一种集成电路芯片老化测试装置制造方法及图纸

本技术公开了一种集成电路芯片老化测试装置，属于集成电路芯片测试技术领域，包括测试箱，所述测试箱的侧面开设有测试仓，所述测试仓的内壁安装有测试元件，所述测试仓的开口端开设有导向槽，所述测试仓的内壁通过滑槽与滑块滑动连接有两个放置架，所述导向槽的内部设置有两组传动机构；本技术芯片测试完成后可通过对拨板的拨动使得放置架滑动出测试仓的内壁，便于工作人员对放置架上的芯片进行卸料，同时可避免工作人员伸入测试仓发生烫伤，提高了装置使用时的安全性，在限位机构的作用下门板在转动的过程中可产生阻尼感，同时门板开启时的角度能够得到限位，避免了放置架滑出时门板发生转动对芯片造成影响，增加了装置的实用性。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于集成电路芯片测试，具体涉及一种集成电路芯片老化测试装置。

技术介绍

1、集成电路芯片通常简称为芯片，是将多个电子器件和电路集成到单个微小的硅基片上的电子元件，它是现代电子设备中核心的关键组成部分；

2、集成电路芯片老化测试装置是用于测试和评估集成电路芯片在长时间使用或特定环境条件下的老化性能的设备，它对芯片的性能和可靠性进行测试，以确定其在实际应用中的稳定性和寿命；

3、集成电路芯片老化测试装置通常配备了精确的温度控制系统，可以模拟不同的温度环境，而在对集成电路芯片进行高温测试时通常需要将芯片放置在测试箱当中，测试完成后需要工作人员将其取出，高温测试后的测试箱当中可能残留余温，工作人员直接将芯片取出可能造成烫伤，存在一定的安全隐患。

技术实现思路

1、本技术的目的在于提供一种集成电路芯片老化测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。

2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种集成电路芯片老化测试装置，包括测试箱，所述测试箱的侧面开设有测试仓，所述测试仓的内壁安装有测试元件，所述测试仓的开口端开设有导向槽，所述测试仓的内壁通过滑槽与滑块滑动连接有两个放置架，所述导向槽的内部设置有两组传动机构，所述测试仓的开口处内壁设置有门板，所述门板的两端均设置有限位机构。

3、作为一种优选的实施方式，所述传动机构包括固定连接在放置架顶面侧边处的固定齿条，所述测试仓的内壁通过转动轴转动连接有传动齿轮，所述传动齿轮与固定齿条啮合连接，所述转动轴的端部贯穿测试仓的内壁且固定连接有连接齿轮，所述导向槽的内壁通过滑槽与滑块滑动连接有拨板，所述拨板位于导向槽内侧的端部固定连接有驱动齿条，所述驱动齿条与连接齿轮啮合连接。

4、作为一种优选的实施方式，所述限位机构包括固定连接在测试仓内壁的固定杆，所述门板的顶面开设有与固定杆相对应的连接槽，所述固定杆设置在连接槽的内壁，所述固定杆的外表面固定连接有多个限位胶条，所述连接槽的内壁开设有多个与限位胶条相对应的限位槽。

5、作为一种优选的实施方式，所述拨板位于导向槽外侧的端部开设有插槽，所述传动齿轮的直径为连接齿轮的两倍。

6、作为一种优选的实施方式，所述限位胶条的外表面与限位槽的内壁相贴合。

7、作为一种优选的实施方式，所述门板的侧面设置有观察窗，所述测试箱的侧面安装有操控面板。

8、与现有技术相比，本技术的有益效果是：

9、本技术，通过设置有放置架与传动机构，芯片测试完成后可通过对拨板的拨动使得放置架滑动出测试仓的内壁，便于工作人员对放置架上的芯片进行卸料，同时可避免工作人员伸入测试仓发生烫伤，提高了装置使用时的安全性；

10、本技术，通过设置有门板与限位机构，在限位机构的作用下门板在转动的过程中可产生阻尼感，同时门板开启时的角度能够得到限位，避免了放置架滑出时门板发生转动对芯片造成影响，增加了装置的实用性。

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【技术保护点】

1.一种集成电路芯片老化测试装置，包括测试箱(1)，所述测试箱(1)的侧面开设有测试仓(2)，所述测试仓(2)的内壁安装有测试元件(3)，其特征在于：所述测试仓(2)的开口端开设有导向槽(4)，所述测试仓(2)的内壁通过滑槽与滑块滑动连接有两个放置架(5)，所述导向槽(4)的内部设置有两组传动机构(6)，所述测试仓(2)的开口处内壁设置有门板(7)，所述门板(7)的两端均设置有限位机构(8)。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片老化测试装置，其特征在于：所述传动机构(6)包括固定连接在放置架(5)顶面侧边处的固定齿条(61)，所述测试仓(2)的内壁通过转动轴转动连接有传动齿轮(62)，所述传动齿轮(62)与固定齿条(61)啮合连接，所述转动轴的端部贯穿测试仓(2)的内壁且固定连接有连接齿轮(63)，所述导向槽(4)的内壁通过滑槽与滑块滑动连接有拨板(64)，所述拨板(64)位于导向槽(4)内侧的端部固定连接有驱动齿条(65)，所述驱动齿条(65)与连接齿轮(63)啮合连接。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片老化测试装置，其特征在于：所述限位机构(8)包括固定连接在测试仓(2)内壁的固定杆(81)，所述门板(7)的顶面开设有与固定杆(81)相对应的连接槽(82)，所述固定杆(81)设置在连接槽(82)的内壁，所述固定杆(81)的外表面固定连接有多个限位胶条(83)，所述连接槽(82)的内壁开设有多个与限位胶条(83)相对应的限位槽(84)。

4.根据权利要求2所述的一种集成电路芯片老化测试装置，其特征在于：所述拨板(64)位于导向槽(4)外侧的端部开设有插槽，所述传动齿轮(62)的直径为连接齿轮(63)的两倍。

5.根据权利要求3所述的一种集成电路芯片老化测试装置，其特征在于：所述限位胶条(83)的外表面与限位槽(84)的内壁相贴合。

6.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片老化测试装置，其特征在于：所述门板(7)的侧面设置有观察窗(9)，所述测试箱(1)的侧面安装有操控面板(10)。

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【技术特征摘要】

1.一种集成电路芯片老化测试装置，包括测试箱(1)，所述测试箱(1)的侧面开设有测试仓(2)，所述测试仓(2)的内壁安装有测试元件(3)，其特征在于：所述测试仓(2)的开口端开设有导向槽(4)，所述测试仓(2)的内壁通过滑槽与滑块滑动连接有两个放置架(5)，所述导向槽(4)的内部设置有两组传动机构(6)，所述测试仓(2)的开口处内壁设置有门板(7)，所述门板(7)的两端均设置有限位机构(8)。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片老化测试装置，其特征在于：所述传动机构(6)包括固定连接在放置架(5)顶面侧边处的固定齿条(61)，所述测试仓(2)的内壁通过转动轴转动连接有传动齿轮(62)，所述传动齿轮(62)与固定齿条(61)啮合连接，所述转动轴的端部贯穿测试仓(2)的内壁且固定连接有连接齿轮(63)，所述导向槽(4)的内壁通过滑槽与滑块滑动连接有拨板(64)，所述拨板(64)位于导向槽(4)内侧的端部固定连接有驱动齿条(65)，所述驱动齿条(65)与连接齿轮(63)...

【专利技术属性】
技术研发人员：颜俊奇，颜俊杰，颜俊玲，颜俊燕，杨少娜，陈志杰，
申请(专利权)人：深圳市万联芯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：