System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种微推力器诊断测量装置及其运行方法制造方法及图纸_技高网

一种微推力器诊断测量装置及其运行方法制造方法及图纸

技术编号:40774279 阅读:4 留言:0更新日期:2024-03-25 20:21
本发明专利技术涉及微推力器诊断测量技术领域,提供了一种微推力器诊断测量装置及其运行方法,该微推力器诊断测量装置,包括:本体;弱力测量装置,设置在本体上,弱力测量装置包括摆杆模组与位移测量模组,摆杆模组具有用于安装微推力器的安装座;位移测量模组设置在摆杆模组的一侧;诊断装置,设置在本体上,且诊断装置朝向微推力器的尾流出口设置,适于表征微推力器的等离子体羽流信息。本发明专利技术提供的微推力器诊断测量装置,包括弱力测量装置与诊断装置,能够通过弱力测量装置测量微推力器的推力大小,还能够通过诊断装置表征微推力器的等离子体羽流信息,在较短的时间内完成对微推力器各项性能参数的测量与计算,高效智能的对微推力器进行表征。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及微推力器诊断测量,具体涉及一种微推力器诊断测量装置及其运行方法


技术介绍

1、随着空间科学的发展,卫星平台所能适应的任务种类也越为繁多。微小卫星由于其出色的功能性、低廉的成本而在近些年迅猛发展,执行各种功能性任务,典型的有星链、星网、遥感等等。另外,随着卫星技术的发展,高精度的科学卫星也在近些年来得到蓬勃发展。这两种卫星的发展均对卫星平台的动力装置提出了新的需求。为了适应这种需求,研究人员开展了低于100w功率甚至是低于50w功率的电推力器的开发,这些推力器均可被称为微推力器。而微推力器的性能直接影响到卫星的功能性,因此,如何设计一种能够对微推力器的性能进行测试的装置显得尤为重要。


技术实现思路

1、因此,本专利技术要解决的技术问题在于如何设计一种能够对微推力器的性能进行测试的装置,从而提供一种微推力器诊断测量装置及其运行方法。

2、为解决上述技术问题,本专利技术的技术方案如下:

3、一方面,本专利技术提供一种微推力器诊断测量装置,包括:本体;弱力测量装置,设置在所述本体上,所述弱力测量装置包括摆杆模组与位移测量模组,所述摆杆模组具有用于安装微推力器的安装座,微推力器工作时能够带动所述摆杆模组运动;所述位移测量模组设置在所述摆杆模组的一侧,所述位移测量模组能够根据所述摆杆模组的位移量获取微推力器的推力;诊断装置,设置在所述本体上,且所述诊断装置朝向微推力器的尾流出口设置,适于表征微推力器的等离子体羽流信息。

4、进一步地,所述摆杆模组包括摆架支撑台、横摆杆、第一夹具、第二夹具、扭丝、夹持器、摆杆回转电机:所述摆架支撑台设置在所述本体上;所述扭丝的一端通过所述第一夹具与所述横摆杆相连,另一端通过所述第二夹具与所述夹持器相连;所述摆杆回转电机的连接部与所述摆架支撑台相连,所述摆杆回转电机的工作部与所述夹持器相连,以使所述摆杆回转电机能够驱动所述横摆杆运动;所述安装座设置在所述横摆杆的一端,微推力器工作时能够带动所述横摆杆运动。

5、进一步地,所述摆杆模组还包括配重,设置在所述横摆杆上,通过调节所述配重的质量能够使所述横摆杆保持水平状态。

6、进一步地,所述位移测量模组包括三轴位移台、传感器固定架以及位移传感器:所述三轴位移台设置在所述本体上;所述传感器固定架设置在所述三轴位移台上,所述位移传感器设置在所述传感器固定架上,所述三轴位移台能够调节所述位移传感器的位置。

7、进一步地,所述弱力测量装置还包括制动模组,所述制动模组包括垫块、第一升降台以及制动卡槽;所述垫块设置在所述本体上;所述第一升降台设置在所述垫块上;所述制动卡槽位于所述第一升降台背对所述垫块的一面上,所述第一升降台能够在上升至目标位置后使所述横摆杆卡入所述制动卡槽内以限制所述横摆杆运动。

8、进一步地,沿所述横摆杆的长度方向上间隔设置有两个所述制动模组。

9、进一步地,所述弱力测量装置还包括阻尼模组,所述阻尼模组包括第二升降台、转接板、左位移台、右位移台、磁铁固定框、磁铁以及阻尼钟摆;所述第二升降台设置在所述本体上;所述左位移台与所述右位移台均通过转接板安装在所述第二升降台上,所述左位移台与所述右位移台上均安装有磁铁固定框,且两个磁铁固定框平行间隔设置;每个所述磁铁固定框内均安装有磁铁,以在两个磁铁固定框之间形成磁场;所述阻尼钟摆设置在所述横摆杆远离所述安装座的一端,且所述阻尼钟摆至少部分伸入两个所述磁铁固定框之间,所述横摆杆运动时能够带动所受阻尼钟摆切割磁场内的磁感线以限制所述横摆杆的摆动幅度。

10、进一步地,所述诊断装置包括探针安装架以及安装在所述探针安装架上的准直法拉第探针、减速场能量分析仪以及单朗缪尔探针;所述准直法拉第探针用于表征等离子体羽流中的离子电流密度分布;所述减速场能量分析仪用于表征等离子体羽流中的离子的能量分布;所述单朗缪尔探针用于表征等离子体羽流中的等离子体密度、电子能量、空间电位以及等离子体电位分布。

11、进一步地,所述诊断装置还包括探针回转电机、探针转臂、前后电动滑台以及上下电动滑台;所述探针回转电机的连接部与所述本体相连,所述探针回转电机的工作部与所述探针转臂相连;所述前后电动滑台设置在所述探针转臂上;所述上下电动滑台设置在所述前后电动滑台上;所述探针安装架设置在所述上下电动滑台上。

12、进一步地,所述准直法拉第探针包括第一探针底座、屏蔽壳、第一绝缘支撑座、导电支撑柱以及第一收集极;所述第一收集极设置在所述导电支撑柱的端面上;所述导电支撑柱设置有所述第一收集极的一端穿过所述第一探针底座,且所述导电支撑柱通过所述第一绝缘支撑座设置在所述第一探针底座上;所述屏蔽壳包裹在所述导电支撑柱及所述第一绝缘支撑座的外周且将所述第一收集极外漏。

13、进一步地,所述准直法拉第探针还包括准直筒;所述准直筒设置在所述第一探针底座上且罩设在所述屏蔽壳的外周,所述准直筒朝向所述第一收集极的一面上设置有与所述第一收集极相适配的筛选孔,以使等离子体羽流中的部分离子能够通过所述筛选孔被所述第一收集极接收。

14、进一步地,所述减速场能量分析仪包括第二探针底座、第一探针外壳、绝缘支撑壳、第二绝缘支撑座、绝缘陶瓷、筛选栅极以及第二收集极;所述第二收集极通过所述第二绝缘支撑座设置在所述第二探针底座的一面;所述绝缘支撑壳设置在所述第二探针底座上且罩设在所述第二收集极的外周;所述绝缘陶瓷与筛选栅极叠层交替均设置在所述绝缘支撑壳内,且所述绝缘陶瓷与筛选栅极位于所述第二收集极的上游;所述第一探针外壳设置在所述第二探针底座上且罩设在所述绝缘支撑壳的外周,等离子体羽流中的离子能够依次穿过所述第一探针外壳、所述绝缘支撑壳以及所述筛选栅极后到达所述第二收集极。

15、进一步地,所述单朗缪尔探针包括第三探针底座、第二探针外壳、绝缘支撑陶瓷柱以及钨针;所述第二探针外壳设置在所述第三探针底座上;所述绝缘支撑陶瓷柱设置在所述第二探针外壳远离所述第三探针底座的一端,且所述绝缘支撑陶瓷柱至少部分插置在所述第二探针外壳内;所述钨针设置在所述绝缘支撑陶瓷柱远离所述第二探针外壳的一端,且所述钨针贯穿所述绝缘陶瓷柱并至少部分插置在所述第二探针外壳内。

16、另一方面,本专利技术还提供一种微推力器诊断测量装置的运行方法,包括上述任一项所述的微推力器诊断测量装置,还包括如下步骤:将弱力测量装置与诊断装置安装到位;在微推力器点火产生推力后,测量摆杆模组的位移量并根据该位移量获取微推力器的推力;使摆杆模组停止摆动,并维持微推力器工作,通过诊断装置获取微推力器的等离子体羽流信息。

17、进一步地,将弱力测量装置与诊断装置安装到位后,还包括如下步骤:将两个制动模组抬升至同一高度,将横摆杆强制抬起,使横摆杆与位移测量模组的测量法线垂直,记录位移传感器与横摆杆之间的距离,并将此距离作为基准距离;将制动模组的制动解除,使横摆杆回到自由态,通过摆杆回转电机将位移传感器与横摆杆之间的距离调回基准距离,以实现弱力测量装置的基线本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种微推力器诊断测量装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的微推力器诊断测量装置,其特征在于,

3.根据权利要求2所述的微推力器诊断测量装置,其特征在于,

4.根据权利要求2所述的微推力器诊断测量装置,其特征在于,

5.根据权利要求2所述的微推力器诊断测量装置,其特征在于,

6.根据权利要求5所述的微推力器诊断测量装置,其特征在于,

7.根据权利要求5所述的微推力器诊断测量装置,其特征在于,

8.一种微推力器诊断测量装置的运行方法,其特征在于,包括权利要求1至7中任一项所述的微推力器诊断测量装置,还包括如下步骤:

9.根据权利要求8所述的微推力器诊断测量装置的运行方法,其特征在于,

10.根据权利要求8所述的微推力器诊断测量装置的运行方法,其特征在于,

【技术特征摘要】

1.一种微推力器诊断测量装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的微推力器诊断测量装置,其特征在于,

3.根据权利要求2所述的微推力器诊断测量装置,其特征在于,

4.根据权利要求2所述的微推力器诊断测量装置,其特征在于,

5.根据权利要求2所述的微推力器诊断测量装置,其特征在于,

6.根据权利要求5所述的微推力器诊断测量装...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐禄祥卢世旭吴铭杉董烈枭郭宁龙建飞
申请(专利权)人:国科大杭州高等研究院
类型:发明
国别省市:

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