【技术实现步骤摘要】
本公开涉及芯片，尤其涉及芯片测试与ai芯片，具体涉及一种芯片测试方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
技术介绍
1、如何验证芯片上开发的算子的计算正确性以及由这些算子组合成的计算图在芯片上的执行稳定性，在当前面临着挑战。
2、在此部分中描述的方法不一定是之前已经设想到或采用的方法。除非另有指明，否则不应假定此部分中描述的任何方法仅因其包括在此部分中就被认为是现有技术。类似地，除非另有指明，否则此部分中提及的问题不应认为在任何现有技术中已被公认。
技术实现思路
1、本公开提供了一种芯片测试方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
2、根据本公开的一方面，提供了一种芯片测试方法，包括：获得包括至少一个算子类型的算子类型集合；基于预定执行次数，至少一次执行张量对生成操作，以获得至少一个张量对，每个张量对包括参考张量和测试张量，其中，所述张量对生成操作包括：从所述算子类型集合中选择当前算子类型；获得与所述当前算子类型的输入维度匹配的输...
【技术保护点】
1.一种芯片测试方法，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其中，从所述算子类型集合中选择当前算子类型包括从所述算子类型集合中随机选择当前算子类型。
3.根据权利要求2所述的方法，其中，获得与所述当前算子类型的输入维度匹配的输入张量包括：
4.根据权利要求3所述的方法，还包括通过以下操作来维护所述张量库：
5.根据权利要求3或4所述的方法，还包括通过以下操作来维护所述张量库：
6.根据权利要求3-5中任一项所述的方法，其中，从所述至少一个匹配张量中选择所述输入张量包括从所述至少一个匹配张量中随机选择所述输入张
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【技术特征摘要】
1.一种芯片测试方法，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其中，从所述算子类型集合中选择当前算子类型包括从所述算子类型集合中随机选择当前算子类型。
3.根据权利要求2所述的方法，其中，获得与所述当前算子类型的输入维度匹配的输入张量包括：
4.根据权利要求3所述的方法，还包括通过以下操作来维护所述张量库：
5.根据权利要求3或4所述的方法，还包括通过以下操作来维护所述张量库：
6.根据权利要求3-5中任一项所述的方法，其中，从所述至少一个匹配张量中选择所述输入张量包括从所述至少一个匹配张量中随机选择所述输入张量。
7.根据权利要求3-6中任一项所述的方法，其中，获得与所述当前算子类型的输入维度匹配的输入张量包括：
8.一种芯片测试装置，包括：
9.根据权利要求8所述的装置，其中，用于从所述算子类型集合中选择当前算子类型的单元包括用于从所述算子类型集合中随机选择当前算子类型的单元。
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【专利技术属性】
技术研发人员：王迎港，
申请(专利权)人：昆仑芯北京科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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