一种降低辐射杂散的充电方法及装置、设备、存储介质制造方法及图纸

技术编号:40807218 阅读:28 留言:0更新日期:2024-03-28 19:30
本申请实施例公开了一种降低辐射杂散的充电方法及装置、设备、存储介质,包括判断电子设备是否处于充电场景,在电子设备处于充电场景的情况下,获取电子设备中目标功率放大器的功率,目标功率放大器为对辐射杂散测试的干扰噪声大于或等于预设噪声阈值的放大器,判断目标功率放大器的功率与预设功率阈值的大小,在目标功率放大器的功率大于或等于预设功率阈值的情况下,将电子设备使用的充电协议由第一充电协议切换为第二充电协议,第二充电协议的充电速率小于第一充电协议的充电速率。能够在充电时减少电子设备的干扰噪声和电磁辐射的产生,以确保电子设备检测符合国际标准和法规的要求。

【技术实现步骤摘要】

本申请实施例涉及充电技术,涉及但不限于一种降低辐射杂散的充电方法及装置、设备、存储介质


技术介绍

1、在电子设备的检验测试中,相关指标合格之后才会被允许销售,其中rse(辐射杂散,radiated spurious emissions)就是一项非常重要的指标,而且比较容易出问题,一旦测试不通过,反复的修改电子设备及重新送测对项目人员及整个项目周期都是非常不利的。

2、在现有技术中,针对充电时的电子设备的辐射杂散,一般为找到干扰源并进行优化,其中包括布局优化使干扰源远离、调试预留的干扰匹配、干扰源接地等,或者对被干扰对象进行保护或者优化,其中包括屏蔽处理、匹配调试、高性能器件替换、cse(传导杂散,conducted spurious emissions)指标优化等,但是现有技术中,电子设备一旦出现问题,通过修改硬件的方案很难及时做出调整,一般都要研发重新调试及摸底后再次投递,可能会导致认证周期拉长,从而影响项目进度。

3、因此,如何在充电时减少电子设备的干扰噪声和电磁辐射的产生,以确保电子设备检测符合国际标准和法规的要求,是一个亟本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种降低辐射杂散的充电方法,其特征在于,应用于电子设备中,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述电子设备支持至少三种充电协议,所述第二充电协议为所述至少三种充电协议中充电速率最慢的充电协议。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述目标功率放大器为全球通信系统GSM功率放大器。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述电子设备包括寄存器,所述判断所述GSM功率放大器的功率与所述预设功率阈值的大小,包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,在所述判断所述目标功率放大器的功率与预设功率阈值的大小之...

【技术特征摘要】

1.一种降低辐射杂散的充电方法,其特征在于,应用于电子设备中,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述电子设备支持至少三种充电协议,所述第二充电协议为所述至少三种充电协议中充电速率最慢的充电协议。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述目标功率放大器为全球通信系统gsm功率放大器。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述电子设备包括寄存器,所述判断所述gsm功率放大器的功率与所述预设功率阈值的大小,包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,在所述判断所述目标功率放大器的功率与预设功率阈值的大小之后,所述方法还包括:

6.根据权利要求1-5任一所述的方法...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘海洋
申请(专利权)人:闻泰通讯股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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