要求1所述的锁相装置，其特征在于：
3.根据权利要求2所述的锁相装置，其特征在于：
4.根据权利要求3所述的锁相装置，其特...
【专利技术属性】
技术研发人员：李蓝，蹇俊杰，唐贝贝，唐梓豪，郭富豪，
申请(专利权)人：成都电科星拓科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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