【技术实现步骤摘要】
本公开涉及芯片，尤其涉及芯片测试与ai芯片，具体涉及一种芯片测试方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
技术介绍
1、如何验证芯片上开发的算子的计算正确性以及由这些算子组合成的计算图在芯片上的执行稳定性，在当前面临着挑战。
2、在此部分中描述的方法不一定是之前已经设想到或采用的方法。除非另有指明，否则不应假定此部分中描述的任何方法仅因其包括在此部分中就被认为是现有技术。类似地，除非另有指明，否则此部分中提及的问题不应认为在任何现有技术中已被公认。
技术实现思路
1、本公开提供了一种芯片测试方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
2、根据本公开的一方面，提供了一种芯片测试方法，包括：获得包括至少一个算子类型的算子类型集合；基于预定执行次数，至少一次执行张量对生成操作，以获得至少一个张量对，每个张量对包括参考张量和测试张量，其中，所述张量对生成操作包括：从所述算子类型集合中选择当前算子类型；获得与所述当前算子类型的输入维度匹配的输入张量；增加所述当前算子类型的当前算子，并且将所述输入张量构建为所述当前算子的输入；通过待测试芯片获得所述当前算子输出的测试张量；以及通过处理器获得所述当前算子输出的参考张量；以及通过对所述至少一个张量对进行比较，确定所述待测试芯片的测试结果。
3、根据本公开的另一方面，提供了一种芯片测试装置，包括：算子获得单元，用于获得包括至少一个算子类型的算子类型集合；张量对生成单元，用于基于预定
4、根据本公开的另一方面，提供了一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行根据本公开的一个或多个实施例的芯片测试方法。
5、根据本公开的另一方面，提供了一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，其中，所述计算机指令用于使所述计算机执行根据本公开的一个或多个实施例的芯片测试方法。
6、根据本公开的另一方面，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，其中，所述计算机程序在被处理器执行时实现根据本公开的一个或多个实施例的芯片测试方法。
7、根据本公开的一个或多个实施例，可以有效对芯片进行测试。
8、应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本公开的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本公开的范围。本公开的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
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1.一种芯片测试方法，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其中，从所述算子类型集合中选择当前算子类型包括从所述算子类型集合中随机选择当前算子类型。
3.根据权利要求2所述的方法，其中，获得与所述当前算子类型的输入维度匹配的输入张量包括：
4.根据权利要求3所述的方法，还包括通过以下操作来维护所述张量库：
5.根据权利要求3或4所述的方法，还包括通过以下操作来维护所述张量库：
6.根据权利要求3-5中任一项所述的方法，其中，从所述至少一个匹配张量中选择所述输入张量包括从所述至少一个匹配张量中随机选择所述输入张量。
7.根据权利要求3-6中任一项所述的方法，其中，获得与所述当前算子类型的输入维度匹配的输入张量包括：
8.一种芯片测试装置，包括：
9.根据权利要求8所述的装置，其中，用于从所述算子类型集合中选择当前算子类型的单元包括用于从所述算子类型集合中随机选择当前算子类型的单元。
10.根据权利要求9所述的装置，其中，用于获得与所述当前算子类型的输入维度匹配的输入张量的单元
11.根据权利要求10所述的装置，还包括通过以下操作来维护所述张量库的单元：
12.根据权利要求10或11所述的装置，还包括通过以下操作来维护所述张量库的单元：
13.根据权利要求10-12中任一项所述的装置，其中，用于从所述至少一个匹配张量中选择所述输入张量的单元包括用于从所述至少一个匹配张量中随机选择所述输入张量的单元。
14.根据权利要求10-13中任一项所述的装置，其中，用于获得与所述当前算子类型的输入维度匹配的输入张量的单元包括：
15.一种电子设备，包括：
16.一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，其中，所述计算机指令用于使所述计算机执行根据权利要求1-7中任一项所述的方法。
17.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其中，所述计算机程序在被处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种芯片测试方法，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其中，从所述算子类型集合中选择当前算子类型包括从所述算子类型集合中随机选择当前算子类型。
3.根据权利要求2所述的方法，其中，获得与所述当前算子类型的输入维度匹配的输入张量包括：
4.根据权利要求3所述的方法，还包括通过以下操作来维护所述张量库：
5.根据权利要求3或4所述的方法，还包括通过以下操作来维护所述张量库：
6.根据权利要求3-5中任一项所述的方法，其中，从所述至少一个匹配张量中选择所述输入张量包括从所述至少一个匹配张量中随机选择所述输入张量。
7.根据权利要求3-6中任一项所述的方法，其中，获得与所述当前算子类型的输入维度匹配的输入张量包括：
8.一种芯片测试装置，包括：
9.根据权利要求8所述的装置，其中，用于从所述算子类型集合中选择当前算子类型的单元包括用于从所述算子类型集合中随机选择当前算子类型的单元。
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【专利技术属性】
技术研发人员：王迎港，
申请(专利权)人：昆仑芯北京科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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