一种基于in system test pattern的芯片加速老化测试系统技术方案

本发明专利技术涉及一种基于in system test pattern的芯片加速老化测试系统，使用in system test pattern对包含BIST功能芯片进行老化测试；包括sever端和至少一个client端；所述sever端包括PC，所述PC运行群控软件、存储in system test pattern，所述群控软件用于将in system test pattern发送至一个或多个client端并监控分析；所述client端包括网络接口、嵌入式CPU、FPGA、电源管理模块、温度控制模块、若干包含BIST功能芯片的老化板；所述嵌入式CPU与FPGA数据交互，传递in system test pattern及FPGA控制信号、老化板回传信号；所述嵌入式CPU与温度控制模块数据交互、传递用于温度控制信号，所述嵌入式CPU与电源管理模块数据交互、传递电源控制信号。有益效果是不受老化机台产能限制，老化效果好、成本低。

【技术实现步骤摘要】

【】本专利技术涉及芯片测试，具体涉及一种基于in system test pattern(系统级测试程序)的芯片加速老化测试系统。

技术介绍

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技术介绍

1、芯片加速老化测试过程，需要在特定的温度电压条件下，让芯片内不同的模块各自进入预设的测试程序进行加速老化。根据jesd(电子工程设计发展联合协会jointelectron device engineering council)、aecq(汽车电子协会认证automotiveelectronics counsil qualification)业内标准，加速老化测试通常要做到1000小时以上，样品数量在几十颗至上千颗不等，车规级芯片还需要基于老化测试环境进行量产burnin(老化烧机)筛片。

2、传统的测试方案需使用老化测试机台，通常为di系列，mcc系列或者eles系列。对于大部分车规级芯片设计公司，老化测试机台使用费是很大的一笔开销，通常可以占到了芯片测试成本的四分之一。此外对于高端测试机台，老化测试板需要购买机台厂商的license(许可证书)，委托特定的公司设计制作，进本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于in system test pattern的芯片加速老化测试系统，其特征在于：包括sever端和至少一个client端；所述sever端包括PC，所述PC运行群控软件、存储in systemtest pattern，所述群控软件用于将in system test pattern发送至一个或多个client端并监控分析；所述client端包括网络接口、嵌入式CPU、FPGA、电源管理模块、温度控制模块、若干包含BIST功能芯片的老化板；所述网络接口和所述PC通过网络连接通信，与所述嵌入式CPU数据交互；所述嵌入式CPU与FPGA数据交互，传递in system test pa...

【技术特征摘要】

1.一种基于in system test pattern的芯片加速老化测试系统，其特征在于：包括sever端和至少一个client端；所述sever端包括pc，所述pc运行群控软件、存储in systemtest pattern，所述群控软件用于将in system test pattern发送至一个或多个client端并监控分析；所述client端包括网络接口、嵌入式cpu、fpga、电源管理模块、温度控制模块、若干包含bist功能芯片的老化板；所述网络接口和所述pc通过网络连接通信，与所述嵌入式cpu数据交互；所述嵌入式cpu与fpga数据交互，传递in system test pattern及fpga控制信号、老化板回传信号，所述fpga用于将接收到的in system test pattern及fpga控制信号完成并串转换以jtag或ijtag接口输出给老化板、并通过jtag或ijtag接口接收老化板回传信号；所述嵌入式cpu与温度控制模块数据交互、传递用于温度控制信号，所述嵌入式cpu与电源管理模块数据交互、传递电源控制信号，所述温度控制模块用于对老化板提供老化测试环境，所述电源管理模块用于对老化板提供电源。

2.根据权利要求1所述的一种基于in system test pattern的芯片加速老化测试系统，其特征在于：还包括微处理器mcu，所述嵌入式cpu与微处理器mcu数据交互、传递温度及电源控制信号，所述微处理器mcu替代嵌入式cpu与温度控制模块和电源管理模块数据交互。

3.根据权利要求2所述的一种基于in system test pattern的芯片加速老化测试系统，其特征在于：所述in system pattern为8至64位cpu数据格式，包括logic_bist、memory_bist和phy_test，使用logic_bist pattern替代scan pattern实现scan_stuck老化测试功能，对包含bist功能芯片进行scan_stuck、memory_bist和phy_test老化测试。

4.根据权利要求3所述的一种基于in system test pattern的芯片加速老化测试系统，其特征在于：...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕进阁，夏云峰，张严封，
申请(专利权)人：北京辉羲智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：